如何推迟XilSEM扫描功能的开始？(二)

上篇文章开发者分享｜延迟开始 SEM 功能的扫描 (一)介绍了如何推迟 SEM IP 的扫描。在 AMD Versal 器件中, SEM 功能的实现发生了很大变化，整个解决方案基于 library 实现。下面我们一起看一下如何推迟 XilSEM 扫描功能的开始。

我们建立一个使能了 XilSEM 功能的设计。观察 CIPS 中 XilSEM 对应的选项:

本次测试以 CRAM 的扫描为例 (NPI 扫描方法相同):

Enable Configuration RAM soft error mitigation 选项下面有两个小选项：Error correction capability，根据设计需求可以选择为 Detect & Correct，或者 Detect Only。本次我们需要关注的是“Scan Strategy” 这个选项，默认是“Immediate Start”， 还有一个是“Deferred Start” 。这个选项是问是否在配置完成后立即开始 CRAM 扫描工作, 还是推迟扫描的开始直至收到指令。

接下来：

是问选择使用硬件第一轮扫描结果作为 ECC golden 校验值，还是使用软件生成配置文件时计算出来的 golden 校验值。这个选项对本次测试无影响，可以任意选择。

高级选项“Enable PMC_PL_GPO for status signals into PL”，是把 XilSEM 的错误状态输出到 PL 里面,可以通过 PL 的 GPIO 或者逻辑监测 XilSEM 的运行情况。该选项对本次测试结果亦无影响，可以按需选择。

综上，我们测试以下两种配置：

1. Immediate Scan

2. Deferred Scan

由于Deferred Start 必须由用户发起请求，XilSEM 的工作才能开始。查看 XilSEM Example Design 的 source 文件发现如下定义：

检测是否完成 CRAM 扫描对应的初始化工作，没有则调用 XSem_CfrApiInitCram 来完成。

后续在插错测试中，调用：

启动扫描工作。

基于 VCK190 开发板, 分别生成 xsa 文件以及对应的 pdi 和 elf 文件。为便于查看 XilSEM 扫描的状态，我们需要用到以下寄存器：

测试结果:

下载执行 Immediate Scan 的 pdi 文件:

看低四位寄存器, OBSERVATION_STATE以及 CRAM_IN_DESIGN 已经被置为1, 说明 CRAM 的扫描工作已经初始化完毕,并且正常进入了监测状态.

接下来下载 Cram Scan 的 elf 文件：

由于 elf 文件里面默认有插错测试，所以

CORRECTABLE_ERR 以及 ECC_CORRECTION_DONE

对应置位，表明有检测到 ECC error，并且已经纠正。

对比测试 Deferred Scan 的效果。先下载 pdi 文件：

下载结束后, 对应寄存器的位全为0。说明 XilSEM 的工作没有开始。

紧接着执行一次 elf 文件：

发现寄存器的返回值和 Immediate Scan 执行 elf 后的状态一样了。说明 XilSEM 的扫描功能已经被启动，并且依次执行了插错测试等。

通过这种设置，我们可以根据需要“无限”延迟 XilSEM 的扫描开始，需要时再启动。

审核编辑：刘清