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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于电路板和电路模块检测，为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备，提供标准化产品和定制化服务方案

89 内容数 12w+ 浏览量 98 粉丝

吸放式Handler

自动分选机 分选机
型号： H3580

--- 产品参数 ---

  • 温度范围 -40—150℃
  • 吞吐量 高达33000UPH
  • 多站点 多达200个站点
  • 装载量 80 个托盘
  • 占地面积 2200 x 1400 mm (托盘到托盘)
  • 器件尺寸 1x1x0.5 mm
  • 器件封装 QFP, LGA, QFN, BGA, 带或不带引脚

--- 产品详情 ---

 

H3580是一款高吞吐量、完全可配置型吸放式Handler。H3580因其十分广泛的可测试范围而广受好评。它成功的把搬运、接触、物理仿真和对MEMS及其他IC器件的完整测试完美的结合在一个单一的设备里。多种物理仿真可以结合在一个单一的测试单元里用来测试Combo MEMS，例如环境传感器（压力+湿度）或导航传感器（加速度计+陀螺仪）。测试区域可以在现场很容易的被重新配置成其他测试单元。同时多站点测试单元可以大大提高机器产能：最多可同时接触并测试196个元件，实现最高吞吐量。

 

 

输入/输出托盘

 

  • 80 JEDEC 托盘装载能力
  • 在操作过程中装载/卸载托盘
  • 用来预对准的精密单元

 

批量输入 - 振动料斗单元

 

  • 高度的操作自主性
  • 通过高速像机的光学测试
  • 机器handling过程中自动补料
  • 可以同时配备托盘载入单元
  • 5S检测和光学检查通过高速摄像机

 

 

 高度的并行性  

 

1-50 站点并行处理、接触、测试

高达 200x 并行 接触 及测试

 

 高速、软冲击 Handling  
 

2个由马达控制并配备视觉系统的吸放单元

直线电机无摩擦

为了轻柔的释放器件，设定轴运动曲线在零重力加速度时停下来释放器件
 

 极低的 jam rate  

 

托盘缺陷自动补偿（形状、平整度、尺寸不当）

器件自动位置调整及接触单元内的器件的存在测试

 

产品参数

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