工业显微CT机X射线微焦点断层扫描系统介绍

工业显微CT机X射线微焦点断层扫描系统-Xradia Context microCT是一款大观察视野、无损3DX射线微焦点计算断层扫描系统, 现已加入蔡司X射线成像产品组合。蔡司Xradia Context是一款能满足多种3D表征和检测需求的成像解决方案, 不仅能够在3D全景中展示完整大样品的内部细节，还能针对小样品使用大的几何放大倍数实现高分辨率和高衬度成像观察细节特征。Xradia Context建立在历经考验的蔡司 Xradia平台之上, 图像质量、稳定性和易用性均属上乘, 且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。

蔡司工业显微CT机X射线微焦点断层扫描系统

全情景三维成像
高像素密度探测器（六百万像素）能够在完整的3D环境中解析精细细节，即使在相对较大的成像体积内也是如此。或者使用小样本最大化几何放大倍率，以识别和表征衬度和清晰度的微米级结构。快速的样品安装和校准，流程化的的采集工作流程，快速曝光时间和数据重建以及可选的自动加载器系统使Xradia Context成为高通量成像的利器，可满足广泛的3D成像和表征需求。

成熟的Xradia系列产品，数据质量可靠
Xradia Context建立在经过时间考验和备受推崇的Xradia技术之上，在系统稳定性、图像质量和可用性三方面被反复证实可靠。Scout-and-Scan控制系统提供高效的工作流环境。使用Autoloader扩大已有系统，实现自动处理和多达14个样品的顺序扫描。还可以用来做4D研究以测量材料微观结构在不同条件下的变化。