工程师笔记|DAC，COMP，HRTIM Fault 功能的使用

关键词：HRTIM，Fault，DAC，COMP

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1.引言

2.信号路径

3.STM32CubeMX 配置

4.代码实现

5.小结

1.引言

这个例程是使用 STM32G474 NUCLEO 进行测试的，集合了 DAC， COMP， HRTIM 的功能模块。

2.信号路径

PA1 的输入信号同 DAC 的输出信号进入 COMP 比较器进行比较，经 COMP 比较后的输出信号连接到 HRTIM 的 Fault4 信号，来控制 HRTIM 的输出信号的停止。

当 PA1 > DAC value,比较器输出高“1”， 这个信号为 HRTIM 的 fault4 信号，当 HRTIM 配置为 fault4 高有效，则当这个高电平出现时，HRTIM 输出波形停止，具体输出的电平可以通过寄存器进行配置。

3.STM32CubeMX配置

对于上图 Table 11 的 RAMECC 控制单元的地址总结成如下表格，具体的参考RM0433 的第二章节 Memory and bus architecture 中的 table 8.

首先配置 DAC 模块，DAC out1 选择 connected to on chip-peripherals, 这里为了测试方便，选择了“Connected to external pin and to on chip-peripherals”，DAC 输出信号连接到 IC内部，同时输出到 PA4 GPIO 口。这样就客户测量 DAC 的具体输出值。

而在 IC 内部，DAC 连接到了 COMP 的负端。COMP 的配置如下：PA1：COPM 的正向输入端。DAC1 OUT1 在 IC 内部连接到了 COMP 的负向输入端。具体请看下面两种图：

最后配置 HRTIM 模块：

使能 TimerA 的 TA1 输出。

配置 TIMA 周期值为 0XCFFF，向上计数模式，持续计数方式,Fault4 作 fault 源。

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THE END

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原文标题：工程师笔记|DAC，COMP，HRTIM Fault 功能的使用

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