0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

电容失效的原因剖析

454398 来源:alpha007 作者:alpha007 2022-11-30 17:42 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

电容击穿的概念

电容的电介质承受的电场强度是有一定限度的,当被束缚的电荷脱离了原子或分子的束缚而参加导电,就破坏了绝缘性能,这一现象称为电介质的击穿。

电容器被击穿的条件

电容器被击穿的条件达到击穿电压。

击穿电压是电容器的极限电压,超过这个电压,电容器内的介质将被击穿。额定电压是电容器长期工作时所能承受的电压,它比击穿电压要低。电容器在不高于击穿电压下工作都是安全可靠的,不要误认为电容器只有在额定电压下工作才是正常的。

定义 PN 结发生临界击穿对应的电压为 PN 结的击穿电压 BV,BV 是衡量 PN 结可靠性与使用范围的一个重要参数,在 PN 结的其它性能参数不变的情况下,BV 的值越高越好。

一般电容击穿是开路还是短路?

一般电容击穿后则相当于短路,原因是当电容接在直流上时是看为开路,接在交流电上时看为短路,电容有个性质是通交隔直,击穿一词在电工的理解是短路,击穿形成的原因主要是外界电压超过其标称电压所导致的永久性破坏,叫做击穿。

在固体电介质中发生破坏性放电时,称为击穿。击穿时,在固体电介质中留下痕迹,使固体电介质永久失去绝缘性能。如绝缘纸板击穿时,会在纸板上留下一个孔。可见击穿这个词仅限用于固体电介质中。

电容击穿的原因

电容击穿的根本原因就是其电介质的绝缘性被破坏,产生了极化。造成电介质绝缘性被破坏的原因有:

工作电压超过了电容的最大耐压;

电容质量不好,漏电流大,温度逐渐升高,绝缘强度下降。

避免介质击穿的方法

采用绝缘强度高的材料;

绝缘材料有一定厚度,且不含杂质,如气泡或水分;

设法使电场按要求分布,避免电力线在某些地方过于密集。

有极性电容的极性接反或者接到了交流电源之上。

电容击穿后能否恢复

电介质是气体或者是液体,均是自恢复绝缘介质,击穿可逆;

电介质是固体,击穿不可逆,是唯一击穿后不可恢复的绝缘介质。

安规电容的失效问题

这里将安规电容的失效问题单独拎出来,主要是安规电容跟常规电容有一些区别。简单介绍下安规电容,安规电容主要包括 X 电容和 Y 电容:

X 电容又分为 X1、X2、X3,主要区别在于:

X1 电容耐压值大于 2.5kV,小于等于 4kV;

X2 电容耐压值小于等于 2.5kV;

X3 电容耐压值小于等于 1.2kV;

Y 电容又分为 Y1、Y2、Y3、Y4 电容,主要区别在于:

Y1 电容耐压值大于 8kV;

Y2 电容耐压值大于 5kV;

Y3 电容对耐压值没有特别限制;

Y4 电容耐压值大于 2.5kV;

X 电容主要用于交流电源线的 L 与 N 之间,使用 X 电容后,当电容失效时,电容处于开路状态,不至于产生线间短路。X 电容的测试条件是:在交流电压有效值的 1.5 倍电压下工作 100 小时,至少再加上 1kV 的脉冲高压测试。

Y 电容主要作用于交流电源线的 L、N 与地线之间,或其他电路的公共地与外壳之间。跨于这些位置的电容一旦出现失效短路,就会导致电击危险(尤其是对外壳部分),这时必须强制使用 Y 电容(Y 电容的失效模式是开路)。Y 电容的测试条件是:在交流电压有效值的 1.7 倍电压下工作 100 小时,至少再加上 2kV 脉冲高压测试。

总结来说:常规电容失效一般为短路,安规电容失效一般表现为断路,因此切记!在使用交流大电压的场合不能用常规电容去代替安规电容使用,以防电容失效后对人造成电击事故。

审核编辑黄昊宇

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电容
    +关注

    关注

    100

    文章

    6437

    浏览量

    158033
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    合科泰SOT-23封装MOS管AO3400的失效原因

    SOT-23封装的AO3400型号MOS管击穿失效的案例,过程中梳理出MOS管最常见的失效原因,以及如何从原理层面规避这些问题。
    的头像 发表于 11-26 09:47 343次阅读
    合科泰SOT-23封装MOS管AO3400的<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>原因</b>

    LED失效原因分析与改进建议

    LED寿命虽被标称5万小时,但那只是25℃下的理论值。高温、高湿、粉尘、电流冲击等现场条件会迅速放大缺陷,使产品提前失效。统计表明,现场失效多集中在投运前三年,且呈批次性,直接推高售后成本。把常见
    的头像 发表于 09-12 14:36 466次阅读
    LED<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>原因</b>分析与改进建议

    电解电容鼓包是什么原因造成的?

