资料介绍
C8051F04x 系列器件是完全集成的混合信号片上系统型 MCU,具有 64 个数字 I/O 引脚(C8051F040/2/4/6)或 32 个数字 I/O 引脚(C8051F041/3/5/7),片内集成了一个 CAN2.0B 控制器。下面列出了一些主要特性;有关某一产品的具体特性参见表 1.1。
高速、流水线结构的 8051 兼容的 CIP-51 内核(可达 25MIPS)
控制器局域网(CAN2.0B)控制器,具有 32 个消息对象,每个消息对象有其自己的标识
全速、非侵入式的在系统调试接口(片内)
真正 12 位(C8051F040/1)或 10 位(C8051F042/3/4/5/6/7)、100 ksps 的 ADC,带 PGA 和 8 通道模拟多路开关
允许高电压差分放大器输入到 12/10 位 ADC(60V 峰-峰值),增益可编程
真正 8 位 500 ksps 的 ADC,带 PGA 和 8 通道模拟多路开关(C8051F040/1/2/3)
两个 12 位 DAC,具有可编程数据更新方式(C8051F040/1/2/3)
64KB(C8051F040/1/2/3/4/5)或 32KB(C8051F046/7)可在系统编程的 FLASH 存储器
4352(4K+256)字节的片内 RAM
可寻址 64KB 地址空间的外部数据存储器接口
硬件实现的 SPI、SMBus/ I2 C 和两个 UART 串行接口
5 个通用的 16 位定时器
具有 6 个捕捉/比较模块的可编程计数器/定时器阵列
具有片内 VDD 监视器、看门狗定时器和时钟振荡器的 C8051F04x 系列器件是真正能独立工作的片上系统。所有模拟和数字外设均可由用户固件使能/禁止和配置。FLASH 存储器还具有在系统重新编程能力,可用于非易失性数据存储,并允许现场更新 8051 固件。
片内 JTAG 调试电路允许使用安装在最终应用系统上的产品 MCU 进行非侵入式(不占用片内资源)、全速、在系统调试。该调试系统支持观察和修改存储器和寄存器,支持断点、观察点、单步及运行和停机命令。在使用 JTAG 调试时,所有的模拟和数字外设都可全功能运行。
每个 MCU 都可在工业温度范围(-45℃到+85℃)工作,工作电压为 2.7 ~ 3.6V。端口 I/O、/RST 和 JTAG 引脚都容许 5V 的输入信号电压。C8051F040/2/4/6 为 100 脚 TQFP 封装(见图 1.1 和图 1.3 的框图)。C8051F041/3/5/7 为 64 脚 TQFP 封装(见图 1.2 和图 1.4 的框图)。
C8051F04x 系列器件采用 Silicon Lab 的专利 CIP-51 微控制器内核。CIP-51 与 MCS-51TM 指令集完全兼容,可以使用标准 803x/805x 的汇编器和编译器进行软件开发。CIP-51 内核具有标准 8052 的所有外设部件,包括 5 个 16 位的计数器/定时器、两个全双工 UART、256 字节内部 RAM、128 字节特殊功能寄存器(SFR)地址空间及 8/4 个 8 位宽的 I/O 端口。
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