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碳化硅功率器件及应用

国晶微第三代半导体碳化硅SiC 来源:国晶微第三代半导体碳化 2023-05-10 09:43 次阅读

碳化硅(SiC)半导体材料是自第一代元素半导体材料(Si、Ge)和第二代化合物半导体材料(GaAs、GaP、InP等)之后发展起来的第三代半导体材料。作为一种宽禁带半导体材料,碳化硅具有禁带宽度大、击穿场强高、热导率大、载流子饱和漂移速度高、介电常数小、抗辐射能力强、化学稳定性良好等特点,可以用来制造各种耐高温的高频大功率器件,应用于硅器件难以胜任的场合,或在一般应用中产生硅器件难以产生的效果。

1.碳化硅材料的特点

SiC材料的一个显著特点是同质多型,制作器件最常用的是4H-SiC和6H-SiC两种。如表1所示,和传统的半导体材料,如Si、GaAs等相比,SiC材料具有更高的热传导率(3~13倍),使得SiC器件可以在高温下长时间稳定工作;更高的临界击穿电场(4~20倍)和更大的载流子饱和速率,有利于提高器件的工作频率。

2.SiC材料制备

SiC单晶的制备最常用的方法是物理气相传输(PVT),大约占晶圆供应量的90%以上。此外,高温化学气相淀积(CVD)也越来越重要,该方法能产生极低杂质含量的晶锭。同时,这两种方法均可应用于制备SiC外延。20世纪50年代Lely使用两层石墨舟,使外层的坩埚加热到2500℃,SiC透过里层的多空石墨升华进入内层形成晶体。70年代后期,Tairrov和Tsvetkov对Lely法进行了改进,SiC源在石墨舟的底部,底部温度达2200℃,顶部温度较低并放置籽晶,温度梯度为20~40℃/cm,这种方法又称为PVT。

由于SiC单晶的制备难度较大,成本高,因此SiC外延生长在SiC器件技术中举足轻重。对于不同的衬底,生长SiC外延可以分为两种:以SiC为衬底的同质外延生长和以Si和蓝宝石为衬底的异质外延生长。自从较大直径的SiC晶片商业化后,SiC同质外延生长技术发展很快,SiC同质外延生长主要采用以下方法:升华或物理气相传输(PVT)、分子束外延(MBE)、液相外延(LPE)及化学气相淀积(CVD)。

分子束外延法将原材料进行蒸发并作为分子束进行传输,最后到达经过预热、处于旋转状态的衬底。这种方法可以提供高纯质量、高精准厚度、低温(600~1200℃)的外延层。液相外延是一种相对比较简单而且成本较低的生长方法,生长发生在三相平衡线上,但这种方法对外延层表面形貌难以进行很好地控制,进而限制了LPE的使用。

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化学气相淀积法中,衬底放在旋转同时被加热的石墨托盘上,气相的分子束扩散到衬底表面并分解,由衬底表面吸收后与表面反应,形成外延层。这种方法目前是SiC衬底生产的主要外延工艺。

3.SiC功率器件及应用

SiC功率器件主要包括功率二极管(SBD和PiN等)、单极型功率晶体管(MOSFET、JFET和SIT等)和双极型载流子功率晶体管(BJT和GTO等)。

3.1功率二极管

肖特基势垒二极管(SBD)作为一种单极性器件,在导通过程中没有额外载流子注入和储存,因而基本没有反向恢复电流,其关断过程很快,开关损耗很小。由于碳化硅材料的临界雪崩击穿电场强度较高,可以制作出超过1000V的反向击穿电压。在3kV以上的整流器应用领域,由于SiC PiN二极管与Si器件相比具有更快的开关速度、高结温承受能力、高电流密度和更高的功率密度,SiC PiN二极管在电力设备、能量储备、超高压固态电源领域扮演更重要的角色。

3.2单极型功率晶体管

碳化硅MOSFET的突出优势体现在:导通电阻小;低电容,开关速度快;驱动电路简单;正温度系数易于并联。因而,应用碳化硅MOSFET能够提高系统的效率,降低散热需求,提高开关频率且增加雪崩强度。这些优势决定了其在太阳能转换器、高压DC/DC变换器和电机驱动等领域中具有广阔的应用。由于SiC MOSFET存在沟道电子迁移率和SiO2层击穿的问题,因此作为没有肖特基接触和MOS界面的单极器件SiC JFET就很有吸引力。SiC JFET有着优良的特性和结构和相对简化的制造工艺。SiC JFET产品分为常开沟道型(normally-on)和常闭沟道型(normally-off)两种,其中常闭沟道型能够与现有的标准栅极驱动芯片相匹配,而常开沟道型则需要负压维持关断状态。SIT(静电感应晶体管),主要用于从超高频到微波频率的大功率放大器和发射器、电源调节设备中的大功率转换。