    电解电容鼓包是常见的失效现象,通常由内部压力积聚导致外壳变形,其根本原因与电解电容的结构特性、工作条件及材料老化密切相关。以下是具体原因分析
    的头像 发表于 08-29 16:19 962次阅读

    浅谈常见芯片失效原因

    在半导体制造领域,电气过应力(EOS)和静电放电(ESD)是导致芯片失效的两大主要因素,约占现场失效器件总数的50%。它们不仅直接造成器件损坏,还会引发长期性能衰退和可靠性问题,对生产效率与产品质量构成严重威胁。
    的头像 发表于 08-21 09:23 1219次阅读

    电解电容失效因素解析与预防策略

    电解电容作为电子电路中关键的储能与滤波元件,其可靠性直接影响设备性能与寿命。然而,受材料、工艺、环境等因素影响,电解电容易发生多种失效模式。本文将系统梳理其失效因素,并提出针对性预防措
    的头像 发表于 07-08 15:17 704次阅读
    电解<b class='flag-5'>电容</b><b class='flag-5'>失效</b>因素解析与预防策略

    LED芯片失效和封装失效原因分析

    芯片失效和封装失效原因,并分析其背后的物理机制。金鉴实验室是一家专注于LED产业的科研检测机构,致力于改善LED品质,服务LED产业链中各个环节,使LED产业健康
    的头像 发表于 07-07 15:53 636次阅读
    LED芯片<b class='flag-5'>失效</b>和封装<b class='flag-5'>失效</b>的<b class='flag-5'>原因</b>分析

    铝电解电容失效原因解析:材料、工艺与环境的协同作用

    作为电子电路中应用最广的储能元件,铝电解电容在电源滤波、能量转换等领域占据核心地位。然而,其失效问题始终是制约设备可靠性的关键因素——据统计,消费电子故障中35%源于电容失效,工业电源
    的头像 发表于 07-03 16:09 534次阅读

    聚徽——电容失效模式全解:鼓包、漏液、击穿的「诱因与预防」

    电容作为电子电路中的核心元件,其可靠性直接影响系统性能。然而,鼓包、漏液、击穿等失效模式却成为制约电容寿命的「隐形杀手」。本文将从失效机理、诱因分析及预防策略三个维度,深度解析这些故障
    的头像 发表于 06-19 10:21 2729次阅读

    浅谈射频同轴连接器的失效原因

    同轴产品在使用中总会碰到问题,可能涉及到连接器也可能涉及到安装的电缆,本期将围绕总结3个大点8种同轴连接的失效原因,并对不同问题分别进行解析。
    的头像 发表于 06-04 10:00 1517次阅读

    如何找出国巨贴片电容引脚断裂失效原因

    国巨贴片电容作为电子电路中的关键元件,其引脚断裂失效会直接影响电路性能。要找出此类失效原因,需从机械应力、焊接工艺、材料特性及电路设计等多维度展开系统性分析。 一、机械应力损伤的排查
    的头像 发表于 05-06 14:23 583次阅读

    贴片电容短路的原因探析

    设备的损坏。本文将深入探讨贴片电容短路的原因,以便更好地理解和预防这一问题。   一、短路原因分析 1、电压过高 当贴片电容所承受的电压超过其额定电压或击穿电压时,
    的头像 发表于 03-19 15:28 2551次阅读
    贴片<b class='flag-5'>电容</b>短路的<b class='flag-5'>原因</b>探析

    太诱电容失效分析:裂纹与短路问题

    太诱电容失效分析,特别是针对裂纹与短路问题,需要从多个角度进行深入探讨。以下是对这两个问题的详细分析: 一、裂纹问题 裂纹成因 : 热膨胀系数差异 :电容器的各个组成部分(如陶瓷介质、端电极
    的头像 发表于 03-12 15:40 1095次阅读
    太诱<b class='flag-5'>电容</b>的<b class='flag-5'>失效</b>分析:裂纹与短路问题

    整流桥失效深度剖析:MDD从过载烧毁到机械应力的工业案

    失效,导致设备故障甚至安全事故。本文结合在工业电源、汽车充电系统和家电领域的应用案例,对整流桥失效的深层原因进行剖析,并提供有效的工程解决方案,帮助工程师提高电源系
    的头像 发表于 03-11 12:00 1607次阅读
    整流桥<b class='flag-5'>失效</b>深度<b class='flag-5'>剖析</b>:MDD从过载烧毁到机械应力的工业案

    如何有效地开展EBSD失效分析

    失效分析的重要性失效分析其核心任务是探究产品或构件在服役过程中出现的各种失效形式。这些失效形式涵盖了疲劳断裂、应力腐蚀开裂、环境应力开裂引发的脆性断裂等诸多类型。深入
    的头像 发表于 01-09 11:01 945次阅读
    如何有效地开展EBSD<b class='flag-5'>失效</b>分析

    端子失效的常见原因及解决办法

    端子失效的常见原因及解决办法 在现代电子设备和电路系统中,端子作为连接各个组件的关键部分,其稳定性和可靠性至关重要。然而,端子失效的情况时有发生,这不仅影响设备的正常运行,还可能导致安全隐患。 端子
    的头像 发表于 12-29 10:47 2385次阅读