BM8500电路板故障检测仪的特点及适用场景介绍

简介：

英国ABI公司的BM8500是一个独特的多功能且易于使用的独立测试系统。它提供了全面性电路板检测功能，可几乎含盖了任何类型的电路板的检测能力。

无论在电路板的设计验证，生产测试，半导体器件测试，生产或是一般维修保养，以及是否你的电路板是模拟还是数字的电路板，或者是混合型的电路板， BM8500都会是最终极的诊断工具。针对您所有的测试要求所提供的完美解决方案。

对于现今电子业界的快速变化，求新、求变的市场需求特性，无论是工作在设计，生产，试验或故障的情况都在向电子工程师提出了各项的挑战。电子电路变得更快，更小，更便宜和更复杂。在测试和维修的成本效益也变得相对性的提高很多。因此，您的测试设备是否能因应你的需求，而来挑战这一连串爆发性的技术改革变化。如果你了解到的这个问题，你已在寻求解决方式的路上了

尽管目前的电子技术日新月异，但其故障情形的基本性质仍是相同的。故障的集成电路（ICs）它会无法正常动作的。，故障的二极管会呈现开路或短路的状态，故障的电容器有时会呈现短路的故障现象。现今会造成电路板上焊桥的情况跟10年前的是相同的情形。但今天我们必须快速的找到这些故障点。 “具高经济效益的维修工作” 的重心并不在于能不能修复电路板，而是在于需要花费多少的时间以及人力来修复一片电路板。

以经济学来说，维修费用也必需包括其测试设备。而 BM8500在其广泛的应用上具有相当高的成本效益。它包含了一个完整的高规格仪表控制软件，且易于工程师来操作应用。硬件是安装在一个坚固的机箱内，并包含了一个高规格且以微软的Windows为操作系统的PC。而BM8500是一个模块化系统，因此可以为特定应用进行客制化的配制。

特点：

集成电路及电路板的标准测试功能

数字及模拟集成电路的功能测试

动态及静态测试

适合单点量测

自动化测试程序

可由使用者设计的操作软件

数字集成电路测试功能模块（BFL）

在BM8500中提供了两个数字集成电路功能测试模块，其具有128个量测通道，可提供多种的量测功能。这些通道可提供全面性故障诊断能力，包括数字集成电路功能测试（在线/离线测试）。集成电路接脚的连接状态和电压值的量测，并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能。

模拟集成电路测试功能模块（AICT）

在模拟集成电路测试仪中允许模拟集成电路和分立集成电路（Discrete Components）进行功能测试。所有常见的模拟集成电路皆可以测试，系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试，不需要编辑程序或参考电路图。在AICT模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能，电路板或集成电路可在无电源供给的情形下，得到清楚易懂的图形化测试结果。

综合型基础仪表模块（MIS）

在MIS仪表模块中，提供了多种高规格的测试及量测用的仪表功能在同一模块之中。此种设计方式，适合用于教育及一般用途的电子量测使用。其模块提供了频率/事件计数器，数字存储式示波器，信号产生器，双信道的数字电表，固定式电源供应器及通用型的I/O接口。且操作者可以利用软件的自定仪器平台功能，来设计客制化的仪器操作接口。

数字可调式电源供应器模块（VPS）

此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源。其具有三组可调式电源输出，并同时具有过电压及过载保护功能。

培训用电路板

一个训练有素的工程师会比一位新手在工作上来的有效率，这是众所皆知的。对于ABI的测试产品，为了让ABI的客户能够有效的利用ABI的产品设备，其关键点就是要让使用者认识它所有的功能。就是因为抱持着这种态度，ABI已针对所有的客户开发出完整的培训方式。

这个方式是针对BM8500此产品特别设计的电路板为平台。经由电路板上不同的控制功能，来提供不同的故障现象，让使用者学习到电子学的原理和获取电路修复的知识技术。 ABI已提供培训人员一份以测试程序（TestFlow）的形式所呈现的指南，内容包含了详细的说明及解释。

此培训方式已在业界被广泛的使用，其好处是在于用户可以用自己的步调来培训自己或是工程人员，而可由此来应用在其它的更广泛的工作类型上。而此培训方式也是许多在世界各地的大学或是技术学院教育课程的一部份。

标准的测试附件（夹具）

BM8500 提供全系列的测试线及夹具，适用于所有的产品模块使用。

数字集成电路测试模块的测试附件

1 x 64 way test cable

1 x 64 way split test cable

1 x BDO cable assembly

1 x short locator cable assembly

1 x ground clip

1 x PSU lead set

1 x V-I probe assembly

综合型基础仪表模块的测试附件

2 x DSO probes

1 x yellow probe and cable

1 x blue probe and cable

1 x black probe and cable

1 x universal I/O cable （not terminated）

1 x 64 way test cable

1 x 64 way split test cable

1 x BDO cable assembly

1 x ground clip

1 x PSU lead set

1 x V-I probe assembly

模拟集成电路测试模块的测试附件

1 x 24 way test cable

1 x 24 pin test clip

1 x yellow probe and cable

1 x blue probe and cable

2 x pulse leads

2 x ground leads

3 x discrete leads

1 x SMT tweezer set and adapters.

DIL Test Clips （0.3“ gauge - 8， 16， 20， 24 pin， 0.6” gauge - 24， 40 pin） Automatic out-of-circuit adapter

40 pin ZIF socket for out-of circuit testing of ICs. SOIC and PLCC adapters available.

