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SPEA

SPEA成立于1976年,注于于电路板和电路模块检测,为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备,提供标准化产品和定制化服务方案

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SPEA 4085飞针测试设备

型号: 4085

--- 产品详情 ---

 

4085飞针测试设备是市面上性能最强大而又最紧凑的自动 8 倍飞针测试仪。

它具有一流的吞吐量,每年可测试超过 800,000 件电路板, 适合高产量的生产测试1。飞针定位具有高度的精确性和可重复 性,分别为20μm和5μm,能够测试带有小于 50μm 的微焊盘 和SMD01005 元件的高密度电路板。此外,系统设计还可接 触更微型的元件,例如SMD 008004。


体积小,吞吐量大

4085的超高速运动,让它每年可测试超过  800,000 件电路板, 满足大量生产的需求1。应用于  X-Y-Z  轴线性运动技术可提供无 可比拟的加速度和速度,8  个飞针每秒可对电路板顶部和底部进 行高达  180  次接触。测试仪的集成传送带可将被测器件快速载 入和载出测试区域,索引时间为 2.5 秒。


 

4085系统采用最先进的飞针测试技术,结构紧凑而功能强大。其性能/尺寸比确实独一无二:包括集成传送带在内,每一个测 试仪的工业占地面积仅为 1.34m²。

 

4085坚固耐用,可保证其出类拔萃的性能经久不变:事实上, 测试仪结构是为在生产环境中连续作业而设计的,把维护需求降 至最低。借助 SPEA 自动加载模块,可实现测试过程总吞吐量最 大化,从而设置全自动化的紧凑测试单元。例如,4085 测试仪 结合一个双向加载模块,长度可减少 2 米,总占地面积可减少 2.3m²。


 XYZ 轴全线性运动 

 

最高的运动速度 

定位可重复,行程无限制

无机械磨损 

比其他运动技术具有更少机械部件

 

 XYZ 轴上的线性光学编码器 

 

实时定位反馈 ·

闭环精度 

轴定位直接测量,无附加机械元件导致的错误

长时间操作下的定位测量稳定性

 

 精选的花岗岩底盘 

 

优秀的减震性能 

非常低的热膨胀 

较高的刚性 

设备架构动态稳定性极高
 

5G 器件射频测试

 

射频测试是一种针对消费电子产品生产和维修操作的功能测试技 术,用于检验接收和传输 500 MHz 至 6 GHz 信号的射频组件 的正常运行。
 

射频测试测量被测器件发出信号的频率和幅度,检查其是否符合 预期参数,或生成射频信号并询问器件,验证其是否正确接收。通过配置测量仪器的综合设置范围,可以生成和分析任何射频信 号。
 

该项测试技术可用于4085多功能系统,可完全满足 5G 电路板 的测试要求,例如最新一代智能手机和平板电脑使用的电路板。可测试技术包括:GSM 、 LTE、Wi-Fi (2.4-5GHz) 、蓝牙 、GPS 、FM 立体声收音机、WCDMA 、 DVB 、 DAB 、LR-WPAN 、CDMA等

精准度高

4085测试仪专为满足新的微电子技术需求而设计和生产,后者 要求高度的可达性和检测精度
 

系统各轴上直接安装了具备亚微米分辨率的线性光学编码器,在 接触 SMD 01005 元件和小于 50μm 的测试焊盘时可提供极高 的定位精度(20μm)和一致的可重复性(5μm)。此外,4085 专为接触更小的元件而设计,例如  SMD  008004。这一切都没有损 坏的风险:超快速的线性电机具有探针轮廓受控下降的功能,确 保安全接触。
 

天然花岗岩底盘可保证极高的系统稳定性,将振动减至最小,保 持检测精度经久不变。此外,X-Y-Z 轴安装了高分辨率的测量 仪器,可进行超精确测量,分辨率为 0.1pF,信号采集时间为毫秒级。

 

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