在完全工作条件下测试前测量 LLC 谐振回路增益曲线的方法，包括其接线图、测试结果示例

本文主要介绍了一种在完全工作条件下测试前测量 LLC 谐振回路增益曲线的方法，包括其接线图、测试结果示例、在不同次级配置下的电压增益转换，以及该方法的优点和局限性。
*附件：在完全工作条件下进行测试之前测量 LLC.pdf

1. 测量方法及示例
   • 测量方法接线图 ：使用频率响应分析器，将其注入信号和通道 1 测量跨半桥初级侧元件连接，通道 2 跨次级绕组连接并加电阻模拟负载条件，通过展示通道 2 电压除以通道 1 电压的幅值绘制功率级增益。
   • 测试结果示例 ：给出了 LLC 谐振回路增益曲线测量示例图，展示了在一定频率范围内的增益情况。
2. 电压增益转换
   • 半桥 LLC 功率级常规情况 ：输出电压近似为输入电压、匝数比和工作频率下谐振回路增益的乘积。
   • 不同次级配置选项 ：次级侧配置全波整流器可使传输能量加倍，双端次级配置可实现四倍电压增益；若初级侧为全桥，相关比率需乘以系数 2。
3. 方法的益处与局限性
   • 益处 ：可直接在 PCB 上测量，考虑功率级寄生元件，如利用漏电感作为谐振电感器节省成本提高效率，还能通过测试增益曲线考虑额外寄生元件（如 MOSFET 输出电容）对设计优化。
   • 局限性 ：无法检测所有设计寄生元件，如次级绕组耦合不佳的效应，其虽不影响增益曲线，但会降低功率级性能，影响开关波形（如产生压降、泄漏尖峰），限制输出功率；改进次级绕组耦合可改善开关波形，但增益曲线可能无视觉差异。

审核编辑 黄宇