半导体测试系统 芯片自动化测试软件 可定制测试方案ATECLOUD-IC

测试产品：芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。

ATECLOUD-IC可测试产品类型

二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件自动化测试

ATECLOUD-IC与传统芯片测试系统区别

ATECLOUD-IC解决测试痛点

人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性；

测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求；

记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性；

长时间测试，工作量大，需要降低测试成本；

现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品；

需要满足特定的测试需求，如外购配件等；

需要符合自身芯片测试方法；

需要寻找国产化替代方案；

ATECLOUD-IC测试项目清单

ATECLOUD-IC测试仪器及配件

系统通过GPIB、RS232、LAN、USB等多种通讯方式集成多种类测试仪器，系统兼容多种品牌仪器型号，全面降低企业产品测试成本，提高产品测试效率，测试数据智能分析，全面提高企业产品生产质量。

用户仪器可自由选型：兼容2000多种不同厂家、型号的仪器，不会被固定硬件限制选择，经济适用。

ATECLOUD-IC功能介绍

快速方案搭建，一键运行测试

支持多种测试项目配置并可重复使用，批量测试

自动存储测试数据和图片数据

具有设备自检功能，提示甲方设备离线或不存在

测试过程实时观测，自动判别产品是否合格

ATECLOUD-IC芯片测试平台方案搭建界面

ATECLOUD-IC芯片测试平台运行测试界面

记录报告

历史测试列表展示：已完成的历史测试以列表形式展示，可按试验的关键信息、时间等条件进行查询。

详细历史试验信息：对每一次历史试验，可查看试验基本信息、试验时间信息、试验报警记录信息、试验数据监测信息，并进一步查询每个监测点的历史记录。

数据洞察，发挥数据无限价值

数据权限：为不同管理层创建数据看板，高效生产；

自定义分析图表：甲方可自定义分析图表，多层级、多维度展现生产过程；

数据导入与对接：支持系统与外部数据导入，与其他系统数据对接；

大数据和云计算：充分利用大数据和云计算，发挥数据的无限价值；

生成图表：支持生成图表，方便数据分析。

数据总览示意图

数据图表示意图

ATECLOUD-IC平台部分合作客户

ATECLOUD-IC平台应用案例

上海某电源管理芯片生产企业

被测产品：电源管理芯片

ATECLOUD-Power部分测试项目展示

审核编辑：汤梓红