企业号介绍

全部
  • 全部
  • 产品
  • 方案
  • 文章
  • 资料
  • 企业

SPEA

SPEA成立于1976年，注于于电路板和电路模块检测，为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备，提供标准化产品和定制化服务方案

89 内容数 12w+ 浏览量 98 粉丝

SPEA 3030C ICT在线测试仪

ICT在线测试
型号： 3030C

--- 产品参数 ---

  • 产品类型 针床测试仪
  • 主要功能 ICT、FCT、OBP等
  • 通道-核心 2048-双核

--- 产品详情 ---

3030C 是一款型的针床测试机，占地面积小，测试效率高，测试成本低。模块化的设计可以使3030C搭载或任意配不同型号的receiver 和测量仪器，与标准的测试解决方案相比，3030C可以进行真正的2核并行测试，帮助电路板测试降本增效。3030C搭载了多种测试功能，使其在高产能核高效率的同时保证了100%的测试覆盖率。

为你推荐

产品 文章

  • SPEA 在线离线ICT测试仪 3030IL 全自动电路板测试设备2023-11-14 17:29

    产品型号：3030IL、3030M、3030R等 设备尺寸：900x970x1737mm 内核数：可达到4核 电阻测量范围：1mΩ——1GΩ 电感测量范围：1μH——1H 电感测量范围：0.5pF——1F

  • 飞针代测-电路板代测-SPEA飞针测试2023-08-17 10:55

    产品型号：4080 应用行业：军工电子、汽车电子、消费电子、航天航空等 代测项目：器件测试、短路测试、连通性测试、上电测试等 适用电路板：PCBA、PCB、负载板、背板、主板等 代测优势：降本增效，无需治具成本、省人力、快速获取测试结果

  • IGBT功率器件测试仪2022-12-12 10:30

    产品型号： DOT800T ISO测试资源：高达12KV/10mA DC ISO测试资源：高达 10kV/20mA AC AC 测试资源：高达 6kV，高达 3kA AC 测试资源：电流短路测试，高达 10kA DC 测试资源：高电压发生器发生能力高达 20kV

  • SPEA 3030BT桌面型电路板测试机2022-11-15 11:14

    产品型号：3030BT 设备尺寸：466*483*177mm ICT在线测试功能：有 开路测试功能：有 开/短路测试功能：有

  • SPEA 3030C ICT在线测试仪2022-11-14 09:27

    产品型号：3030C 产品类型：针床测试仪 主要功能：ICT、FCT、OBP等 通道-核心：2048-双核

  • STU200-高G惯性测试设备-mems测试设备|SPEA2022-10-09 14:39

    产品型号：STU200 加速度：-28~+28g 温度范围：-50℃~150℃ 频率范围：80~120Hz

  • SPEA 4050S2飞针测试仪2022-09-30 09:48

    产品型号：4050S2 测试机接口：384 最小焊点尺寸：80um 测试精度：±40um

  • SPEA 4060S2 飞针测试机2022-09-30 09:25

    产品型号：4060S2 测试机接口：576通道 最小焊点尺寸：80um xyz运动技术：线性电机

  • SPEA 4085飞针测试设备2022-09-28 17:28

    产品型号：4085

  • MEMS麦克风仿真单元2022-09-28 10:27

    产品型号：MCTU300

  • LED模组测试：一致性与准确性至关重要2026-11-05 15:38

    LED模组市场正快速增长，一方面源于节能需求日益受到重视，另一方面市场逐步转向Micro‑LED、多芯片LED等先进技术。这些技术创新，推动行业持续加码制造与测试环节的投入。LED模组是一种复杂的机电设备，其中用于发光、散热和电气调控的各个组件必须完美协调地运行。确保模组上所有LED的一致性至关重要，在那些对一致性要求严苛的应用中，即使微小的颜色和性能偏差也
    140浏览量

  • NEPCON ASIA 2026 圆满落幕 | SPEA 携新品国产ICT测试设备助力电子制造升级2026-10-30 16:30

    近日，为期三天的NEPCONASIA2026在深圳国际会展中心落下帷幕。SPEA携飞针测试设备、国产化ICT测试设备及配套测试解决方案重磅亮相展会，与汽车电子、消费电子、医疗电子、半导体等多个领域的专业观众深入交流，现场洽谈成果丰硕。展位现场客流如织，行业交流氛围热烈，直观展现出华南电子制造产业强劲的发展韧性与创新活力。众多客户与合作伙伴驻足观看设备演示，围
    307浏览量

