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SPEA

SPEA成立于1976年,注于于电路板和电路模块检测,为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备,提供标准化产品和定制化服务方案

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SPEA 4060S2 飞针测试机

型号: 4060S2

--- 产品参数 ---

  • 测试机接口 576通道
  • 最小焊点尺寸 80um
  • xyz运动技术 线性电机

--- 产品详情 ---

4060 S2  合并了双面植针的优势,可以做到使用更多其他工具,比如:固定探针、平面支撑、最小针床治具等。

 

双面飞针

顶部4个底部2 个可移动测试头使得4060 S2 能够在双 面同时植针。增加产出以及测试能力、减少测试时间、增加测试覆盖率、一个程序可测试电路板的双面.每个飞针探针能够用于在线测试、上电测试、sink/电源模拟数字driver/sensor、在线烧录、边界扫描、预分频器。

 

底部多针飞针头

底部多针飞针头。除了为电路测试的导电探针,两个底部多针飞 针头可以带动高速上电探针,支撑杆,高分辨率相机,多探针, 激光/LED探针以及Electro scan 探针,涵盖了最全面的测试需 求,动态的平面支撑使得薄板测试更加稳定,避免了电路板因为 行程引起的震动。

 

多模式植针

当顶部的4 针用于电路板顶部测试时,底部升降平 台可用于针床治具,多个大电流电源,数字I/O,高速信号,平 面支撑。

 

适合大板和重板

最大的测试区域使得4060 S2可测尺寸为 1524 x 610mm的电路板,并且输入轨道模块使很重的电路板(例如,IC测 试机Loadboard,可达20公斤重量)轻松自动地传送到测试区域。
 

高元件

4060 S2也能够测试含变压器,散热器,连接器,挡板,极性电容以及其他高元件,高度可达110mm.禁飞区以及接触 区可以自动定义,并且设备可以同时接触不同高度的测试点。
 

背板

4060 S2 能测试装有任何连接器的背板。设备可以在两 面同时执行完整的连接测试,隔离测试,连接器的存在性以及极 性测试,接触引脚的正确组装以及机械检查。


探测工具及测试能力

快速精准地植针于最小的元件

超高速轴

X-Y-Z轴都配置强劲的线性马达,让探针达速度进一步提升,没有其他动力技术(比如丝杆和平面电机)能达到这种能力。
 

精准的微型PAD接触

线性电机的运动精度通过安装在每个轴上的线性光学编码器来完美实现,能够提供探针亚微米级分辨率定位的真实反馈。受益于这项技术,4060 S2 能够植针在微型SMT元件,以及直接植 针在卡接触器,或者公/母接触器的引脚。例如在背板上

 

超快速软着陆技术

使用正弦动力轮廓机理,探针以接近零动能的力落在电路板上。这使得在需要大量测试粘性电路板,软板,或者微型SMD元件的测试点上,不留可见的痕迹。
 

最好的测量精度

探针与量测仪表间距离越短,量测越精确,根据这个显而易见的电路原理,SPEA 设计了飞行测试仪技术的概念,激励及量测装置被直接集成在每个飞针头上,提供无与伦比的测量速度和性能。

 

最高的量测精度达(0.1pF )

信号完整性

无量测信号衰减或干扰

实时信号采集

 

Leonardo. OS2简单,快速自动编程

4060  S2为减少编程和调试工作而设计,系统自带调校测试程序,自动调校功能带来前所未有的速度和精准度。
 

在几分钟内自动生成测试程序

自动生成测试程序,无论有没有CAD文件

通过新的S2系统控制使测试程序生成时间减少50%

快速,完整的自动调试和优化

自动维修电路板的软件

自动导入X-Y文件

兼容内置自测(BIST)

友好直观的图形界面

可以监控、分析和优化生产过程的控制软件

 

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