0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

光学薄膜4——反射膜

jf_64961214 来源:jf_64961214 作者:jf_64961214 2024-01-18 06:38 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

光学薄膜中,反射膜和增透膜几乎同样重要。对于光学仪器中的反射系统来说,一般单纯金属膜的特性大都已经满足常用要求。在某些应用中,要求更高的反射率则可用金属增强镜。而全介质多层反射膜,由于这种反射膜具有最大的反射率和最小的吸收率因而在激光应用和一些高要求的系统中得到了广泛的使用。

金属膜材料的选择原则

1、先考虑使用波段要求

2、反射率要求

3、使用环境

4、制作成本等

5、常用有Al、Ag、Au、Pt

●铝:最常用,紫外、可见、红外

●银:反射率最高,稳定性差

●金:红外常用、稳定

●铂、铑:稳定、坚固

全介质反射镜

理论上只要增加膜系的层数反射率可无限地接近于100%, 实际上由于膜层中的吸收、散射损失,当膜系达到一定层数时继续加镀两层并不能提高其反率,有时甚至由于吸收、散射损失的增加而使反射率下降因此膜系中的吸收和散射损耗限制了介质膜系的最大层数。

下图:57917层反射膜光谱

由上图可以看出最高反射率随层数增加,而反射带宽并不增加。

审核编辑 黄宇

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 反射膜
    +关注

    关注

    0

    文章

    4

    浏览量

    6576
  • 光学薄膜
    +关注

    关注

    0

    文章

    34

    浏览量

    10712
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    液晶聚合物光学薄膜:和成显示助力新一代显示技术跃迁

    ,分享了公司在新型显示材料——液晶聚合物光学薄膜领域的最新研究成果。 和成显示产品研发中心总监杨亚非发表演讲 液晶聚合物光学薄膜是由反应性介晶(Reactive Mesogen, RM)通过光聚合反应形成。它既具有液晶材料的高度各向异性,又具备聚合物的机械性能与环境稳定性
    的头像 发表于 11-24 22:10 85次阅读
    液晶聚合物<b class='flag-5'>光学薄膜</b>:和成显示助力新一代显示技术跃迁

    台阶仪精准测量薄膜工艺中的厚:制备薄膜理想台阶提高厚测量的准确性

    固态薄膜因独特的物理化学性质与功能在诸多领域受重视,其厚度作为关键工艺参数,准确测量对真空镀膜工艺控制意义重大,台阶仪法因其能同时测量厚与表面粗糙度而被广泛应用于航空航天、半导体等领域。费曼仪器
    的头像 发表于 09-05 18:03 556次阅读
    台阶仪精准测量<b class='flag-5'>薄膜</b>工艺中的<b class='flag-5'>膜</b>厚:制备<b class='flag-5'>薄膜</b>理想台阶提高<b class='flag-5'>膜</b>厚测量的准确性

    椭偏仪在OLED中的应用丨多层薄膜纳米结构的各层厚度高精度提取

    在OLED显示器中的多层超薄膜叠加结构的椭偏测量应用中,需要同时提取多层超薄膜堆栈各层薄膜厚度值,而层与层间的厚度也会有强耦合性会导致测
    的头像 发表于 08-22 18:09 719次阅读
    椭偏仪在OLED中的应用丨多层<b class='flag-5'>薄膜</b>纳米结构的各<b class='flag-5'>膜</b>层厚度高精度提取

    椭偏仪薄膜测量原理和方法:光学模型建立和仿真

    椭偏技术是一种非接触式、高精度、多参数等光学测量技术,是薄膜检测的最好手段。本文以椭圆偏振基本原理为基础,重点介绍了光学模型建立和仿真,为椭偏仪薄膜测量及误差修正提供一定的理论基础。费
    的头像 发表于 08-15 18:01 3753次阅读
    椭偏仪<b class='flag-5'>薄膜</b>测量原理和方法:<b class='flag-5'>光学</b>模型建立和仿真

    椭偏仪在半导体薄膜工艺中的应用:厚与折射率的测量原理和校准方法

    半导体测量设备主要用于监测晶圆上厚、线宽、台阶高度、电阻率等工艺参数,实现器件各项参数的准确控制,进而保障器件的整体性能。椭偏仪主要用于薄膜工艺监测,基本原理为利用偏振光在薄膜上、下表面的
    的头像 发表于 07-30 18:03 1013次阅读
    椭偏仪在半导体<b class='flag-5'>薄膜</b>工艺中的应用:<b class='flag-5'>膜</b>厚与折射率的测量原理和校准方法

