CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

1321105 2009-07-15 | rar | 423 | 次下载 | 免费

资料介绍

CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
一、实验目的
1．掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则;
2．学会CMOS与非门主要参数的测试方法。
二、预习要求
1．复习CMOS门电路的工作原理;
2．了解四2输入与非门CD4011，四2输入或门CD4071，四2输入与门CD4082及四异或门CD4030等门电路的引脚功能;
3．各种CMOS门电路闲置输入端应如何处理？
三、实验原理
1． CMOS为英文Complementary Metal Oxide Semiconductor的简称，译为互补--金属—氧化物—半导体存储器。CMOS集成电路是将N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管同时用于一个集成电路中，成为组合二种沟道MOS管性能的更优良的集成电路。
2．CMOS集成电路的主要优点：
（1）电源电压范围广，可在+3V~+18V范围内正常运行；
（2）功耗低。相比之下，TTL器件的功耗则大得多；
（3）输入阻抗高，通常大于1010Ω，远高于TTL器件；
（4）接近理想的传输特性，输出高电平可达电源电压的99.9%以上，低电平可达电源电压的0.1%以下；
（5）扇出系数非常大，负载能力强。
3．CMOS与非门的主要参数
CMOS与非门主要参数的定义及测试方法与TTL与非门电路相仿，参见实验二。
四、实验仪器与器件
1. TH-SZ型数字电路实验箱 2. UT56数字万用表
3. 四2输入与非门CD4011、四异或门CD4030各一片
五、实验内容和步骤
1. 验证四2输入与非门CD4011和四异或门CD4030的逻辑功能，判断其好坏。（可以取器件中的一个门进行实验）。图3-1分别为两者的引脚排列图：