2022年4月21日,中国 北京讯-- 全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达(NASDAQ:TER)今天宣布,向中国领先的微控制器(MCU)和安全类芯片制造商国民技术股份有限公司交付第7000台行业领先J750半导体测试平台。
泰瑞达J750测试机在中国和日本制造,广泛部署于全球领先的半导体芯片制造商,提供包括晶圆测试和用于微控制器、无线设备和图像传感器等的终测方案。J750测试机在提高测试质量、缩短上市时间和降低测试成本方面均达到行业领先水平,实现了更高的吞吐量和更多同测数,缩短了单个工位测试时间并优化了并行测试效率。
国民技术高级副总裁阚玉伦表示:“国民技术成为中国MCU和移动安全领域的领军企业,其中一个重要原因在于我们始终将质量视为第一要务。为确保我们向客户提供最高质量的产品,泰瑞达的J750测试机发挥着不可或缺的作用。凭借顶级性能,J750帮助我们确保最终产品按时按规格发货。”
泰瑞达副总裁 Regan Mills 表示:“泰瑞达进入中国市场已有20多年,我们很荣幸能够成为国民技术信赖的合作伙伴。我们很高兴能与国民技术这样一家极具创新力和影响力的公司分享这一里程碑,他们一直以高品质和可靠性而著称。”
可靠平台和广受好评的软件
泰瑞达的J750系列是用于汽车和消费应用的领先MCU器件测试解决方案,在图像传感器测试领域也处于世界领先地位。汽车半导体供应商依赖J750提供的可重复且可靠的器件测试结果,且利用泰瑞达的广受好评的IG-XL™软件平台,帮助验证对汽车市场至关重要的测试程序 。J750测试平台是半导体制造商追求零缺陷和多工位测试的黄金标准。
此外,IG-XL软件平台对于快速程序开发也发挥着至关重要的作用。该平台可自动扩展以支持多工位测试,节省大量开发时间和成本,与其他ATE软件系统相比,可将多工位测试程序开发速度提高 30%。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
相关推荐
代工厂来开发和交付。台积电是这一阶段的关键先驱。
半导体的第四个时代——开放式创新平台
仔细观察,我们即将回到原点。随着半导体行业的不断成熟,工艺复杂性和设计复杂性开始呈爆炸式增长。
发表于 03-27 16:17
交给代工厂来开发和交付。台积电是这一阶段的关键先驱。
半导体的第四个时代——开放式创新平台
仔细观察,我们即将回到原点。随着半导体行业的不断成熟,工艺复杂性和设计复杂性开始呈爆炸式
发表于 03-13 16:52
蓉矽半导体近日宣布,其自主研发的1200V 40mΩ SiC MOSFET产品NC1M120C40HT已顺利通过AEC-Q101车规级测试和HV-H3TRB加严可靠性考核。这一里程碑式的成就不仅彰显了蓉矽
发表于 03-12 11:06
•327次阅读
的放大和捕获。五、半导体放电管TSS的优势和发展趋势TSS具有响应速度快、噪声低、功耗小等优势,不仅可以提高系统的性能和效率,而且可以减少系统成本和维护成本。未来,随着电子技术的不断发
发表于 03-06 10:07
就跟着深圳比创达电子EMC小编一起来看下吧!一、半导体放电管TSS的定义和发展历程半导体放电管TSS,全称Transient Solid State Switch,简称TSS。它是一种用于快速开关高电压
发表于 03-06 10:03
12月28日,国仪量子向上海大学理学院正式交付X波段连续波电子顺磁共振波谱仪EPR200-Plus,标志着国仪量子自主研制的电子顺磁共振波谱仪实现了全球交付100台的重要里程碑。上海大
发表于 12-30 08:25
•313次阅读
岁末年初之际,电子发烧友网策划的《2024年半导体产业展望》专题,收到三十多家国内半导体创新领袖企业高管的前瞻观点。此次,电子发烧友特别采访了泰瑞达全球副总裁,中国区总裁,存储和系统级
发表于 12-26 10:38
•606次阅读
什么是半导体的成品测试系统,如何测试其特性? 半导体的成品测试
发表于 11-09 09:36
•336次阅读
半导体如今在集成电路、通信系统、照明等领域被广泛应用,是一种非常重要的材料。在半导体行业中,半导体测试是特别关键的环节,以保证
发表于 11-07 16:31
•376次阅读
联讯仪器WAT 半导体参数测试系统基于自主研发pA/亚pA高精度源表,半导体矩阵开关,高电压半导体脉冲源,3500V高压源表等基础仪表,掌握
发表于 11-06 16:27
•630次阅读
非常高兴地向各位宣布,赛昉VisionFive 2上已成功集成了Android开源项目(AOSP),为用户带来了更多的软件解决方案以及与Android软件生态系统的无缝集成。这一里程碑源于与开源社区
发表于 10-16 13:11
半导体静态测试参数是指在直流条件下对其进行测试,目的是为了判断半导体分立器件在直流条件下的性能,主要是测试
发表于 10-10 15:05
•482次阅读
筑波科技(ACE Solution)与美商泰瑞达(Teradyne)携手合作,推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT测试整合方案,为半导体行业市场带来突破性的竞争优势。
发表于 09-04 16:53
•532次阅读
与openKylin社区技术专家经过长期开发、调试,克服诸多挑战,最终实现了首批ROMA笔记本电脑的量产交付,这是RISC-V芯片原厂、开源社区与终端设备厂商通力合作的里程碑式的突破!
发表于 08-21 13:41
来源:半导体芯科技编译 安全边缘平台结合了先进的数据分析解决方案和优化测试流程。 泰瑞达推出了Teradyne Archimedes分析解决方案,这是一种开放式架构,可为半导体
发表于 07-20 18:00
•387次阅读
评论