SUMMIT200半自动晶圆探针系统可缩短测量时间

解决电路表征问题，以加快上市时间

半导体测试工程师可以花费大量时间来集成和排除系统故障。整合的复杂性可能成为以及时，有利可图的方式将产品推向市场的巨大障碍。在某些情况下，必须配置和集成来自多个供应商的硬件和软件，以确保不同位置之间的数据关联和测量准确性。幸运的是，我们的MeasureOne程序简化了定义，集成和验证系统以进行电路表征的任务。

MeasureOne™是FormFactor的解决方案，基于与同类最佳合作伙伴的合作，提供具有经过验证的性能的测试和测量解决方案。

半导体测试工程师可以花费大量时间来集成和排除系统故障。整合的复杂性可能成为以及时，有利可图的方式将产品推向市场的巨大障碍。在某些情况下，必须配置和集成来自多个供应商的硬件和软件，以确保不同位置之间的数据关联和测量准确性。幸运的是，我们的MeasureOne程序简化了定义，集成和验证系统以进行电路表征的任务。

在诸如放大器，混频器和滤波器之类的电路上执行晶片级测量的测试系统的规范可能是具有挑战性的，尤其是当单个晶片可以包括多种电路类型时。验证这些结构所需的测试范围广泛且复杂，包括S参数，DC参数，噪声系数，增益压缩和互调失真。测量和校准精度至关重要，尤其是在多个位置之间必须关联测试的情况下。

要配置系统以应对这些挑战，您必须指定和提供来自多个供应商的仪器，晶圆探针台，RF和DC探针和软件，然后在第一台设备进行测试之前在现场集成并证明这些。可能需要数周甚至数月才能执行第一次测量，并确信不同位置之间存在数据关联和测量精度。

与我们的MeasureOne合作伙伴一起是德科技，FormFactor可以通过提供完全集成的晶圆级测量解决方案直接应对这些挑战，并提供有保证的配置，安装和支持。我们的晶圆级探针台，微波和直流偏置探头以及校准工具与Keysight的测试仪器和测量与分析软件相结合，可以对所有结构进行全面测量。

例如，晶圆级测量解决方案可能采用我们全新的SUMMIT200半自动晶圆探针系统，适用于Infinity探针®，最大可达200mm的晶圆，WinCal XE™校准软件和阻抗标准衬底用于校准，以及Keysight PNA或PNA-X微波网络分析仪，Keysight N6705B直流电源分析仪和Keysight WaferPro Express测量软件平台。或者，或许不同的FormFactor探针系统或探针样式更适合您的需求，或者不同的是德科技仪器 – 两家公司都提供各种高性能，兼容的产品，以满足各种各样的要求。

为了确保所有这些元素协同工作以满足您的应用需求，我们与Keysight一起将在交付之前预先验证系统配置。我们的解决方案专家将安装和验证系统S参数和DC参数性能，Keysight解决方案专家将验证可选的应用功能。校准对于确保准确和可重复的测试至关重要，而这在晶圆探测环境中尤其具有挑战性。

凭借FormFactor和是德科技提供的有保证的晶圆级测量解决方案，您可以获得准确且可重复的测试，并缩短首次测量时间。

审核编辑：符乾江