如何用测长机测量大型千分尺的校对杆?
外径千分尺校对用量杆的尺寸及变动量在SJ5100系列测长机上采用4 等量块以比较法进行检定。
数显千分尺校对用量杆的尺寸及变动量在SJ5100系列测长机上采用3等量块以比较法进行检定。也可用同等准确度的其他仪器检定。
对于平测量面的校对用量杆应采用球面测帽在图13 所示的5 点上进行检定，各点尺寸偏差均不应超过表4 或表5 中尺寸偏差的规定。
检定校对用量杆尺寸及变动量的示意图最大尺寸与最小尺寸之差不应超过表4 或表5 中变动量的规定。
对于球测量面的校对量杆，应用直径为8 mm 的平面测帽进行检定。
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。
举报投诉
-
测量
+关注
关注
10文章
5518浏览量
116143 -
仪器
+关注
关注
1文章
4165浏览量
53172
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
三坐标测量仪：高精度测量内径检测手段及其实际运用
在工业制造领域中，内径尺寸的精准度直接关系到产品的装配性能、运行稳定性乃至使用寿命。传统检测方法如卡尺、内径千分尺等难以满足高精度、复杂结构件的需求。三坐标测量仪技术的出现，打破了这一困境，成为当前
H5021B+H5442L+H5227Y支持数转模无频闪调光的48V降压36V10A高效调光调色电源芯片方案 百分级VS千分级VS万分级调光
原理，并以H5021B、H5442L、H5227Y三款芯片为例，详细介绍它们在不同场景中的应用案例。
一、调光深度的核心差异
“百分级、千分级、万分级调光，本质是调光精度的阶梯式提升。百分
发表于 09-12 16:25
光子精密3D工业相机对一体机壳体测量的形变规避与效率突破
在 3C 消费电子行业，一体机壳体作为高价值、易变形的核心结构件，其平面度、轮廓度、段差等几何量的测量精度直接决定产品组装良率，而传统接触式测量（如卡尺、千分尺）易因物理施压导致壳体形变，人工离线
支持PWM调光 的48V降压36V/1050mA高效调光电源方案（ 百分级 vs 千分级 vs 万分级调光）
灯光调光的丝滑体验，源于电流控制精度的跃升。FP7122（百分级）满足基础需求，FP7132（千分级）实现专业控光，FP7128（万分级）缔造极致暗光。选对芯片，让光精准匹配场景
华盛昌DT-1580超声波测厚仪的优势
传统卡尺、千分尺等测厚设备，面对密闭容器或带涂层工件时往往束手无策；早期超声波设备又常受制于操作复杂、精度不足或对工况要求苛刻。此外高端测厚设备长期依赖进口，采购维护成本居高不下，成为众多企业提质增效的隐形壁垒。
Mi-Wave千分尺型校准移相器
Mi-Wave千分尺型校准移相器在微波及毫米波系统中，相位控制的精确性直接决定了雷达、通信和测试测量等关键应用的性能。Mi-Wave推出的千分尺型校准移相器系列，凭借其卓越的精度和可靠性，成为业界
发表于 05-23 09:58
0.04%F·S 精度，让镜片厚度测量更精准
随着光学技术的飞速发展，镜片作为光学系统的核心元件，其制造精度直接影响到光学系统的性能。在镜片生产过程中，厚度是一个关键参数，需进行高精度、高效率的测量。传统测量方法如千分尺、游标卡尺等，是接触式
告别传统测量：三维扫描仪测量工件尺寸
依赖于卡尺、千分尺、三坐标测量仪（CMM）等工具。这些方法虽然在一定程度上能够满足测量需求，但在面对复杂形状、大型工件或高精度要求时，往往存在以下问题： 效率低下：传统
Disco主轴动平衡的详细验收步骤
Disco主轴动平衡的详细验收步骤主要包括以下几个阶段 ： 准备阶段 将Disco主轴放置在水平且稳定的工作台上，确保测试环境的准确性和安全性1。 使用精确的工具，如千分尺和三坐标测量
千分尺诞生和发展演化史
早在18世纪，千分尺在机床工业的发展中登上了制造业的舞台。至今千分尺依然是车间最通用的精密测量工具之一。今天，小编就为您简要介绍千分尺诞生和发展演化史。 用螺纹
电⼦尺常⻅故障现象及处理⽅法
电⼦尺常⻅故障现象及处理⽅法
电⼦尺实际上就是⼀个滑动变阻器，是作为分压器使⽤，以相对电压来显⽰所测量位置的实际位置。因此，就对这个装置（电⼦尺
ADS1278测量精度误差很大是哪里出了问题？
0.00050-0.00057V跳动
当通道1的AINP 和AINN接REFP和REFN即测量基准电压，安捷伦表都为2.50132，ADS1278测量值为2.48422。精度误差有千分之7大。
当通道1
发表于 12-24 07:09
工商网监
评论