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光伏组件暴露在次电压和温度条件下的功率损耗测试设备

美能光伏 2024-01-11 08:32 次阅读
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光伏组件是将太阳能转化为电能的重要设备,但在长期运行中可能会遭受PID效应的影响。为了确保光伏组件性能和可靠性国际电工委员会(IEC)制定了一系列标准,其中包括对PID的测试要求。来自美能光伏PID测试仪,助力评估光伏组件暴露在的次电压和温度条件下的性能衰减情况

为什么要进行PID测试

PID测试是评估光伏组件在高温高湿条件下的性能衰减程度的过程。这种衰减主要是由于光伏组件中的电位差引起的。在光伏组件中,电池片与玻璃、背板之间形成了一个电容,当湿度和温度升高时,电容中的电荷会发生迁移,导致电位差产生。这个电位差会使得电池片的工作状态发生变化,进而导致性能衰减ed578f86-b018-11ee-aa22-92fbcf53809c.png

PID的发生主要与以下几个因素有关:

  • 环境条件:高温、高湿、高盐碱等环境会加速PID的发生,尤其是沿海地区

  • 外部电压光伏组件在电站中与逆变器、边框、接地等部件连接,形成一定的电压偏差,导致电池片受到正偏压或负偏压。

组件结构:不同类型的电池片(如P型或N型)、封装材料、玻璃等,对PID的敏感性和抵抗性不同。

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PID测试的国际标准

为了评估光伏组件PID效应IEC制定了一系列国际标准,其中最常用的是IEC 62804标准。该标准规定了PID测试的方法和要求,包括测试温度、湿度、电压等参数。根据该标准,PID测试应在85℃的温度下进行,湿度85%持续时间96小时。测试过程中,通过施加一定的电压,评估光伏组件性能衰减程度。根据IEC 62804标准,要求组件的功率衰减不超过5%,没有外观不合格现象,湿漏电流符合IEC 61215标准,组件功能完整。

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I-V曲线(PID效应测试前(左),测试后(右))

美能PID测试仪

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介绍:

长期泄漏电流会造成电池片载流子及耗尽层状态发生变化、电路中的接触电阻受到腐蚀、封装材料受到电化学腐蚀等问题,从而导致电池片功率衰减、串联电阻增大、透光率降低、脱层等影响组件长期发电量及寿命的现象。本设备为根据IEC62804 标准研发的光伏组件 PID 测试系统。测试目的:1.评估光伏组件承受系统偏压的能力;2.测试光伏组件承受系统电压、温度、湿度等各种应力的能力

3.减少和预防PID现象。

满足标准:

满足IEC61215标准中MQT21条款IEC62804标准

功能特点:

•组件边框端接地,既模拟实际情况,又防止由于边框高压引起的潜在危险

•各通道相互独立,多路电压大小、极性、时间单独设置

多路电压、泄露电流、绝缘电阻同时显示;

实时监控电压、泄露电流、绝缘电阻曲线;光伏组件PID测试是确保光伏组件性能和可靠性的重要步骤。通过遵循IEC标准,可以评估光伏组件在高温高湿条件下的性能衰减情况,有助于客户制造高质量的光伏组件,并采取措施来减轻PID效应的影响。来自美能光伏电位诱导退化(PID)测试机符合相关国际标准和规范的要求,对于推广太阳能发电技术和产业发展有着重要的意义。

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