1.目标
本次测试的目的是为了演示HDS-35屏蔽效能测试系统是如何用于测量铜箔屏蔽材料的屏蔽效能值。
2.测量设置
HDS-35屏蔽效能测试系统具有3.6GHz频率的屏蔽效能测试,配合我司的频谱分析仪,非常适合做平面材料的电磁屏蔽效能测量,如下图所示:
HDS-35屏蔽效能测试系统由屏蔽效能测试装置、屏蔽分析仪、自动测试软件一起组成,如上图。
3.开始测量
打开自动测试软件和频谱分析仪,自动测试软件与频谱分析仪通过USB电缆线连接,在软件中找到频谱分析仪即可,连接方式如下图所示:
使用HDS-35屏蔽效能测试系统做屏蔽效能测试前,先要将频谱分析仪和我们的屏蔽效能测试装置进行校准,校准后的数据如下图所示:
做好校准后,把铜箔材料放到屏蔽效能测试装置中,点击自动测试软件中的开始测试即可对铜箔屏蔽材料进行测试了。测试的数据如下图所示:
4.结论:
HDS-35屏蔽效能测试系统非常适合从1M-3.6GHz频率的平面材料的屏蔽效能测试,能非常真实的反映平面材料的屏蔽效能值。此外,我们还可以定制8GHz的屏蔽效能测试系统,以适合更高频率的屏蔽效能测试。
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