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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于电路板和电路模块检测，为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备，提供标准化产品和定制化服务方案

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加速计陀螺仪测试设备

半导体测试
型号： RTA

--- 产品详情 ---

RTA适用于测试微机电系统加速度计和陀螺仪的多轴定位器系列。它们允许同时对多达 140 个器件进行多站点测试，同时提供精确可靠的角位置、速率和加速度运动。加速度计使用恒定速度，陀螺仪测试则采用正弦角速率输入。轴由扭矩电机驱动，可确保提高位置和速度精度。

  • 高多站点MEMS接触单元：并行测试高大140个器件
  • 陀螺仪测试：素等（梯形剖面，可编程的速度、正弦和合并正弦剖面（可编程的幅度和频率）
  •  加速度计测试：定位模式
  • 速率精度高，无漂移，速率稳定性出色，扭转刚度高
  • 通过DLL指示可编程运动剖面
  • 增量式光电编码器的伺服电机运动控制系统，为增强位置和速度精度
  • 操作过程中连续连接
  • HF 选配件带有预留的接线，用于不超过 25MHz的高频信号（RTA 5x6 型号）)

 

产品规格

 

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