0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

芝识课堂分立半导体—电路中的光学器件(下)

东芝半导体 来源:东芝半导体 作者:东芝半导体 2021-11-26 15:04 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

众所周知,但凡是涉及到AC-DC或中高电压DC-DC电源转换的电子电路,都需要电气隔离。而光耦作为一种常见的隔离器件,广泛用于各个领域的电气和电子系统设计中,来保障人和电路的安全。在前面的文章中,我们介绍了光耦的分类与安全标准,今天要跟大家继续介绍光耦的特性及应用实例。

光耦的特性:CTR和触发LED电流

在光耦应用中,电流传输比(CTR)是一个非常重要的特性,晶体管耦合器的CTR是用输出电流相对于输入电流的放大率来表示的。

电流传输比=CTR=IC/IE=输出(集电极)电流/输入电流×100(%)

0d6f32fe-4dad-11ec-9eda-dac502259ad0.png

触发LED电流是指触发状态发生变化的LED电流,常用IFT、IFH、IFLH等符号表示。触发LED电流是电路设计和使用寿命设计的重要项目。为了稳定运行,设计人员在设计时必须保证至少有触发LED电流(最大值)流动。

0d94d798-4dad-11ec-9eda-dac502259ad0.png

光耦发光元件(LED)的光输出会随时间的推移而减弱。为了使器件能够正常使用,设计人员需要根据使用设备的使用环境和LED的总工作时间来计算LED的光输出变化,且必须将该值反映在LED正向电流(IF)的初始值中。在光耦中,LED光输出的老化变化比受光器件的老化变化更为明显。因此,设计人员需要利用所采用的光耦的老化变化数据来估计发光等级的降低趋势。

既然光耦对于电路如此重要,那么我们应该如何设计LED输入侧的电阻RIN和输出侧的电阻RL?我们又应该如何选择耦合器的CTR呢?下面我们就以光电晶体管耦合器信号接口设计为实例来一起探讨光耦的应用技巧。

一般来说,对于光耦的使用选型可分为四个部分,即(1)设计LED输入电流IF及输入侧电阻RIN。(2)根据IF和CTR计算输出电流。(3)设计输出侧电阻RL。(4)检查每个设计常数。

0dc0e504-4dad-11ec-9eda-dac502259ad0.png

特别是在检查每个设计常数时,要适当考虑工作温度、速度、使用寿命设计、电阻公差等是否具有足够的裕度。只有充分考虑到以上几点,才能保证光耦发挥最大的作用哦。

光耦虽小,但在电子电路中的重要性不言而喻,因此,大家设计电路时一定要根据自己的需求正确选型和使用。东芝在光耦器件领域深耕多年,有着非常丰富的产品阵容,如果想对此产品有更深入的了解,欢迎前往东芝官网了解更多哦~

编辑:jq

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • led
    led
    +关注

    关注

    244

    文章

    24731

    浏览量

    692594
  • 电阻
    +关注

    关注

    88

    文章

    5818

    浏览量

    179973
  • 光耦
    +关注

    关注

    30

    文章

    1628

    浏览量

    62329

原文标题:芝识课堂【分立半导体】——电路中的“无声英雄”:光学器件(下)

文章出处:【微信号:toshiba_semicon,微信公众号:东芝半导体】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    深入剖析PN结的单向导电原理

    在上期课堂,我们学习了能带理论和掺杂魔法,创造了n型和p型半导体
    的头像 发表于 02-01 10:03 1258次阅读
    深入剖析PN结的单向导电原理

    半导体分立器件测试:「筑牢产业基石,智领未来升级」

    半导体分立器件测试设备,光耦测试仪,IGBT/IPM/MOSFET测试,Si/SiC/GaN材料的IPM、IGBT、MOS、DIODE、BJT、SCR等功率器件及光耦、LRC等全参数测
    的头像 发表于 01-29 16:37 394次阅读
    <b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>测试:「筑牢产业基石,智领未来升级」

