Flexfilm

动态

• 发布了文章 2026-01-23 18:02

  台阶仪在PET复合膜中的应用：非晶ZnO膜厚测量与界面效应表征

  

  在材料科学研究中，特别是涉及低维材料与氧化物复合的薄膜体系，界面的微观结构与形貌直接影响其宏观光电性能。精确表征薄膜的厚度与表面形貌是连接制备工艺与性能分析的基础环节。Flexfilm探针式台阶仪可以实现表面微观特征的精准表征与关键参数的定量测量，精确测定样品的表面台阶高度与膜厚，为材料质量把控和生产效率提升提供数据支撑。本研究采用真空热蒸发技术在柔性PET

  测量 膜厚

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• 发布了文章 2026-01-21 18:11

  椭偏仪在AR光学薄膜制备中的应用：高折射率与膜厚测量

  

  随着增强现实（AR）技术在消费电子、医疗及工业等领域的快速发展，市场对高性能光学元件的需求日益迫切。高折射率光学组件是实现设备轻薄化、扩大视场、提升沉浸感的关键。金属氧化物虽具有高折射率、高透过率和良好的稳定性，是理想材料，但其传统制造方法——如气相沉积工艺复杂、成本高昂，溶胶-凝胶法则需高温处理，易导致基板不匹配、表面缺陷等问题，严重制约了AR光学元件的规

  Ar 测量 薄膜

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• 发布了文章 2026-01-19 18:01

  台阶仪在QLED的应用：分子前体溶液法制备的金属硫化物薄膜形貌与厚度表征

  

  量子点发光二极管（QLED）作为新一代显示与照明技术，其性能高度依赖于电子传输层（ETL）与空穴注入层（HIL）的材料特性。传统有机材料及某些过渡金属氧化物（如ZnO、MoO₃）由于电阻率高、空穴浓度低等限制，性能提升有限。金属硫化物具有组成多样、带隙可调、导电性良好等优势，在光电器件中展现出巨大潜力。Flexfilm探针式台阶仪可以实现表面微观特征的精准表

  QLED 薄膜

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• 发布了文章 2026-01-16 18:04

  光刻胶液体吸收行为的椭圆偏振对比研究

  

  在浸没式光刻技术中，为提升分辨率而在镜头与晶圆间引入液体介质（如去离子水或高折射率液体），却引发了光刻胶与液体间复杂的物理化学相互作用，成为制约工艺稳定性的关键问题。光刻胶在接触水后会发生吸水膨胀，导致厚度显著增加（约7%）并伴随折射率下降（约-0.4%），且吸水行为受胶体年龄与后处理工艺影响，在表面呈现非均匀分布。此外，液体还可能萃取光刻胶中的光酸产生剂等

  光刻胶 晶圆

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• 发布了文章 2026-01-14 18:05

  台阶仪在平板显示的应用：银导电薄膜的厚度与粗糙度检测与优化

  

  有机发光二极管（OLED）因其优异的光电性能受到广泛关注，但其阴极材料制备仍依赖成本高、工艺复杂的真空蒸镀技术。为此，本研究探索溶液法制备银纳米颗粒基致密导电薄膜，以应用于OLED阴极及其他电子器件。Flexfilm探针式台阶仪可以实现表面微观特征的精准表征与关键参数的定量测量，精确测定样品的表面台阶高度与膜厚，为材料质量把控和生产效率提升提供数据支撑。系统

  检测 薄膜

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• 发布了文章 2026-01-12 18:03

  光谱椭偏仪在二维材料光学表征中的应用综述

  

  二维材料因其独特的电子与光学性质成为前沿研究热点。准确表征其光学响应，尤其是复介电函数，对理解其物理机制与器件应用至关重要。传统光学方法受限于信号强度与灵敏度，而光谱椭偏仪通过探测偏振态变化，能够实现超薄材料的高精度光学常数提取，已成为该领域不可或缺的工具。Flexfilm全光谱椭偏仪可以非接触对薄膜的厚度与折射率的高精度表征，广泛应用于薄膜材料、半导体和表

  二维材料 光学 光谱

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• 发布了文章 2026-01-09 18:03

  台阶仪在纳米薄膜工艺监控：基于三台阶标准的高精度厚度与沉积速率测定

  

  纳米尺度测量通常依赖具有纳米特征的标准样品进行仪器校准。目前常见标准样品多为单台阶结构，由于仪器非线性，需使用不同高度值进行多次校准。多台阶标准样品可减少探针重复定位，提升校准效率。原子力显微镜与台阶仪是纳米结构测量的常用设备，后者具有更大扫描范围且对样品污染不敏感，但噪声较大且易受环境振动影响。光谱椭偏仪等方法可用于测量薄膜沉积速率，但其结果受材料特性与模

  光谱 测量 薄膜

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• 发布了文章 2026-01-07 18:03

  椭偏仪在MEMS的应用：Er/Sc-AlN薄膜的厚度和光学常数精确表征

  

  随着5G通信技术的快速发展，智能手机对射频前端滤波器的需求急剧增加，声表面波（SAW）滤波器因其高声速、高机电耦合系数和低温漂特性成为研究热点。传统LiTaO₃等单晶材料存在成本高、声速低、温漂大等问题，而基于AlN的压电薄膜SAW滤波器具有成本低、易于集成、性能可调等优势，逐渐成为主流选择。然而，纯AlN薄膜的压电常数（d33）和机电耦合系数（kt）较低，

  mems 光学 薄膜

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• 发布了文章 2026-01-05 18:05

  台阶仪在半导体的应用|精确测量刻蚀深度和表面图案化

  

  摩擦纳米发电机作为一种环境机械能收集技术，在材料选择、结构设计及表面工程等方面持续优化。表面改性通过调控粗糙度与表面电荷，已成为提升摩擦电输出的重要手段。目前，激光辐照、等离子体刻蚀等方法已在聚合物材料中取得成效，但在金属-半导体体系，尤其是半导体表面图案化方面的研究仍较有限。GaN作为第三代宽禁带半导体，具备优异的化学稳定性与高电子迁移率，适用于摩擦电层。

  半导体 测量

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• 发布了文章 2025-12-31 18:04

  椭偏仪在半导体的应用|不同厚度m-AlN与GaN薄膜的结构与光学性质

  

  Ⅲ族氮化物半导体是紫外至可见光发光器件的关键材料。传统c面取向材料因极化电场导致量子限制斯塔克效应，降低发光效率。采用半极性（如m面）生长可有效抑制该效应，尤其(11-22)取向在实现高铟掺入InGaN量子阱方面优势显著。然而，半极性薄膜在异质外延中面临晶体质量差、应力各向异性等挑战。Flexfilm全光谱椭偏仪可以非接触对薄膜的厚度与折射率的高精度表征，广

  GaN 半导体 薄膜

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