温度传感器—热电偶标定
实验 温度传感器——热电偶标定实验原理:以K 分度热电偶作为标准热电偶来校准E 分度热电偶,由于被校热电偶热电势与标准热电偶热电势的误差为...
MPX扩散硅压阻式传感器
实验 MPX扩散硅压阻式传感器 实验原理:MPX 压阻式传感器芯片是用集成工艺技术在硅片上制造出四个呈X 型的等值电阻组成的电路,它用...
交流全桥振幅测量实验
实验 交流全桥振幅测量实验实验原理:当双平行悬臂梁被不同频率的信号激励时,起振幅度不同,贴于应变梁表面的应变片所受应力不同,应变片组成的电...
交流激励频率对全桥的影响
实验 交流激励频率对全桥的影响 实验目地:通过改变交流全桥的激励频率以提高和改善测试系统的抗干扰性和灵敏度。 ...
交流信号激励的称重传感器实验
实验 交流信号激励的称重传感器实验实验目地:商用称重传感器实际使用时一般都为交流激励,通过此实验验证交流激励较之直流激励可以使传感器提高抗干...
箔式应变计组成的交流应变全桥
实验 箔式应变计组成的交流应变全桥实验目的:本实验说明交流激励的四臂应变电桥的原理及工作情况。实验原理:图(8)是交流全桥的一般形式。当...
箔式应变计与半导体应变计性能比较
实验 箔式应变计与半导体应变计性能比较实验目地:通过实验对两种应变电路的特性有充分的了解实验所需部件:直流稳压电源、箔式应变计、半导体...
半导体应变计直流半桥测试
实验 半导体应变计直流半桥测试实验目的:了解实际运用的半导体应变电桥的运用。实验所需部件:半导体应变计(二片)、直流稳压电源(2V)、应变...
半导体应变计性能
实验 半导体应变计性能实验原理:半导体应变计主要是根据硅半导体材料的压阻效应制成,当半导体晶体受到作用力时,晶体除产生应变外,电阻率也会发生...
箔式应变计的温度效应及补偿
箔式应变计的温度效应及补偿实验原理:当应变片所处环境温度发生变化时,由于其敏感栅本身的温度系数,自身的标称电阻值发生变化,而贴应变片的测试...
金属箔式应变计三种桥路性能比较
实验 金属箔式应变计三种桥路性能比较实验原理:已知单臂、半桥和全桥电路的ΣR 分别为△R/ R、△2R/ R、4△R/ R。根据戴维南定理可以得出测试...
金属箔式应变计性能—应变电桥
实验 金属箔式应变计性能——应变电桥实验目的:1、观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式。2、测试应变梁变形的应变输出。3、比较各...
CSY2001B型传感器系统综合实验台使用说明
CSY2001B型传感器系统综合实验台使用说明 CSY2001B型传感器系统综合实验台为完全模块式结构,分主机、实验模块和实验桌三部分。根据用户...
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模拟大咖对话:国产替代之后的中国模拟芯出路何在?
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