【干货速递】嵌入式数据可靠性，软件设计的这些细节不能忽视！

前两期内容分别讲述了嵌入式数据可靠性的元器件选型和硬件设计，这一期我们来讲讲软件设计。哪怕硬件设计再完善，但如果软件没有设计好，也达不到预期的可靠性。只有软硬件配合，才能妥善解决数据可靠性问题。

 软件设计

软件设计在嵌入式数据存储可靠性中扮演着至关重要的角色。它不仅包括系统驱动的开发，还涉及应用层面的优化。一个精心设计的软件系统可以显著提高数据的完整性和系统的稳定性。软件设计包括系统驱动和应用两个方面。

1. 系统驱动设计

系统驱动设计是软件设计的关键部分，它直接影响到硬件的性能和可靠性。

1.1 ECC校验

NAND Flash的底层驱动程序必须实现有效的ECC（错误校正码）校验，ECC校验能够检测并纠正一定范围内的错误，确保数据的完整性。在设计底层驱动时，务必确保ECC校验的准确性和可靠性。例如，对于SLC NAND Flash，ECC校验可以纠正单个位错误；对于MLC NAND Flash，ECC校验可以纠正多个位错误。

1.2 写平衡

文件系统应实现写平衡机制，确保NAND Flash的所有存储单元磨损情况基本一致。这不仅可以延长NAND Flash的使用寿命，还能提高整体数据的可靠性。通过合理分配写操作，避免某些存储单元过早损坏。常见的写平衡算法包括磨损均衡（Wear Leveling）和垃圾回收（Garbage Collection）。磨损均衡通过动态调整数据的写入位置，确保所有存储单元的使用次数均匀分布；垃圾回收则通过回收和重用已擦写的块，减少无效写入操作。

2. 应用设计优化

应用设计方面，主要目标是减少对存储器的写入次数和频率。NAND Flash的擦写次数有限，且擦写操作以块为单位。一旦某一块的擦写次数达到限制，这一块就会整体损坏，导致整块数据丢失，从而带来不可预知的故障。如果这一块坏区域刚好是NAND分区用于存放文件索引的话，那么整个物理分区的文件都会出现错误，如文件名乱码、文件丢失、文件不全等异常。

2.1 减少写入次数的策略

• 数据缓存

在应用层实现数据缓存，减少对NAND Flash的直接写入操作。例如，可以将频繁更新的数据暂存于RAM中，定期批量写入NAND Flash。这样可以减少写入次数，延长NAND Flash的使用寿命。

• 日志记录

实现日志记录机制，将关键数据的变更记录在日志文件中，而不是直接写入主数据文件。这样可以减少主数据文件的写入次数，延长其使用寿命。日志文件可以在系统空闲时进行批量处理，确保数据的完整性和一致性。

• 数据压缩

对写入NAND Flash的数据进行压缩，减少实际写入的数据量，从而减少写入次数。数据压缩不仅可以减少写入次数，还可以节省存储空间，提高存储效率。

 ZLG致远电子的解决方案

ZLG致远电子在设计核心板和工控板产品时，充分考虑了嵌入式数据存储的可靠性。我们在元器件选型、电路设计和系统驱动方面都提供了完善的设计和方案。如果您选购了我们的产品，只要在应用编程方面多加注意，您的数据可靠性就不会出现大问题。图1 ZLG致远电子边缘技术产品

到目前为止，我们已经介绍了嵌入式数据存储可靠性的四个方面，包括器件选型、电路设计、系统驱动和应用设计。软硬件的配合是确保数据可靠性的关键。如果您对嵌入式数据可靠性有其他建议和想法，欢迎在评论区留言讨论。