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NAND闪存的应用中的磨损均衡

星星科技指导员 来源:嵌入式计算设计 作者:Gibson Ming-Dar 2022-10-24 14:30 次阅读
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在NAND闪存的应用中,程序/擦除周期存在一个限制,称为“P/E周期”。在NAND闪存中,当每个块的P/E周期达到最大值时,这些块将变得不可工作,需要一个备用块来替换它。当这些备用块用完时,此NAND闪存将无法再使用。因此,如果只写入和擦除某些块,这些特定块的P/E周期将被迅速消耗,备用块将很快耗尽,导致NAND闪存提前失效。

有三种类型的磨损均衡:动态、静态和全局。动态磨损均衡仅处理可用空间,并确保写入行为仅发生在同一空间中擦除计数较低的块中。静态磨损均衡考虑了整个闪存芯片,包括已写入的空白区域和块。此技术将数据从擦除次数较少的块移动到其他块,以便可以将写入时间较短的块留给将来使用。最后,还有全局磨损均衡,其中与静态磨损均衡的最大区别在于其范围扩展到整个设备,而静态磨损均衡仅适用于单个闪存芯片。这可确保写入行为发生在整个设备中写入频率较低的块中。

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NAND 闪存控制器的供应商在开发时必须考虑 NAND 的此功能。因此,磨损均衡旨在允许NAND闪存在整个模块使用过程中均匀分布,以便所有模块的市盈率在相同数据下上升。该技术允许在产品达到其生命周期之前彻底使用所有模块,从而延长了NAND闪存的使用寿命。因此,磨损均衡技术可以提高NAND闪存产品的可靠性和耐用性。

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审核编辑:郭婷

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