ATE测试是一种通过计算机控制,自动完成对待测器件(DUT)进行激励施加、信号采集、结果判定与数据处理的测试系统。其工作原理可拆解为以下关键环节:
1. 测试程序加载
主控计算机先载入针对DUT的测试程序,解析出激励波形、电压/电流档位、时序、判定阈值等全部测试向量 。
2. 信号激励与精密供电
程控信号源、电源模块按测试向量向DUT提供精确的电压、电流、时钟、数字图形或射频激励;开关矩阵/继电器网络把不同资源动态路由到对应管脚,实现“一套仪器多工位复用” 。
3. 响应采集与调理
DUT输出信号经探针卡或测试座进入ATE内部,由高速数字化仪、示波器、计数器、频谱仪等测量模块进行采样;信号调理电路(放大、滤波、阻抗匹配)保证采样精度 。
4. 实时比对与判定
处理器把实测值与测试程序中的上下限实时比较,同时监控功耗、短路、开路、接触电阻等异常;若任一参数超限即标记失败并触发中断,节省后续测试时间 。
5. 数据记录与分拣
测试结果、失效项目、Shmoo图、良率统计被即时写入数据库;机械手或分选机根据PASS/FAIL信号把器件放入对应料盘,实现全自动化分拣 。
6. 并行测试与高速扫描(高级场景)
ATE通过Streaming Scan Network等并行技术,把单组高速数据流解码后同时灌入多根扫描链,实现一拍多bit移入/移出,成倍提升扫描测试带宽 。
ATE测试
一句话总结:ATE测试的关键就是“程序控制激励→精确采集→实时比对→数据闭环”,用软硬件协同把人工示波器+电源+万用表+电子负载的传统测试流程压缩到毫秒甚至微秒级,并保证可重复、可追溯、可大规模并行。
审核编辑 黄宇
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