能一口气从-70℃飙到150℃的SSD固态硬盘高低温老化试验设备长啥样？-电子发烧友网

能一口气从【-70℃飙到150℃】的SSD固态硬盘高低温老化试验箱长啥样？
一款SSD在正式进入市场前必然会经过多种测试，其中就有老化测试和高温测试，这两项测试对芯片的质量和可靠性要求非常严苛，毕竟事关数据存储的，测试到位才能保证产品以上等的性能进入市场。
但我们参观了那么多固态生产工厂后，发现很多工厂这两个测试环节的现状是这样的！
-老化测试和高温测试单独分开进行，测试总耗时较长；
-测试环境用设备模拟创造；
-一些严苛的条件，例如工控产品测试需要的严苛温度、或者处于一定湿度和压力下的测试环境，当前多数工厂的设备都无法满足；
总的来说问题就是产品测试时间长，测试环境不够**，从而导致交货期延长和产品返修率增加。那有没有什么办法可以一口气解决这些问题呢？
1、设备性能
在定制化的SSD专用SSD固态硬盘高低温老化试验箱内，老化测试、恒温测试或者高低温交叉测试可以同时进行；
测试温度标准可达到工业级别，高温度达到150℃，低达到负70℃，温度调节程序自动化；
温度变化过程中，还会形成水汽，可创造严苛的测试环境条件。
2、强大作用
被测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，会加速老化寿命试验，整体缩短产品寿命试验时间；
可检测产品电子元器件的封装的密封性和耐压性，从而判断产品的环境适应力和工作压力适应力！
定制化的内箱构造，保证产品在试验过程中温度湿度压力是均衡的！
关键是，整个设备电路整合设计，操作简单，维护方便。

很多固态产品的生产企业对于测试这一个板块非常重视也非常头疼，一方面是因为测试时间长，另一方面是测试工作是产品良率和返修率的保证。这个时候一台高效且靠谱的测试设备就显得尤为重要了！

LabCompanion宏展仪器高性能SSD固态硬盘高低温老化试验验证解决方案

随着科学技术的不断进步，SSD固态硬盘技术也在日益更新，SSD固态硬盘行业的可靠性试验的需求日益提高。针对SSD固态硬盘、半导体及电子元器件的高发热、高负载的试验需求，LabCompanion宏展仪器开发了SSD高性能高低温（湿热）试验箱，既可以实现更快的温度升降速率，又能对应容许*大发热负荷高至4500W的高负载发热可靠性试验。

主要特征：

可实现更高性能

与普通温湿箱相比，拥有更快的温度升降速率：升温速率：7℃/min，降温速率：3~5℃/min。湿度范围：20%～98RH。

对应高发热高负载试验

容许大发热负荷高至4500W，适合SSD固态硬盘、半导体、车载零件相关电子元器件的高负载发热可靠性试验。

方便改造，功能拓展性强

结构上更容易进行改造，如上方可进行上下叠放改造；左右侧可进行并柜改造。

更容易进行提高性能的相关改造。

平衡调温调湿控制系统（BTHC），双PID及水蒸气分压控制，技术成熟、精度极高。

产品绿色环保、省耗节能。

通过接口可进行网络控制及数据采集（RS-485/GPIB/WebLan/RS-232C）。

标配左右电缆孔（50mm），便于试样通电连线、进行多项测量。

控制器采用彩色LCD触摸屏，操作简单方便

通过控制器可选择定值和程序两种控制适应不同应用。

程序控制可设置100个模式，每个模式设定99步骤。重复循环*大999次。

多种语言轻松切换（简体中文、英语）、试验数据U盘存储。

可追加多种选购件，满足客户多样需求。

可追加泄压阀、烟雾传感器、急停开关、报警输出端子、三色灯等**选购件。

标配风冷规格，方便产品的移动与安装。

产品名称	型号	温度范围	湿度控制	湿度范围	内容积	内尺寸(W×H×Dmm)	外尺寸（WxHxDmm）
SSD固态硬盘高低温老化试验箱	PL-408-SSD	－40℃～＋180℃	YES	20%～98%rh	400L	600×850×800	800×1753×2167
SSD固态硬盘高低温老化试验箱	PL-1000-SSD	－40℃～＋180℃	YES	20%～98%rh	980L	1000×1000×1000	1200×1903×2400
SSD固态硬盘高低温老化试验箱	PS-408-SSD	－70℃～＋180℃	YES	20%～98%rh	400L	600×850×800	800×1753×2167
SSD固态硬盘高低温老化试验箱	PS-1000-SSD	－70℃～＋180℃	YES	20%～98%rh	980L	1000×1000×1000	1200×1903×2400