尼得科SV Probe推出两款新型探针卡
尼得科精密检测科技株式会社的子公司尼得科SV Probe，近日正式推出了两款创新产品，以满足市场对高电压、大电流功率半导体检测需求的日益增长。
第一款产品是半导体设备温度测量探针卡“TC(热电偶)探针卡”。该产品专为精确测量半导体在高温环境下的温度而设计，有助于提升功率半导体在电动汽车(EV)和工业设备等领域的可靠性和性能。
第二款产品是可支持高电压的探针卡“加压结构探针卡”。随着电动汽车和工业设备对高电压、大电流功率半导体的需求不断增加，该探针卡能够满足在高温、高电压环境下进行精确、高质量检测的需求，为功率半导体的研发和生产提供有力支持。
尼得科SV Probe一直致力于为客户提供高质量的检测解决方案。此次推出的两款探针卡，不仅丰富了公司的产品线，也进一步提升了公司在功率半导体检测领域的竞争力。未来，尼得科SV Probe将继续关注市场需求，不断创新，为客户提供更加优质的产品和服务。
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