史密斯英特康宣布推出应用外围IC测试的Joule 20高频测试插座

全球领先的半导体测试插座和测试应用解决方案供应商史密斯英特康正式宣布推出其应用于外围IC测试的Joule 20高频测试插座。

当前随着5G等高速通讯标准的升级，新的RF芯片广泛应用于手机，平板，可穿戴设备，无人驾驶汽车等移动设备，对RF射频测试插座的需求越来越多，标准也越来越高。Joule 20出色的接触技术和高频能力有效的保证了信号传输的可靠性和完整性。此外，其创新的设计结构可允许拆卸测试插座外壳而无需将其从PCB板上卸下，在设备测试期间仍然可进行清洁和维护工作，从而大大减少了设备停机时间并提高了测试产量。

Joule 20射频测试插座还有哪些显著的机械和电气差异优势：

·插入插槽，匹配现有的PCB插槽尺寸

·极短的信号路径，可提供高达20 GHz的高带宽

·芯片和PCB之间的接触电阻非常低，从而提高了测试良率

·高频能力确保信号完整性和可靠性

·散热能力支持从－40°C到＋125°C

·接触寿命长，最多插拔次数可达到500，000次

“近年来数字时代的加速发展，对新的消费电子产品以及自动驾驶汽车产生了巨大的需求。集成电路的速度变得越来越快，功能越来越复杂，这就要求更高的测试可靠性和更少的测试时间以将产品快速推出市场。” 史密斯英特康半导体测试业务部副总裁兼总经理Bruce Valentine说。 “史密斯英特康的研发脚步也不敢懈怠，Joule 20射频测试插座的解决方案可以大大提高测试生产量以及满足对外围封装技术（QFN，QFP和SOIC）更快，更可靠且可重复的测试需求。”

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