0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

SEM扫描电子显微镜涂层磨损分析

三本精密仪器 2024-01-08 15:12 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

在钻孔过程中钻头会发生磨损,评估和量化磨损的状况至关重要,因为钻头的状态会直接影响加工孔的质量。如何简单、快速的获取钻头的磨损状态?如何精准的定量分析钻头的磨损状态?蔡司三本精密仪器可以通过同时提供数字显微镜Smartzoom5和SEM扫描电子显微镜的解决方案。

图a、b显示的是无涂层的钻头的切削刃口情况,图c、d显示的是金刚石涂层钻头的脱落情况;

wKgaomWboCGAeWq3AAWH0MNn6wM151.png

图a、c使用的是蔡司数字显微镜Smartzoom5,图b、d使用是蔡司EVO扫描电子显微镜。

除此之外量化切削刃的磨损状态也至关重要。

wKgaomSPyCqAWITdAAMJxChdRHI703.png

上图a是使用蔡司扫描电子显微镜(EVO)观测无涂层钻头切削刃的状态,图b是钻20个孔之后的状态。

上图a是DLC涂层的切削刃未使用的状态,图b在是钻2000个孔后的状态。

SEM扫描电子显微镜的五轴电动马达台可以方便的移动样品以便观察样品的各个部位,同时获取高分辨大景深的图像。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电子显微镜
    +关注

    关注

    1

    文章

    126

    浏览量

    10730
  • 电镜
    +关注

    关注

    0

    文章

    105

    浏览量

    9801
  • 扫描电镜
    +关注

    关注

    0

    文章

    124

    浏览量

    9998
  • 透射电镜
    +关注

    关注

    0

    文章

    38

    浏览量

    6149
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    从五大角度分析SEM和TEM的区别

    扫描电镜与透射电镜的区别:扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)是两种常用的电子显微镜,它们在观察样品的表面和内部结构方面各有特点。以下是对这两种
    的头像 发表于 03-04 12:00 475次阅读
    从五大角度<b class='flag-5'>分析</b><b class='flag-5'>SEM</b>和TEM的区别

    一文看懂扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)

    从最初的光学显微镜到如今的电子显微镜,我们观察微观世界的能力不断提升,推动了材料科学、生物学、半导体技术等领域的革命性进展。本文将讲解现代微观分析的两大主力工具——扫描
    的头像 发表于 11-06 12:36 1784次阅读
    一文看懂<b class='flag-5'>扫描</b>电镜(<b class='flag-5'>SEM</b>)和透射电镜(TEM)

    一文搞懂四种电镜测试的区别(SEM、TEM、EDS、EBSD)

    在材料科学与生物实验领域,电子显微镜(EM)作为关键的微结构表征手段,以电子束代替可见光作为照明源,可实现纳米级分辨能力,显著优于光学显微镜的观测极限。扫描
    的头像 发表于 11-05 14:39 1939次阅读
    一文搞懂四种电镜测试的区别(<b class='flag-5'>SEM</b>、TEM、EDS、EBSD)

    简仪PCIe-9604DC模块在扫描电子显微镜中的应用

    扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是电子显微镜的重要类别。它擅长捕捉样品表面的微观形貌,能清晰呈现纳米级别的表面起伏、结构细节,比如
    的头像 发表于 10-24 14:30 1041次阅读
    简仪PCIe-9604DC模块在<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>中的应用

    FIB-SEM双束系统:微纳尺度的一体化解决方案

    的有机融合,已成为材料科学及相关领域不可或缺的分析平台。双束协同:原理与优势FIB-SEM系统由两大核心技术组成:聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜
    的头像 发表于 10-14 12:11 730次阅读
    FIB-<b class='flag-5'>SEM</b>双束系统:微纳尺度的一体化解决方案

    如何选择合适的显微镜(光学显微镜/透射电镜/扫描电子显微镜

    合适的显微镜成为许多科研工作者关心的问题。透射电子显微镜当研究需要观察纳米尺度(通常小于100纳米)的结构细节时,透射电子显微镜(TEM)无疑是首选工具。这种显微
    的头像 发表于 09-28 23:29 1448次阅读
    如何选择合适的<b class='flag-5'>显微镜</b>(光学<b class='flag-5'>显微镜</b>/透射电镜/<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>)

    共聚焦显微镜电子显微镜有什么区别?

