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普迪飞是全球领先的半导体智能制造赋能者,通过数据驱动技术与全流程互联能力,帮助客户实现从芯片设计、制造到封测的全生命周期效能升级。

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PDF Solutions文章

  • Chiplet良率暗战:缺陷检测的“盲区”,正在被哪些新技术照亮?2026-09-15 14:06

    核心要点确保多芯片封装的可靠性,需要采用多种方法来检测亚表面缺陷。键合和互连问题尤为突出,需要增加更多检测环节。确保可靠性需要打通往往相互割裂的数据孤岛。向多芯片封装的转变,正在迫使芯片测试和检测方式发生改变,以实现足够的良率爬坡,或更快地响应良率异常。一、为什么传统的检测手段"不够用"了?封装工程团队长期依赖光学检测和电性测试来发现封装制造问题,但对于基于
  • 一文读懂 | AI 在半导体制造:从“试点秀场”到“产线刚需”的最后一公里2026-09-08 11:03

    当大模型在消费互联网领域狂飙突进时,半导体制造车间里的AI应用却呈现出一幅割裂的画面——几乎每家晶圆厂都在做AI试点,PoC报告堆积如山,但真正跑在产线上、每天被工程师使用的AI应用,寥寥无几。2026年SEMI举办的AITechniquesinSemiconductorManufacturingWorkshop上,一个共识被反复提及:半导体制造的AI瓶颈,
  • 芯片设计企业的供应链,正在从 "靠人盯" 变成 "靠系统看"2026-09-04 18:05

    一个运营总监的普通凌晨凌晨,手机震了。微信弹出一条消息:"下周那批订单,能确认交期吗?"总监盯着屏幕看了十秒,然后打开了三个窗口:代工厂的月度WIP报表(上周二的)封测厂对接人下午四点回的邮件:"应该在封装了,我明天确认"自己维护的Excel跟踪表(最后更新是三天前)打了一行字,又删掉。最后回复:"我明早确认后给你。"图片由AI生成这不是某家公司的特殊困境。
  • 一文读懂测试芯片(Test Chip/PCM):工艺开发的“体检表”2026-09-02 10:47

    当一条新工艺线开始跑第一批晶圆时,工程师面对的是一个巨大的"黑箱":光刻对准了吗?刻蚀剖面是否垂直?离子注入剂量是否准确?薄膜厚度均匀吗?器件性能达标吗?这些问题无法靠最终的芯片功能测试来回答——等到芯片做出来再发现工艺偏差,几个月的流片周期和数百万元的成本已经付之东流。于是,行业发明了一种"嵌入式体检"机制:在产品芯片的划片道中,或在专用的测试晶圆上,放置
    PCM 测试 测试芯片 120浏览量
  • SEMI AI研讨会观察:半导体制造的AI正在从孤立模型走向智能体系统2026-08-27 14:13

    从孤立模型到智能体系统:半导体制造AI的下一站当数据不再是瓶颈,真正的挑战变成了:如何让分散在设备、量测、工艺和工程师经验里的知识,真正连起来、用起来。几周前,SEMI(国际半导体产业协会)在加州举办了一场"半导体制造中的AI技术"研讨会。半导体制造商、设备供应商、EDA厂商和软件提供商齐聚一堂,分享AI在真实制造场景中的落地经验。尽管各家的用例各不相同,但
  • 10月大会即将揭晓 | 普迪飞全新 Exensio Aurora 高可扩展架构,重塑半导体智造AI分析能力!2026-08-20 11:03

    在将于10月15日至16日于加利福尼亚州旧金山举行的普迪飞(PDFSolutions)CONNECT大会上,我们将展示并演示ExensioAurora——其Exensio分析解决方案的全新高可扩展架构。ExensioAurora专为处理PB级半导体制造数据而构建,并可在制造运营和供应链中安全部署智能体AI(AgenticAI)。在本篇博客中,普迪飞总经理兼研
    AI 半导体 普迪飞 183浏览量
  • 合规≠安全!半导体全球化协作,晶圆厂如何走出传统 VPN 安全困局?2026-08-18 11:35

    核心要点运营安全必须转型:从"物理隔离"转向零信任架构,支持快速补丁修复、全域实时监控,建立"假设已遭入侵"的防御思维。连接方式必须升级:用可扩展的、受管控的集中化分段访问,取代VPN泛滥,在保障全球协作的同时缩减攻击面。专用框架已被验证:以secureWISE为例,"架构简化+以身份为核心的控制+经长期验证的架构",能够实现安全、可审计的晶圆厂协作。半导体
    VPN 半导体 晶圆 212浏览量
  • 行业洞察 | 超过 10,000 路信号互联,先进封装的检测盲区与数据孤岛,靠什么破解?2026-08-12 14:35

    保障多芯片封装可靠性,需要多种检测手段识别亚表面及内部隐蔽缺陷。键合结构与互连通道是故障高发区域,产线需增设多处检测节点;实现有效的可靠性管控,必须打通各环节相互独立的生产数据。芯粒多芯片封装的产业升级,对检测测试体系提出全新要求,是良率稳步提升、稳定工艺漂移的关键。传统光学检测+电性测试方案,已无法适配芯粒架构:待检测元器件数量激增,各类凸块、焊球尺寸与间
  • 普迪飞(PDF Solutions)发布财报:2026年Q2总收入达到6150万美元,同比增长19%2026-08-07 10:07

    2026年8月6日,普迪飞(PDFSolutions)公布了截至2026年6月30日的第二季度财务业绩。2026年第二季度财务亮点2026年第二季度总收入达到6150万美元,同比增长19%;2026年第二季度的GAAP毛利率69%,非GAAP毛利率为73%;2026年第二季度的GAAP营业利润率8%,非GAAP营业利润率22%;截至2026年6月30日,期末
    PDF 半导体 普迪飞 981浏览量
  • 从硅片到封装:800亿市场背后的测试革命2026-08-04 13:03

    前沿创新正从硅片延伸至封装领域,它正在重塑行业测量的对象、数据流动的路径,以及产业链各方的协作方式。本文整理自RamuneNagisetty在2026国际微电子封装大会(IMAPSCHIPcon)上的主旨演讲,深入剖析先进封装对芯片表征与测试的深远影响。数十年来,半导体技术革新始终围绕晶体管微缩展开:尺寸不断缩小、运行速度持续提升、单晶体管成本稳步下降。晶体
    封装 测试 硅片 455浏览量