突破行业难题，硅片分选解决方案再升级！

硅片生产是光伏产业链上游的核心环节，为后续制造更高发电效率的光伏组件提供有力保障。随着市场对硅片品质的要求不断提高，硅片生产过程中的检测维度需更加精细，涵盖外观缺陷、尺寸、数量、平整度、距离和定位等高精度检测。

特别在生产工艺后段，品质管控的标准达到了新的高度。硅片在经历切割、清洗、烘干等工序后，将进行缺陷检测，然后直接包装出货。如何在高速产线上可靠识别、稳定检出缺陷，对 AI 的算法能力提出巨大挑战。

阿丘科技拥有丰富的落地经验和持续创新的技术积累，针对多个行业细分场景推出“最优系统”定制开发和 AI 解决方案，积极推进行业自动化，为客户提供更优质的选择。

AIDI专业级工业AI视觉算法平台软件内置八大 AI 功能，可用于解决复杂缺陷的定位、检测、分类及字符识别等问题。AIDI能够集成到多行业不同的产线设备中，持续开拓视觉检测应用场景，满足市场需求。经测试结果显示，在同等检测精细度情况下，AIDI 算法运行速度行业领先。

基于AIDI算法平台，阿丘科技推出多款配套工具，加速 AI 的落地应用，大幅提高模型训练的效率和准确性：

AI缺陷生成工具AIDG

生成多样缺陷参与训练

模型检测效果更加稳定

质检云系列AQCloud

使用云端资源训练，降低本地训练成本

多人协同数据标注，提高模型训练效率

增量训练

用少量数据调整模型

快速响应现场检测标准变动需求

硅片分选 AI 解决方案

/ SOLUTION

阿丘科技 AIDI 算法平台，以分割模块为核心，对图像进行像素级检测，精准识别硅片所有缺陷的位置、尺寸和类别。不仅实现硅片检测产线的自动化升级，还为客户实现品质管控闭环提供有力保障，确保生产流程的平稳进行。

- 指标要求高：硅片产线速度快、产量大、良率高，客户对过检率的要求是万分之几级别。

- 人工成本高：要求减少对人工的依赖，检测精度、速度需全面超越人工能力。

- 规格种类多：包括边长166 -230mm，全片和半片等多规格硅片。

- 行业难题：色差片时常引发批量性误判。

方案效

实现极限制造：检测节拍优于生产节拍，单通道最高18000uph，双通道最高34000uph（每小时产出），明显缺陷漏检率0%，过检率小于0.05%。

提高质检效率：可检出最小缺陷直径0.1mm的缺陷，与人眼分辨极限接近。

兼容全尺寸产品：为客户设计“尺寸自适应算法”，有效兼容不同规格的硅片，完成检测任务。

突破行业级难题：使用 AI 算法精准识别并屏蔽“色差区域”，在缺陷判定时即可排除色差干扰。

阿丘科技的深度参与和快速响应为客户提供了强有力的支持，硅片分选 AI 解决方案在精细度、速度、指标和兼容性等方面表现出色，助力实现低成本、高质量的目标。