    在现代科研与高端制作领域,微观探索依赖高分辨率成像技术,共聚焦显微镜电子显微镜是其中的核心代表。在微观检测中,二者均突破传统光学显微镜局限,但在原理、性能及应用场景上差异显著,适配不同领域的需求
    的头像 发表于 09-18 18:07 1442次阅读
    共聚焦<b class='flag-5'>显微镜</b>和<b class='flag-5'>电子显微镜</b>有什么区别?

    扫描透射电子显微镜的三种模式

    很多人以为穿透式电子显微镜TEM就是倍率比较高的扫描电子显微镜SEM,但其实TEM拥有许多强大的应用,是科技业不可或缺的研发检测工具。
    的头像 发表于 08-26 09:37 2510次阅读

    压电物镜定位器让冷冻电子显微镜中的原子清晰可见

    项技术的核心挑战之一,便是在原子冷冻的状态下,也能实现极高的成像精度。 一、冷冻电子显微镜:窥探原子结构的眼睛 冷冻电子显微镜(Cryo-electron microscopy,简称cryo-EM)是一种利用电子显微镜观察生物大
    的头像 发表于 08-22 08:55 1487次阅读
    压电物镜定位器让冷冻<b class='flag-5'>电子显微镜</b>中的原子清晰可见

    超声波扫描电子显微镜介绍

    在半导体产业的精密制造与检测体系中,超声波扫描电子显微镜(SAT)设备作为一种核心的无损检测工具,正发挥着日益关键的作用。它利用超声波的特性,能够对半导体材料、晶圆、芯片以及封装器件等进行高分辨率
    的头像 发表于 08-19 16:34 1648次阅读

    电子显微镜配哪样的UPS不间断电源比较好 优比施UPS电源为您解答

    在科研实验室和高端制造领域,电子显微镜是不可或缺的重要设备。这类精密仪器对电力供应的稳定性和纯净度要求极高,任何电压波动或电力中断都可能导致设备损坏或数据丢失。因此,为电子显微镜配置合适的UPS
    的头像 发表于 08-14 09:00 936次阅读
    <b class='flag-5'>电子显微镜</b>配哪样的UPS不间断电源比较好 优比施UPS电源为您解答

    扫描电镜与扫描电子显微镜:解析二者的关系与区别

    在科研、工业检测等领域,“扫描电镜”和“扫描电子显微镜”这两个术语经常被提及。对于刚接触相关领域的人来说,很容易对它们产生困惑,不清楚二者之间究竟存在怎样的联系和区别。其实,从本质上来说,二者有着
    的头像 发表于 07-25 10:42 1398次阅读
    <b class='flag-5'>扫描</b>电镜与<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>:解析二者的关系与区别

    FIB-SEM的常用分析方法

    聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)是一种集多种先进技术于一体的微观分析仪器,其工作原理基于离子束与电子束的协同作用。扫描
    的头像 发表于 07-17 16:07 1100次阅读
    FIB-<b class='flag-5'>SEM</b>的常用<b class='flag-5'>分析</b>方法

    透射电子显微镜(TEM)的工作原理

    什么是透射电子显微镜?透射电子显微镜(TEM)的原理根基在于电子与物质的相互作用。电子枪发射出的电子束,经由电磁透镜系统聚焦与加速,达到高能
    的头像 发表于 07-07 15:55 2455次阅读
    透射<b class='flag-5'>电子显微镜</b>(TEM)的工作原理

    扫描电镜(SEM)的工作原理和主要成像模式

    扫描电镜的概念和技术起源于20世纪30年代,最早是由德国物理学家Max Knoll和Ernst Ruska首次提出了扫描电子显微镜的概念,经过科学家们不断研究与技术革新,第一台实用化的商品扫描
    的头像 发表于 06-09 14:02 1.5w次阅读
    <b class='flag-5'>扫描</b>电镜(<b class='flag-5'>SEM</b>)的工作原理和主要成像模式