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EVAL - ADuM4221EBZ评估板:隔离半桥栅极驱动器评测利器

chencui 2026-05-29 10:15 次阅读
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EVAL - ADuM4221EBZ评估板:隔离半桥栅极驱动器评测利器

在电子设计领域,栅极驱动器的性能对于功率电路的稳定运行至关重要。今天我们就来深入了解一下EVAL - ADuM4221EBZ评估板,它主要用于评估ADuM4221隔离半桥栅极驱动器,该驱动器采用了ADI公司的iCoupler®技术,具备诸多出色特性。

文件下载:EVAL-ADUM4221EBZ.pdf

评估板特性亮点

可调节死区时间

死区时间的可调节性为电路设计提供了更高的灵活性,能有效避免上下桥臂直通,增强电路的安全性和稳定性。比如在不同负载和工作频率下,通过调整死区时间可以优化电路性能。

宽输出电压范围

输出电压范围可达35V,这使得该评估板能够适配多种不同的功率器件,满足不同应用场景的需求。

便捷的连接方式

配备螺丝端子,方便进行各种连接操作,同时还预留了外部串联栅极电阻电容负载测试的焊盘,方便工程师进行多样化的测试和设计。

多种器件支持

支持TO - 220或TO - 252封装的IGBTMOSFET,为不同功率器件的测试和应用提供了便利。

自举选项

具备自举功能,通过合理配置可以实现用单个电源为二次侧供电,简化了电源设计。

简易半桥设置

通过跳线设置,可以轻松实现半桥电路的搭建,降低了测试和设计的难度。

评估板内容及所需设备

评估板包含EVAL - ADuM4221EBZ评估板。所需的测试设备包括:

  • 初级侧电源:0V至6.5V,100mA。
  • 两个次级侧电源:0V至35V,250mA。
  • 方波发生器:0V至5V。

评估板的硬件配置与使用

初始配置

在出厂配置下,评估板用于在无负载条件下测试基本栅极驱动器功能。可以使用螺丝端子或测试引脚进行输入、输出和信号连接。不过在初次使用前,需要完成一些准备步骤。比如R9至R14电阻未安装,这些位置用于放置外部串联电阻,作为被驱动器件的充放电路径。

被测设备焊盘布局

  • 芯片:U1为ADuM4221的焊盘。
  • 电容:C1、C4、C6为0.1µF旁路电容,C5和C7为10µF旁路电容,C2(未安装)为1µF电容。
  • 功率器件:Q1和Q2可安装TO - 220封装的MOSFET或IGBT,Q3和Q4可安装TO - 252封装的MOSFET或IGBT。
  • 电阻:R9至R14为栅极电阻,用于控制输出的转换速率,可安装1Ω至10Ω的1206尺寸贴片电阻
  • 电容负载:C3和C8的焊盘用于放置电容负载,模拟栅极电容。
  • 自举电路:D1和R8可用于为高端驱动器提供自举电源。
  • 可变电阻:R3(未安装)为最大500kΩ的可变电阻。

评估板设置

  • 栅极电阻:建议使用1Ω至10Ω的1206尺寸表面贴装外部栅极电阻,根据负载所需的驱动强度进行选择。
  • 二极管:二极管D2和D3未安装,但可用于提供不同的导通和关断路径。
  • 功率器件:可在Q1或Q3以及Q2或Q4的焊盘上安装IGBT或MOSFET。
  • 跳线设置
    • 跳线P13和P14分别用于短路低端和高端的外部串联电阻,以便观察过冲或测量峰值电流
    • R2位置放置了10kΩ的死区时间电阻,可更换为10kΩ至500kΩ范围内的电阻,以调整ADuM4221高低端输出之间的死区时间。也可使用电位器R3(未安装)进行更快速的死区时间调整。
    • 电阻R4和跳线P3可用于将高端逻辑输入端接50Ω负载,电阻R5和跳线P4可用于低端逻辑输入。
    • 跳线P6可将VIA连接到VDD1或GND,跳线P8可将VIB连接到VDD1或GND。
    • 在P6和P7之间放置跳线可将VIA连接到外部输入电压信号VINA,在P8和P9之间放置跳线可将VIB连接到VINB。

电源连接

  • 连接输入VDD1电源(2.5V至6.5V),正极接VDD1引脚,负极接GND引脚。
  • 连接VDDB电源(4.5V至35V),正极接VDDB引脚,负极接GND引脚。
  • 连接VDDA电源(4.5V至35V),正极接VDDA引脚,负极接GND引脚。注意GND、GND和GND_B相互隔离,高端IGBT发射极/MOSFET源极连接到GNDA,低端IGBT发射极/MOSFET源极连接到GND_B。

输入/输出连接

  • VIA和VIB引脚为逻辑电平输入,兼容3.3V和5V系统。可通过跳线或测试引脚将VIA连接到VINA,将VIB连接到VINB。
  • 由于内置重叠保护,任何时候只有一个输出为高电平,默认死区时间约为62ns(R2位置使用10kΩ电阻)。
  • P5头跳线在出厂配置下连接引脚2和引脚3以启用设备输出,连接引脚1和引脚2则禁用设备。禁用功能也可通过连接到禁用(DIS)测试引脚进行外部控制。
  • 评估板上的半桥输出(HB)测试引脚为Q2/Q4集电极/漏极节点,若使用半桥配置,可通过跳线P15将Q1/Q3发射极/源极连接到HB。总线电压(BUS)测试引脚连接到高端Q1和Q3 MOSFET/IGBT的漏极。
  • 建议C9使用100µF电解电容,C10和C11使用2.2µF陶瓷电容。

自举设置

若要在自举设置中使用单个二次侧电源,需安装自举二极管D1和电阻R8(阻值通常在1Ω至20Ω范围内)。在半桥配置下,ADuM4221的两个输出可由VDDB电源供电。当开关节点(GND_A)为低电平时,C4和C5通过正向偏置的自举二极管充电;当开关节点上升到桥电压时,二极管反向偏置,由于C4和C5上的电荷,VDA到GND几乎等于VDB,考虑到二极管的正向压降。为使自举功能正常工作,必须安装Q1和Q2或Q3和Q4,而不是负载电容C3和C8,并且需要在P15上放置跳线。同时,开关频率必须足够高,占空比必须受限,以确保为C4和C5提供足够的电荷来驱动Q1或Q3的栅极。

总结

EVAL - ADuM4221EBZ评估板为工程师提供了一个全面、便捷的平台,用于评估ADuM4221隔离半桥栅极驱动器的性能。通过合理配置和使用该评估板,工程师可以更好地了解和优化栅极驱动器在不同应用场景下的性能。大家在使用过程中有没有遇到过一些特殊的问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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