选配的测试附件（夹具）

MultiProbe Range （排针型测试探棒）

0.050“ pitch 10 pin （SOIC and PLCC） and 0.100” pitch 8 pin （DIL）。

PenProbe 4-piece Set （笔型测试探棒）

Type 1 （3 pin transistors， SOT23 and similar）， type 2 （3 pin transistors， TO72 and similar）， type 3 （3 pin transistors， TO220 and similar）， type 4 （3 pin transistors， TO92 and similar）

SOIC test clip and cable set （表面粘着型集成电路夹具）

8，14，16 pin narrow and 20， 24， 28 pin wide

PLCC test clip and cable assembly （PLCC型集成电路夹具）

20， 28， 44， 52， 68 and 84 pin

QFP test clip and cable assembly （QFP型集成电路夹具）

100， 144， 160， 208 pin

Premier 操作软件

此操作软件是专为SYSTEM8 所设计的完整的控制软件。其内部还提供了最先进的测试演算。其软件可提供下列专业的软件管理功能：

User access manager （使用者权限管理功能）

TestFlow automatic test manager （测试程序编辑功能）

Instrument design manager （仪器平台编辑功能）

Instrument menu manager （仪器清单管理功能）

Custom calculator functions （自定计算公式功能）

Flexible data logger （数据记录功能）

标准测试程序功能（TestFlow）是整个SYSTEM8系统的主要概念，利用这种方式不仅加速了整个测试及故障定位的工作，另外，也可让半熟练的工程人员来进行操作。

标准测试程序功能（TestFlow）可以将电路板的故障定位工作，转换成一个循序渐进的标准程序，并降低量测的不准确性并且记录所有的量测参数。技术工程人员可以自行编写一个标准的测试程序，或经由TestFlow为特定的电路板设定标准的量测步骤及记录量测的结果。工程人员也可以加入电路图或实际的电路板图片，甚至是加入一些指示来帮助检测工作的进行。半熟练的工程人员只需要按步就班的依指示及图示来操作设备，便可以完成所有的检测工作。

标准测试程序功能（TestFlow）可提供故障检测记录，可用来比对好坏电路板的差异性。所有的测试点、测试方式、操作说明及报告结果及统计功能皆以一个容易遵循的格式呈现。

PremierLink 软件（选配）

PremierLink软件是一个选配的软件包。它可以允许使用者自行建立新的测试集成电路到集成电路测试数据库中，或是新增一个新的功能测试以配合新的电路板量测应用。此软件功能可以用来查询已有的ABI集成电路数据库的ASM程序，也可用此软件专用的程序语言（PLIP）来建立一个新的集成电路程序。此程序语言是一个高阶的程序语言，且适合用来编辑模拟和数字集成电路的测试程序。

集成电路数据库的编辑功能及集成电路的参数定义。

PLIP高阶程序语言可提供新一代的集成电路的功能测试。

可整合进入SYSTEM8 的集成电路数据库中。

具编译功能（Compiler），除错功能（Debugger）及动态的讯息功能

BM8500电路板故障检测仪的特点及适用场景介绍

BM8500 的使用场合为何？

随着客户由航空仿真器的制造商到重金属工业公司，由集成电路制造商到科技大学及技术学院，BM8500及SYSTEM8 相关系列的产品，在每个技术领域及世上每一个角落，都在不断的展现它功能的多样性及不同应的弹性。有很多的维修中心都配备了BoardMaster以维时良好的维修完善率及维修能力，而这些维修中心的客户广泛的包含了：电信、交通及一般的消费产品。感谢全世界许多的经销合作伙伴及网络，让许多遍布全球的陆军、空军及海军单位都在使用BM8500.

进阶应用：大量及最终的在线测试应用

BM8500 对于数量大及须保持高度质量的电路板检测工作，它可以提供最佳的检测方案。它的最终目的是在于确保电路板通过软件的设置标准，以确保整体的性能在标准之上。我们可以利用不同模块的特殊功能，来达到不同应用的需求。例如：我们可以利用综合型基础仪器模块（MIS）来收集并纪录所量测的数值波形，并利用数字集成电路测试模块（BFL）来提供电路板多个接点的控制信号，并经由标准程序功能（TestFlow）的软件功能，来整合在一连串的量测流程之中，并将其量测所得的过程记录成报告的形式，可供日后的数据检核之用。如果有任何的应用问题，可以直接与ABI的技术人员进行讨论。

BM8500 的产品规格

Digital IC Test 数字集成电路测试功能

具128个量测信道（64信道X2组模块）。八组输出隔离信号。一组5V / 5A的电源供给输出。可进行集成电路的功能测试、电压量测、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测。内建逻辑时序信号量测功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等。并可针对数字逻辑位准进行调整，另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能。

Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能

具有24组测试信道及外加一组的分离集成电路测试信道。内建集成电路数据库可量测模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路。可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压量测。并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能。

Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能

具128 量测信道（64信道X2个模块）。可调整量测信号电压范围。针对数字集成电路可达到有效的量测结果。

Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能

具有24 量测通道及外加二组独立量测通道。其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择量测波形功能。并可选择波形显示模式： V-I、V-T及I-T三种显示模式。二组同步可变脉宽的信号输出。内建量测线路补偿功能。具有外接盒可供选配。

Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能具有24组矩阵式的量测通道。单一波形多重显示的方式，并可直接进行量测波形的比对功能，并以条状图的方式来显示各信道信号的差异百分比。

Graphical Test Generator 数字时序编辑功能

具有128个信号信道可供编辑数字时序信号。每个通道可设定输出、输入及双向状态。并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对。

Floating Digital Multimeter 双信道万用电表功能

具二组自动换文件的量测通道，可量测DC及AC电压信号达400V，可量测DC及AC电流信号可达2A. 阻抗量测可达20M奥姆。各信道具有统计功能，可显示最大值、最小值及平均值。另外提供一组计算器，可针对所量测到的数值进行实时的计算并记录。

Universal I/O 通用型输出/输入信道功能