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CMOS 磁传感器结构:AEAT-6600-T16

电子设计 来源:eeweb 作者: Avago 技术 2021-06-16 17:56 次阅读
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AEAT-6600-T16 是一种 CMOS 磁传感器结构,适用于基于霍尔效应的非接触式 360° 编码。它提供高达 16 位分辨率的角度输出和高达 1024 CPR 的同步增量输出。该器件核心处的集成霍尔结构使用单个偶极盘磁体将芯片平面中的磁场矢量转换为幅度和相位对应于磁场大小和方向的交流信号

然后内部数字信号处理单元处理和调节来自传感器的原始交流信号。输出信号以三种不同的形式提供:脉冲宽度调制 (PWM)、通过串行同步接口 (SSI) 的 16 位绝对位置以及具有 10 位分辨率的增量输出。通过在编程模式下配置内部寄存器,可以对器件的多个编码器功能进行编程。

操作模式

AEAT-6600-T16 具有四种操作模式:正常操作模式、一次性编程 (OTP) 模式、对齐模式和掉电模式。下面的图 1 显示了访问各种模式所需的设置。

poYBAGDJyjyASsTWAABh1KB2RRU527.png

正常操作模式(ALIGN = 0,PROG = 0)

Normal 模式是芯片的正常工作模式。绝对输出(10、12、14 或 16 位绝对位置数据)可通过 SSI 引脚(DO、CLK 和 NCS 引脚)获得。默认情况下,输出 PWM 处于关闭状态,增量输出、A/B/I 和 UVW 也是如此。输出 MAG_HI 和 MAG_LO 开启以确定磁铁的存在和强度。

OTP 编程模式(ALIGN = 0,PROG = 1)

AEAT-6600-T16 是一种一次性可编程 (OTP) ASIC。OTP 寄存器默认为 0。通过 SPI/SSI 引脚(DO/CLK/NCS)在编程模式(ALIGN、PWRDOWN – 设置为低、PROG – 设置为高)下启用编程。在此模式下,MAG_HI 和 MAG_LO 分别执行 OTP_ERR 和 OPT_PROG_STAT 的功能,推荐电路图如下图 1 所示。第一位设置为 0 或 1 以读取或写入,然后是 32 位数据和偶校验位。VPP 连接到 6.5V。AEAT-6600-T16 的编程可以使用 HEDS-8937、编程套件或任何测试仪/编程器设备按照提供的指南进行。

写模式:通过DO(输入)和CLK写32位数据加上偶校验位。

读模式:通过DO(输出)和CLK读取32位数据加上偶校验位。

pYYBAGDJykWAW14gAACv1Z1Lha0759.png

AEAT-6600 也无需编程即可操作。默认情况下,绝对分辨率为 10 位,零位未编程,方向为逆时针操作,禁用增量模式,速度模式设置为慢速模式。

绝对和增量编程

绝对分辨率可设置为 10、12、14 或 16 位。默认情况下,分辨率设置为 10 位。对于增量选择,可以选择 ABI 或 UVW。但是,必须先启用增量模式。必须启用脉宽调制 (PWM) 输出,并且可以通过此模式启用周期。也可以在此处选择旋转方向。

编辑:hfy

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