Cadence IC的两种参数扫描方法

参数扫描工具在电路的设计和验证阶段非常有用，通过扫描某个变量的一组值可以轻松找到此参数的最佳值，减少手动优化的次数。以下将介绍在Cadence IC中两种参数扫描的方法。

搭建实例电路，本例子是一个T形衰减结构，通过扫描查看三个电阻的值如何影响S21和S11。

R1与R2范围为20Ω到30Ω，步进为1Ω；R3范围为30Ω到40Ω，步进为1Ω。

1使用ADE L中的Parametric Analysis

搭建好电路后点击Launch > ADE L，设置S参数仿真如下。

点击Tools > Parametric Analysis，设置参数扫描

点击绿色按钮开始仿真，仿真结束后会弹出结果框。

2使用ADE Explorer

前一种方法一次只扫描一个变量，对于简单的电路来讲这样速度很慢，如果能设置一次扫描多个变量这样会节省很多时间，但是Parametric Analysis工具并未提供这样的选项。好在另一个工具ADE Explorer可设置，因此现在选择用此工具来做参数扫描。

搭建好电路后点击Launch > ADE Explorer，打开ADE Explorer。

由于之前保存过仿真设置，现在只需要点击菜单栏的Session > Load ADE L State即可将之前的仿真设置导入，同样需要设置R1-R3的范围。设置好后如下所示

先不要点仿真运行按钮，现在设置同时运行的任务数。

点击菜单栏Setup > Job Setup，弹出对话框，在Max.Job输入同时运行的任务数即可。

请注意太多的任务数会让电脑卡死，我的经验是根据电脑核心数来设置，核心数对应任务数，若是虚拟机内存也不影响设置太小。

点击右侧运行按钮你会发现这样参数扫描的速度比方法一快很多。

实测，方法二总共1331个点，扫描完只需要80s（虚拟机环境10核10G内存）.