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电子发烧友网>新品快讯>凌力尔特推出LT3690的高温和高可靠性版本

凌力尔特推出LT3690的高温和高可靠性版本

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阻并提高可靠性。东芝实验证实,与现有SiC MOSFET相比,这种设计结构在不影响可靠性的情况下[1],可将导通电阻[2](RonA)降低约20%。功率器件是管理各种电子设备电能,降低功耗以及实现碳中和
2023-04-11 15:29:18

PCB设计中的可靠性有哪些?如何提高PCB设计的可靠性呢?

  PCB设计中的可靠性有哪些?  实践证明,即使电路原理图设计正确,如果PCB设计不当,也会对电子设备的可靠性产生不利的影响。举个简单的例子,如果PCB两条细平行线靠得很近的话,则会造成信号波形
2023-04-10 16:03:54

半导体器件在高温环境下的可靠性

半导体元器件在高温环境下的可靠性是制造商和用户十分关注的问题。高温试验是一种常用的测试方法,通过模拟实际使用中的高温环境,可以评估元器件在高温下的性能和可靠性高温试验需要仔细设计实验方案,包括选择
2023-04-07 10:21:03765

AEC---SiC MOSFET 高温栅氧可靠性研究

摘要:碳化硅(SiC)由于其优异的电学及热学特性而成为一种很有发展前途的宽禁带半导体材料。SiC材料制作的功率MOSFET很适合在大功率领域中使用,高温栅氧的可靠性是大功率MOSFET中最应注意
2023-04-04 10:12:34663

求分享BSS138PW/BSS84AKW,115可靠性数据

我想知道这些设备的可靠性数据,例如 MTBF 和 FIT,BSS138PW BSS84AKW,115
2023-04-03 08:12:35

NSI1300D25-DSWVR

高可靠性强化隔离放大器
2023-03-28 21:53:36

NSi8142W0

高可靠性四通道数字隔离器
2023-03-28 21:53:36

NSI8221N0-DSPR

高可靠性双通道数字隔离器
2023-03-28 15:12:36

如何提高硬件可靠性

。 因此,硬件可靠性设计在保证元器件可靠性的基础上,既要考虑单一控制单元的可靠性设计,更要考虑整个控制系统的可靠性设计。
2023-03-27 17:01:30685

NSI8121N1

高可靠性双通道数字隔离器
2023-03-27 11:14:08

NSI8141W1

高可靠性四通道数字隔离器
2023-03-27 11:14:08

在哪里获得PCA85073ADP/FS32K144HAT0MLHT可靠性测试报告?

嗨,我在哪里可以获得以下芯片的可靠性测试报告?FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13

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