3.3双极型载流子功率晶体管

SiC双极型功率器件BJT因SiC临界雪崩击穿电场强度是Si的10倍,而比Si BJT的二次击穿临界电流密度高100倍,不会有Si BJT那样严峻的二次击穿问题,此外,临界雪崩击穿电场强度高这一材料优势也使SiC BJT在相同的阻断电压下可比Si BJT有较窄的基区和集电区,这对提高电流增益β和开关速度十分有利,SiC BJT主要分为外延发射极和离子注入发射极BJT,典型的电流增益在10~50之间。与碳化硅功率MOS相比,对3kV以上的阻断电压,碳化硅晶闸管的通态电流密度可以提高几个数量级,特别适合高压大电流开关方面的应用。对碳化硅晶闸管的开发主要集中于GTO,目前阻断电压最大的GTO器件,阻断电压为12.7kV。

SiC材料的优良特性及SiC功率器件的巨大性能优势,激励着人们不断地研究与开发,随着大尺寸SiC晶圆生长技术和器件制造技术的的发展,SiC功率器件将在民用和军事方面得到更广泛的应用。

无锡国晶微半导体技术有限公司是宽禁带第三代半导体碳化硅SiC功率器件、氮化镓GaN光电器件以及常规集成电路研发及产业化的高科技创新型企业,从事碳化硅场效应管,碳化硅肖特基二极管、GaN光电光耦继电器、单片机集成电路等产品芯片设计、生产与销售并提供相关产品整体方案设计配套服务,总部位于江苏省无锡市高新技术开发区内,并在杭州、深圳和香港设有研发中心和销售服务支持中心及办事处。

公司具有国内领先的研发实力,专注于为客户提供高效能、低功耗、低阻值、品质稳定的碳化硅高低功率器件及光电集成电路产品,同时提供一站式的应用解决方案和现场技术支持服务,使客户的系统性能优异、灵活可靠,并具有成本竞争力。

公司的碳化硅功率器件涵盖650V/2A-100A,1200V/2A-90A,1700V/5A-80A等系列,产品已经投入批量生产,产品完全可以对标国际品牌同行的先进品质及水平。先后推出全电流电压等级碳化硅肖特基二极管、通过工业级、车规级可靠性测试的碳化硅MOSFET系列产品,性能达到国际先进水平,应用于太阳能逆变电源、新能源电动汽车及充电桩智能电网、高频电焊、轨道交通、工业控制特种电源、国防军工等领域。由于其具有高速开关和低导通电阻的特性,即使在高温条件下也能体现优异的电气特性,大幅降低开关损耗,使元器件更小型化及轻量化,效能更高效,提高系统整体可靠性,可使电动汽车在续航里程提升10%,整车重量降低5%左右,并实现设计用充电桩的高温环境下安全、稳定运行。

特别在高低压光耦半导体技术方面更是拥有业内领先的研发团队。在国内创先设计开发了28nm光敏光栅开关PVG芯片技术,并成功量产应用于60V、400V、600V高低压、低内阻、低电容的光电耦合继电器芯片、涵盖1500kVrms SOP超小封装及3750kVrms隔离增强型常规SMD、DIP等不同封装,单路、双路、混合双路、常开常闭等电路产品,另包括200V SOI MOS/LIGBT集成芯片、100V CMOS/LDMOS集成芯片、8bit及32bit单片机等集成电路产品,均获得市场及各重点科研单位、检测机构的新产品认定。

公司核心研发团队中大部分工程师拥有硕士及以上学位,并有多名博士主持项目的开发。公司建立了科技创新和知识产权管理的规范体系,在电路设计、半导体器件及工艺设计、可靠性设计、器件模型提取等方面积累了众多核心技术,拥有多项国际、国内自主发明专利。

“国之重器,从晶出发,自强自主,成就百年”是国晶微半导体的企业目标,我们为员工提供精彩的发展空间,为客户提供精良的产品服务,我们真诚期待与您携手共赢未来。

审核编辑:汤梓红

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原文标题:碳化硅功率器件及应用!

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