    「聚焦半导体分立器件综合测试系统」“测什么?为什么测!用在哪?”「深度解读」

    随着科技发展,高端设备应用与半导体器件发展密不可分,其应用场景与稳定性直接决定产品性能,半导体分立器件综合测试系统是
    发表于 01-29 16:20

    半导体分立器件静态参数测试仪系统STD2000X使用价值和选型参考

    半导体分立器件静态参数测试仪系统在半导体研发、生产、质量控制及应用具有重要的使用价值和意义,主要体现在以下几个方面: 1. 技术价值:确保
    的头像 发表于 12-16 16:22 493次阅读
    <b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>静态参数测试仪系统STD2000X使用价值和选型参考

    倾佳代理的基本半导体碳化硅MOSFET分立器件产品力及应用深度分析

    倾佳代理的基本半导体碳化硅MOSFET分立器件产品力及应用深度分析 I. 执行摘要 (Executive Summary) 基本半导体(BASiC Semiconductor)提供的碳
    的头像 发表于 10-21 10:12 739次阅读
    倾佳代理的基本<b class='flag-5'>半导体</b>碳化硅MOSFET<b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>产品力及应用深度分析

    半导体分立器件测试系统的用途及如何选择合适的半导体分立器件测试系统

    半导体分立器件测试系统是用于评估二极管、晶体管、晶闸管等独立功能器件性能的专业设备。 一、核心功能 ‌ 参数测试 ‌ ‌ 静态参数 ‌:击穿电压(V(BR))、漏电流(I(CES)
    的头像 发表于 10-16 10:59 748次阅读
    <b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>测试系统的用途及如何选择合适的<b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>测试系统

    BW-4022A半导体分立器件综合测试平台---精准洞察,卓越测量

    精准洞察,卓越测量---BW-4022A半导体分立器件综合测试平台 原创 一觉睡到童年 陕西博微电通科技 2025年09月25日 19:08 陕西 在半导体产业蓬勃发展的浪潮
    发表于 10-10 10:35

    长晶科技荣膺2024年半导体行业功率器件十强企业

    7月26日-27日,第十九届中国半导体行业协会半导体分立器件年会在江苏南京召开。会议期间,中国半导体行业协会正式发布了“2024年
    的头像 发表于 08-01 17:58 2206次阅读

    A22: 分立半导体器件知识与应用专题--MOS管知识及应用案例

    A22-3分立半导体器件(MOS管)知识与应用专题
    的头像 发表于 07-30 09:57 2.7w次阅读
    A22: <b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>器件</b>知识与应用专题--MOS管知识及应用案例

    A22: 分立半导体器件知识与应用专题--三极管知识及应用案例

    A22-2分立半导体器件(三极管)知识与应用专题
    的头像 发表于 07-30 09:55 800次阅读
    A22: <b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>器件</b>知识与应用专题--三极管知识及应用案例

    A22: 分立半导体器件知识与应用专题--二极管知识及应用案例

    A22-1分立半导体器件(二极管)知识与应用专题
    的头像 发表于 07-30 09:46 1.3w次阅读
    A22: <b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>器件</b>知识与应用专题--二极管知识及应用案例

    半导体分立器件测试的对象与分类、测试参数,测试设备的分类与测试能力

    半导体分立器件测试是对二极管、晶体管、晶闸管等独立功能半导体器件的性能参数进行系统性检测的过程,旨在评估其电气特性、可靠性和适用性。以下是主
    的头像 发表于 07-22 17:46 1223次阅读
    <b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>测试的对象与分类、测试参数,测试设备的分类与测试能力

    现代集成电路半导体器件

    目录 第1章 半导体的电子和空穴第2章 电子和空穴的运动与复合 第3章 器件制造技术 第4章 PN结和金属半导体结 第5章 MOS电容 第6章 MOSFET晶体管 第7章 IC
    发表于 07-12 16:18

    功率半导体器件——理论及应用

    本书较全面地讲述了现有各类重要功率半导体器件的结构、基本原理、设计原则和应用特性,有机地将功率器件的设计、器件的物理过程和
    发表于 07-11 14:49

    半导体分立器件分类、静态参数及测量是什么?

    根据半导体分立器件的功能与结构差异,可将其分为以下核心类别,各类型典型器件及应用场景如下: ‌一、基础二极管类‌   ‌类型‌ ‌代表器件
    的头像 发表于 06-23 12:28 1384次阅读
    <b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>分立</b><b class='flag-5'>器件</b>分类、静态参数及测量是什么?