外径千分尺校对用量杆的尺寸及变动量在SJ5100系列测长机上采用4 等量块以比较法进行检定。

数显千分尺校对用量杆的尺寸及变动量在SJ5100系列测长机上采用3等量块以比较法进行检定。也可用同等准确度的其他仪器检定。
对于平测量面的校对用量杆应采用球面测帽在图13 所示的5 点上进行检定,各点尺寸偏差均不应超过表4 或表5 中尺寸偏差的规定。

检定校对用量杆尺寸及变动量的示意图最大尺寸与最小尺寸之差不应超过表4 或表5 中变动量的规定。


对于球测量面的校对量杆,应用直径为8 mm 的平面测帽进行检定。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
测量
+关注
关注
10文章
5708浏览量
116962 -
仪器
+关注
关注
1文章
4284浏览量
53703
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
为什么用电涡流传感器测量大型转子振动时,通常需要安装两个探头且呈90°夹角(即XY配置),而不是只装一
为什么用电涡流传感器测量大型转子振动时,通常需要安装两个探头且呈90°夹角(即XY配置),而不是只装一个?
三坐标测量仪:高精度测量内径检测手段及其实际运用
在工业制造领域中,内径尺寸的精准度直接关系到产品的装配性能、运行稳定性乃至使用寿命。传统检测方法如卡尺、内径千分尺等难以满足高精度、复杂结构件的需求。三坐标测量仪技术的出现,打破了这一困境,成为当前
H5021B+H5442L+H5227Y支持数转模无频闪调光的48V降压36V10A高效调光调色电源芯片方案 百分级VS千分级VS万分级调光
原理,并以H5021B、H5442L、H5227Y三款芯片为例,详细介绍它们在不同场景中的应用案例。
一、调光深度的核心差异
“百分级、千分级、万分级调光,本质是调光精度的阶梯式提升。百分
发表于 09-12 16:25
光子精密3D工业相机对一体机壳体测量的形变规避与效率突破
在 3C 消费电子行业,一体机壳体作为高价值、易变形的核心结构件,其平面度、轮廓度、段差等几何量的测量精度直接决定产品组装良率,而传统接触式测量(如卡尺、千分尺)易因物理施压导致壳体形变,人工离线
南方测绘亮相2025工程测量大会
在人工智能快速发展的背景下,为进一步交流和探索工程测量新理论、新技术、新装备和新方法,促进行业高质量发展,中国测绘学会工程测量分会举办了以“拥抱人工智能,赋能工程测量创新发展”为主题的2025工程
中海达出席2025工程测量大会
8月20日,中国测绘学会工程测量分会2025工程测量大会在沈阳市于洪碧桂园凤凰酒店顺利举行。中海达携最新研发的新一代工程测量系统V6及全能移动测量系统L3 Pro等全系列国产化工程
信宜宽厚检测为何多用光电测宽激光测厚的组合式测量方法?
原理综合考虑下来,是更适合生产线使用的,亦可以说是性价比更高的选择。
3、集合多种优势
非接触式测量,避免了传统接触式测量(如卡尺、千分尺)对工件的划伤、挤压变形问题。
可对高温低温常温等各种类型的板材
发表于 08-07 14:44
孔径大小怎么测量?三坐标测量机(CMM)的高效应用指南
测量孔径大小是一项需要精密仪器和规范操作的技术工作。根据被测对象的尺寸范围、精度要求和应用场景,可采用多种专业测量方法。游标卡尺、内径千分表等传统工具虽能解决基础测量需求,但在面对深孔
支持PWM调光 的48V降压36V/1050mA高效调光电源方案( 百分级 vs 千分级 vs 万分级调光)
灯光调光的丝滑体验,源于电流控制精度的跃升。FP7122(百分级)满足基础需求,FP7132(千分级)实现专业控光,FP7128(万分级)缔造极致暗光。选对芯片,让光精准匹配场景
华盛昌DT-1580超声波测厚仪的优势
传统卡尺、千分尺等测厚设备,面对密闭容器或带涂层工件时往往束手无策;早期超声波设备又常受制于操作复杂、精度不足或对工况要求苛刻。此外高端测厚设备长期依赖进口,采购维护成本居高不下,成为众多企业提质增效的隐形壁垒。
乐山不同类型的线缆外径测量仪适用于哪些场景?
”的线材(如医用导丝)。
接触式测径仪(千分尺/卡尺):低速抽检+低成本场景
测量原理:通过机械测头与线缆表面接触,读取刻度或电子显示值,依赖人工操作。
优势与缺点:成本低(数百至数千元),操作简单
发表于 07-11 15:08
Mi-Wave千分尺型校准移相器
Mi-Wave千分尺型校准移相器在微波及毫米波系统中,相位控制的精确性直接决定了雷达、通信和测试测量等关键应用的性能。Mi-Wave推出的千分尺型校准移相器系列,凭借其卓越的精度和可靠性,成为业界
发表于 05-23 09:58
0.04%F·S 精度,让镜片厚度测量更精准
随着光学技术的飞速发展,镜片作为光学系统的核心元件,其制造精度直接影响到光学系统的性能。在镜片生产过程中,厚度是一个关键参数,需进行高精度、高效率的测量。传统测量方法如千分尺、游标卡尺等,是接触式
如何用测长机测量大型千分尺的校对杆?
评论