高低温试验箱的满足标准及试验方法
GB11158-2008高温试验箱技术条件
GB10589-2008低温试验箱技术条件
GB10592-2008高低温试验箱技术条件(温度交变)
GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验
GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验
GJB150.5-1986温度冲击试验
测试样品案例:电工电子产品
试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。低温条件下试件的失效模式:产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。
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