噪声抑制片的屏蔽性能测试

随着电子产品的高性能、高功能化，电子产品内部的线路也随之不断地高密度化，所用信号也逐步向高频率化发展，电磁干扰噪声的发生率也随之越来越高，为抑制电磁干扰噪声问题，使电子产品不产生电磁干扰噪声的就显得尤为的必要。

噪声抑制解决的最直接办法就是将噪声抑制片粘贴在噪声源处，即可抑制噪声的扩散,粘贴于电缆、电路上，可以有效抑制传导噪声。

噪声抑制片虽然极轻、极薄，但是却具有高度电磁干扰噪声抑制效果。同时具有灵活实用性，能用于边角位置。非常适合应用于日益轻薄化、微型化的电子产品。而且，构成本产品的材料全部为非磁性体，不必限定使用部位。

噪声抑制片的测试主要是适应IEC62333-2的标准，标准中对噪声抑制片的测试主要是通过同侧去耦比、异侧去耦比、传输衰减比、辐射抑制比和线路去耦比这五项测试数据来具体体现。

我们公司提供的噪声抑制测试系统，可以看到噪声抑制片的同侧去耦比、异侧去耦比和传输衰减比，通过观测这三项指标的比值就可以轻松判断噪声抑制片的屏蔽效果的好坏了。

深圳市华瑞高电子技术有限公司，是一家专业致力于为客户提供优质且性价比高的电磁兼容抗扰度校准装置，屏蔽效能测试系统和谐波闪烁分析测试系统的研发生产性企业。