  • SPEA 受邀出席 ISIG China 2026，以 WLCSP MEMS 测试方案护航 AI 时代2026-10-22 14:28

    2026年10月20日—21日，ISIGChina2026国际半导体高管峰会在上海临港中微公司召开。本次峰会以“赋能AI时代：重塑算力、互联与能源新格局”为主题，汇聚华为、美光、英飞凌、安森美、安靠等全球半导体企业领袖代表，围绕AI产业前沿趋势与技术创新展开深度对话。如今,AI大模型与算力基础设施已成为行业焦点，感知硬件同样是AI落地不可忽视的一环。MEMS
    259浏览量

  • SPEA 50 周年重磅新品｜CH1000国产 ICT 测试机将亮相 NEPCON ASIA 20262026-10-09 16:43

    亚太电子制造盛会NEPCONASIA2026，即将于10月27–29日，在深圳国际会展中心（宝安）盛大启幕。本次展会聚焦电路板组装、半导体封测、智慧工厂、汽车电子、光模块等热门赛道，集中展示行业前沿创新产品与一站式解决方案，汇聚全产业链优质资源，是电子制造圈层洞察趋势、对接技术的绝佳平台。作为自动化测试领域标杆企业，SPEA将携领先测试方案亮相本届行业盛会。
    237浏览量

  • 汽车 LED 照明系统测试：从设计趋势到零缺陷制造2026-09-24 16:09

    汽车行业正在经历一场照明系统革命。在自由设计的驱动下，汽车照明系统已从一项基本的安全必需，演变为车辆身份、乘客体验和对外沟通的核心要素。现代汽车采用大规模LED阵列，打造动态车内氛围、自适应矩阵大灯以及交互式功能显示屏。但这种设计上的灵活性，也带来了严峻的制造难题。当单块印制电路板（PCB）上的LED数量增至数百颗，同时承担更高要求的功能时，电气缺陷与光学缺
    215浏览量

  • 破解 WLCSP MEMS 测试难题，SPEA在Sensor China 2026 分享领先测试方案2026-09-17 16:41

    金秋九月，浦江潮涌，上海跨国采购会展中心SensorChina2026正在火热进行中。SPEA携手共进微电子打造的联合展位亮点纷呈，吸引众多行业同仁、产业链伙伴驻足观摩，围绕MEMS测试方案深入交流，共同探讨产业协同创新发展路径。园区党工委委员、管委会副主任沈磊，人力资源行业代表、专家学者近800人参加论坛。展会期间我们迎来了一位重磅访客—中芯国际创始人、素
    588浏览量

  • TH2000赋能CPO SiPh 3D先进封装测试2026-09-04 16:07

    在半导体测试领域SPEA拥有众多领先的自动化测试产品。针对CPOSiPh3D先进封装测试，SPEA实现了重大技术突破，推出TH2000测试机，率先开创了硅光子探测、光学探测、混合信号测试的集成化方案，旨在为晶圆级和先进封装级器件提供全面、高通量且高性价比的测试解决方案。TH2000：超越传统探针测试TH2000定位为超越传统探针测试的一体化探针＋测试设备，无
    260浏览量

  • 重磅新品 | SPEA推出国产化CH1000 ICT测试机，赋能高端PCBA制造2026-08-21 16:16

    SPEA自1976年推出全球首款ICT测试设备以来，长期稳居自动化测试领域第一梯队，全球测试系统装机量已突破12000套，尤其在汽车电子、军工、航天、医疗等电路板测试场景中积淀了深厚技术底蕴与领先市场地位。近日，SPEA面向中国市场正式发布国产化CH1000ICT测试机，该产品聚焦高附加值PCBA量产测试，以“国际品质、本土价格”为核心定位，是SPEA践行“
    1183浏览量

  • 智能功率级（SPS）测试难点解析2026-08-13 13:41

    随着AI加速器和高性能服务器将功耗需求推向更高水平，智能功率级（SmartPowerStage，SPS）已成为供电链路中关键的“最后一英里”。验证其±2%的电流监测（IMON）精度、修调内部逻辑，以及执行破坏性雪崩（UIS）测试或亚毫欧级导通电阻（RDS(on)）测量，给传统的集中式ATE架构带来了巨大瓶颈。SPEADOT800通过在单一平台上融合每通道处理
    405浏览量

  • 汇聚光谷，赋能智造 ——CEIA 武汉论坛圆满落幕2026-08-07 14:56

    8月6日，CEIA武汉电子制造峰会于光谷皇冠假日酒店圆满落幕。本届论坛紧扣先进封装、智能制造两大产业核心赛道，聚焦SMT贴装制造领域前沿发展趋势与落地创新实践，汇集富士康、海康威视、TCL、小米、格力、vivo、烽火通信等一众知名企业数百位行业嘉宾齐聚现场，围绕产业加速升级契机，共同探寻电子制造业未来增长方向。作为全球自动化测试领域的深耕者与技术领跑者，SP
    1390浏览量