使用OI-EASU321对芯片进行EMI表面扫描测试实例

OI-EAS系列电磁干扰扫描仪是一款具有四高特征的产品：高性能、高柔性组合、高性价比、高端技术；也是一款自主品牌国产化的电磁兼容测试设备，产品参考GB9254、GB18655、GJB151B、IEC61697-3等电磁兼容测试标准进行设计。OI-EAS系列EMI扫描仪是一套四向定位系统，与近场探头和频谱干扰接收机相结合，完成PCB板或类似电源适配器、智能穿戴电子设备等小型电子产品以及芯片的辐射骚扰自动测试；可用于测试PCB板、小型电子设备、器件等产品的电磁兼容性，精度可达±0.05mm。具有非常友好的设备兼容性，可兼容市面上主流的频谱、接收机和近场探头组等。今天我们使用OI-EASU321对泰克示波器演示版DPO DEMO 2 进行扫描测试。

测试设备：

罗德与施瓦茨频谱分析仪FPC1500；扫描仪OI-EASS321；固纬EMI电场探头PR-02；

本次测量只对晶振和芯片附近进行扫描，扫描区域尺寸（红色框内）40mm*80mm;

我们先设定设备参数：扫描频率：520MHz；分辨率带宽：10kHz；检波器类型：最大峰值检波；步进：2mm；经过一段时间的扫描后我们可以得到如下效果图：

在520MHz可以明显看出被测样品扫描区域的对外辐射情况，图片下方红色区域是FlexRAY插针，图片中部黄色区域是SG-625PHC晶体振荡器。

其他测试图片如下：