虹科电子致力于为测试测量行业提升高性能数字化仪解决方案

近期广州虹科电子科技有限公司与德国Spectrum Instruments 达成合作，正式成为其在大中华区的销售和技术支持中心，一起致力于为测试测量行业提升高性能数字化仪解决方案。

自动测试设备

计算机控制的测试有助于通过提高效率和提高质量来提高制造生产力。自动测试设备 (ATE) 起着至关重要的作用，因为它可以比以前使用手动程序以更快的速度和更可控的方式进行更严格的测试。ATE 可以涉及以非常高的速率连续进行的单次测量或由大量不同仪器进行的多次测量。在被测设备 (DUT) 或被测单元 (UUT) 上进行的测量通常由某种形式的计算机以自动方式计算、存储和分析。该过程有助于消除人为错误，并允许以可重复的方式进行故障诊断，即使涉及复杂的测量。

虹科提供种类繁多的数字化仪和任意波形发生器，适用于需要捕获、生成和分析电子信号的 ATE 应用。产品采用多种流行标准，包括 PCI、PCIe、PXI、LXI 和 cPCI。数字化仪提供 50 kHz 至 1.5 GHz 的带宽、100 KS/s 至 5 GS/s 的采样率以及 8 至 16 位的分辨率。由于能够捕获和分析从 DC 到 1.5 GHz 的信号，数字化仪可用于测试各种 DUT 和 UUT。例如，当需要大动态范围和最大灵敏度时，可以使用高分辨率 14 位和 16 位数字化仪来捕获和分析频率高达 250 MHz 的信号。这些高分辨率产品提供出色的信噪比（高达 72 dB）和无杂散动态范围（高达 90 dB），因此可以检测和分析微小的信号变化。它们是测试精密组件、传感器和系统的完美工具，这些组件、传感器和系统会生成需要严格控制的信号。对于更高频率的测量，例如 PCB 板和半导体设备上的测量，合作商Spectrum 公司的超快 5 GS/s 卡可以表征低至纳秒和亚纳秒范围的信号和脉冲。

为了轻松集成到 ATE 系统中，虹科可以提供了适用于 32 位和 64 位版本的 Windows 和 Linux 的软件和仪器驱动程序。也可以使用多种语言对卡进行编程，例如 LabVIEW、LabWindows/CVI、C++、MatLab、Borland Delphi、Visual Basic、VB.NET、C#、J# 和 IVI。

每个数字化仪卡可以有 1 到 16 个通道。多张卡可以与 Spectrum 的 StarHub 系统连接在一起，以创建具有多达数百个完全同步通道的仪器，对于一些需要监控多个信号或测试点的应用来说是非常合适的。一些卡还提供额外的模拟和数字 I/O 功能以及高级触发和时钟选项，以便它们可以与大量不同的测试仪器协同工作。

适用范围：汽车，航空航天，半导体，试验超声/超声激光

Spectrum产品特征

有PCIe, PCI, PXI, LXI和cPCI四种版本

采样率从100KS/s到5 GS/s

带宽可达1.5 GHz

分辨率从8位到16位

Star-Hub用于具有完全同步的高通道数系统

具有模拟和数字通道采集和生成功能的混合模式系统

LabVIEW、LabWindows、MATLAB、C++、Delphi、Visual Basic、VB.NET、c#、J#、Python 和 IVI 驱动程序

匹配卡系列

M4i.44xx：14/16位500MS/s至130 MS/s数字化仪

M2p.59xx：16位20MS/s至125 MS/s数字化器

M4i.22xx：8位1.25GS/s至5 GS/s数字化仪

DN2.4xx：16位500MS/s至200 KS/s数字化器NETBOX LXI/以太网数字化器

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如果您也需要进行自动设备测试应用，欢迎您来电垂询！联系方式如下：

原文标题：虹科新品 | 自动测试设备

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审核编辑:汤梓红