    半导体薄膜厚度测量丨基于光学反射率的厚度测量技术

    率下降。为此,研究团队开发了一种基于激光反射率的光学传感器,能够在真空环境下实时测量氧化(SiO₂)、氮化(Si₃N₄)和多晶硅(p-Si)的厚度。FlexF
    的头像 发表于 07-22 09:54 1409次阅读
    半导体<b class='flag-5'>薄膜</b>厚度测量丨基于<b class='flag-5'>光学</b><b class='flag-5'>反射</b>率的厚度测量技术

    半导体厚测量丨光谱反射法基于直接相位提取的厚测量技术

    在现代半导体和显示面板制造中,薄膜厚度的精确测量是确保产品质量的关键环节。传统方法如扫描电子显微镜(SEM)虽可靠,但无法用于在线检测;椭圆偏振仪和光谱反射法(SR)虽能无损测量,却受限于计算效率
    的头像 发表于 07-22 09:54 1046次阅读
    半导体<b class='flag-5'>膜</b>厚测量丨光谱<b class='flag-5'>反射</b>法基于直接相位提取的<b class='flag-5'>膜</b>厚测量技术

    基于像散光学轮廓仪与单点厚技术测量透明薄膜厚度

    设计)虽具备高分辨率全场扫描能力,但对厚度小于25μm的薄膜存在信号耦合问题。本研究通过结合FlexFilm单点厚仪的光学干涉技术,开发了一种覆盖15nm至1.2mm
    的头像 发表于 07-22 09:53 524次阅读
    基于像散<b class='flag-5'>光学</b>轮廓仪与单点<b class='flag-5'>膜</b>厚技术测量透明<b class='flag-5'>薄膜</b>厚度

    椭偏仪原理和应用 | 精准测量不同基底光学薄膜TiO₂/SiO₂的光学常数

    椭偏仪作为表征光学薄膜性能的核心工具,在光学薄膜领域具有不可替代的作用。本研究聚焦基底类型(K9玻璃、石英玻璃、单晶硅)对溶胶-凝胶法制备的TiO₂和SiO₂薄膜光学性能的调控机制。Flexfilm
    的头像 发表于 07-22 09:51 1166次阅读
    椭偏仪原理和应用 | 精准测量不同基底<b class='flag-5'>光学薄膜</b>TiO₂/SiO₂的<b class='flag-5'>光学</b>常数

    薄膜厚度高精度测量 | 光学干涉+PPS算法实现PCB/光学镀膜/半导体厚高效测量

    。本文本文基于FlexFilm单点厚仪的光学干涉技术框架,提出一种基于共焦光谱成像与薄膜干涉原理的微型化测量系统,结合相位功率谱(PPS)算法,实现了无需校准的高效
    的头像 发表于 07-21 18:17 1251次阅读
    <b class='flag-5'>薄膜</b>厚度高精度测量 | <b class='flag-5'>光学</b>干涉+PPS算法实现PCB/<b class='flag-5'>光学</b>镀膜/半导体<b class='flag-5'>膜</b>厚高效测量

    Macleod案例:Macleod中的偏振

    正交线偏振的组合,其可以单独计算并且在透射或反射中的取向不变。它们有时被称为偏振的本征模式,这在斜入射时尤为重要。光学薄膜的作用是改变每种组分的振幅和相位。层的性能量化了这些变化。 如果没有参考系
    发表于 06-10 08:46

    OCAD应用:单反射镜扫描光学系统初始结构设计

    图1.带有端部反射镜及保护玻璃的单反射镜扫描系统示意图 单反射镜扫描光学系统往往多设在光学系统端部用以扫描物方视场,故有常称端部
    发表于 05-27 08:44

    贴片电阻的厚薄膜工艺之别

    在电子元件领域,贴片电阻凭借其小型化、高精度等优势,广泛应用于各类电子设备中。其中,厚工艺与薄膜工艺是制造贴片电阻的两种主要技术,二者在多个方面存在显著差异。 从制造工艺来看,厚电阻一般采用丝网
    的头像 发表于 04-07 15:08 924次阅读
    贴片电阻的厚<b class='flag-5'>膜</b>与<b class='flag-5'>薄膜</b>工艺之别

    Techwiz LCD 1D应用:光学薄膜设计与分析

    偏光片是用二向色染料染色聚乙烯醇基薄膜,然后拉伸制成的。然后,TAC(三乙酰纤维素)附着在偏光片的顶部作为保护。PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)作为TAC薄膜的替代品,虽然性价比高,但它存在严重
    发表于 03-14 08:47

    白光干涉仪的厚测量模式原理

    白光干涉仪的厚测量模式原理主要基于光的干涉原理,通过测量反射光波的相位差或干涉条纹的变化来精确计算薄膜的厚度。以下是该原理的详细解释: 一、基本原理 当光线照射到薄膜表面时,部分光线
    的头像 发表于 02-08 14:24 508次阅读
    白光干涉仪的<b class='flag-5'>膜</b>厚测量模式原理