NAND闪存的应用中的磨损均衡

在NAND闪存的应用中，程序/擦除周期存在一个限制，称为“P/E周期”。在NAND闪存中，当每个块的P/E周期达到最大值时，这些块将变得不可工作，需要一个备用块来替换它。当这些备用块用完时，此NAND闪存将无法再使用。因此，如果只写入和擦除某些块，这些特定块的P/E周期将被迅速消耗，备用块将很快耗尽，导致NAND闪存提前失效。

有三种类型的磨损均衡：动态、静态和全局。动态磨损均衡仅处理可用空间，并确保写入行为仅发生在同一空间中擦除计数较低的块中。静态磨损均衡考虑了整个闪存芯片，包括已写入的空白区域和块。此技术将数据从擦除次数较少的块移动到其他块，以便可以将写入时间较短的块留给将来使用。最后，还有全局磨损均衡，其中与静态磨损均衡的最大区别在于其范围扩展到整个设备，而静态磨损均衡仅适用于单个闪存芯片。这可确保写入行为发生在整个设备中写入频率较低的块中。

NAND 闪存控制器的供应商在开发时必须考虑 NAND 的此功能。因此，磨损均衡旨在允许NAND闪存在整个模块使用过程中均匀分布，以便所有模块的市盈率在相同数据下上升。该技术允许在产品达到其生命周期之前彻底使用所有模块，从而延长了NAND闪存的使用寿命。因此，磨损均衡技术可以提高NAND闪存产品的可靠性和耐用性。

审核编辑：郭婷