芯片测试方案之电源芯片片输入阈值的测试方法

在芯片众多特殊的引脚中，EN引脚无疑是最为重要的一个。EN引脚又称使能引脚(Enable pins)，不同的芯片对其称呼也有所不同，如EA、RUN等，它的作用极为重要，因为只有EN引脚激活导通时，芯片才能正常的输出。在芯片测试中EN端的输入阈值电压也是非常重要的参数。

如何测试EN端输入阈值?

和启动电压的测试有些类似，EN端的输入阈值测试也是需要一台电源和一台万用表，在测试时我们需要保证VIN端输入启动电压，然后EN端的输入电压从0缓慢递增，直至VOUT的万用表中测得正常的输出电压，此时EN端输入的电压即为输入阈值电压。因为EN端的输入电压缓慢递增所以直到EN端的电压值达到输入阈值的电压时，芯片才会正常输出，所以此时VOUT端测试的电压值会突然跳变为额定的输出电压。

整个测试过程中我们需要在连接完硬件仪器后，通过缓慢的调整电源的电压，同时调整是需要注意万用表的输出电压，在输出电压跳变的瞬间，记录电源中EN段的输入电压，整个测试过程大概需要5-10分钟。

芯片测试系统

芯片测试系统如何对芯片的输入阈值进行测试?

相比于手动测试芯片测试系统的自动化测试也是需要提前将硬件仪器连接完成，不过后续的步骤和手动测试有着本质的区别，芯片测试系统除了需要测试使用的硬件仪器之外，还需要一台边缘计算设备和一台计算机。用户需要让仪器、边缘计算设备以及计算机处于同一网络内即可使用测试系统程控仪器进行全自动测试。

相比于手动测试需要不停的调整EN端的输入电压和实时观测电压表的数据，芯片测试系统可以控制电压自动依次增加EN端的输入电压，同时检测电压表读数，只要电压表读数达到要求即可直接将电压数据记录采集到云端服务器，还可以直接进行数据运算和分析，整个测试过程只需1-2分钟，尤其适用于大批量产线测试以及高精度研发测试等场景。

综上我们可以直观地了解到芯片测试系统相对手动测试而言在测试效率上可以提升5-10倍，同时免去人工度数计算和记录数据，可以有效避免人工误差，针对大批量不同规格的芯片测试这些优势尤为明显，这些优势可以极大的为企业减少时间、人力成本，因此越来越多的企业、研究所选择芯片自动化智能测试系统来提升企业的核心竞争力，从而实现真正的自动化、智能化测试。

审核编辑：汤梓红