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HMC265次谐波混频器芯片技术手册

要长高 2025-04-01 14:47 次阅读
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概述
HMC265芯片是一款集成LO和IF放大器的次谐波(x2) MMIC下变频器。 该芯片利用GaAs PHEMT技术,芯片整体面积为1.74 mm²。 2LO至RF隔离性能出色,无需额外滤波。 LO放大器采用单偏置(+3V至+4V)双级设计,仅需-4 dBm的标称驱动。 所有数据均采用50 Ω测试夹具中的芯片测得,该夹具通过直径为0.025 mm (1 mil)、最小长度<0.31 mm (<12 mils)的焊线连接。 此下变频器IC对基于混合型二极管的下变频器MMIC组件是更小、更可靠的极佳替代品。
数据表:*附件:HMC265次谐波混频器芯片技术手册.pdf

应用

  • 微波点对点无线电
  • LMDS
  • SATCOM

特性

  • 集成LO放大器: -4 dBm输入
  • 次谐波(x2) LO
  • 集成IF放大器: 增益:3 dB
  • 小尺寸: 1.32 x 1.32 x 0.1 mm

逻辑图
image.png

电气规格
image.png

焊盘描述
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毫米波砷化镓单片微波集成电路(GaAs MMIC)的安装与键合技术

芯片应通过共晶方式或使用导电环氧直接连接到接地层(详见HMC通用操作、安装、键合说明 )。建议使用0.127毫米(5密耳)厚的氧化铝薄膜衬底制作50欧姆微带传输线,用于芯片的射频信号传输(图1)。如果使用0.254毫米(10密耳)厚的氧化铝薄膜衬底,芯片需凸起0.150毫米(6密耳),使芯片表面与衬底表面齐平。实现此目的的一种方法是将0.102毫米(4密耳)厚的芯片附着到0.150毫米(6密耳)厚的钼散热片(钼片)上,然后再将其连接到接地层(图2)。
image.png

为了缩短键合线长度,微带衬底应尽可能靠近芯片放置。芯片与衬底的典型间距为0.076 - 0.152毫米(3 - 6密耳)。

应在Vdd输入处使用射频旁路电容。建议使用100 pF单层电容(通过共晶或导电环氧安装),放置在距离芯片不超过0.762毫米(30密耳)处。图3中的照片展示了HMC265 MMIC芯片的典型组件。
image.png

操作注意事项

遵循以下预防措施,以免造成永久性损坏:

  • 存储 :所有裸芯片应放置在基于醚华夫格或凝胶的静电防护容器中,然后密封在静电防护袋中运输。静电防护袋一旦打开,所有芯片应存放在干燥的氮气环境中。
  • 清洁度 :在清洁环境中操作芯片,请勿使用液体清洁系统清洁芯片。
  • 静电敏感度 :遵循静电防护措施,防止静电冲击。
  • 瞬态 :施加偏置时,抑制仪器和偏置电源的瞬态。使用屏蔽信号线和偏置电缆,以减少电感拾取。
  • 一般操作 :使用真空吸笔或锋利的弯头镊子沿芯片边缘操作芯片。芯片表面有脆弱的空气桥,请勿用真空吸笔、镊子或手指触碰。

安装

芯片背面已金属化,可使用金锡共晶预制件或导电环氧进行贴装。贴装表面应清洁平整。

  • 共晶芯片贴装 :推荐使用80/20的金锡预制件,工作表面温度为255°C,工具温度为265°C。使用90/10的氮氢混合气体时,工具尖端温度应为290°C。请勿使芯片暴露在高于320°C的温度下超过20秒,贴装过程中擦拭时间不得超过3秒。
  • 环氧贴装 :在贴装表面涂抹少量环氧,确保芯片放置到位后,其周边能形成一圈薄环氧边。按制造商的固化时间表固化环氧。

引线键合

使用直径0.025毫米(1密耳)的纯金线进行球键合或楔键合。热压超声键合时,推荐使用的典型工作台温度为150°C,球键合压力为40 - 50克,楔键合压力为18 - 22克。使用最小限度的超声波能量,以实现可靠键合。键合从芯片开始,在封装或衬底上结束。所有键合线应尽可能短,长度小于0.31毫米(12密耳)。

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