--- 数据手册 ---
--- 产品详情 ---
瑞斯特(RST) RSTN15P26A5 REVA是一款采用DFN2×3-6L小型表面贴装封装的P沟道增强型功率MOSFET,额定耐压-18V,连续漏极电流达-5.6A(环境温度25°C、VGS=-4.5V条件下),典型导通电阻低至26mΩ(VGS=-4.5V, IDS=-6.5A)和36mΩ(VGS=-2.5V, IDS=-4A)。该器件通过100% UIS(非钳位感性开关)测试,具备±12V的栅源电压容限,最大结温150°C,热阻结到环境在瞬态(t≤10s)条件下为50°C/W、稳态条件下为80°C/W(基于1平方英寸焊盘),在笔记本电脑电源管理、便携式设备及电池供电系统中展现出优异的可靠性与鲁棒性。其超小型DFN2×3-6L封装(典型尺寸2mm×3mm,高度0.70~0.80mm)配合多漏极引脚设计(引脚1、2、5、6共用漏极),有效提升了电流承载能力与散热效率,适合空间受限的高密度PCB布局。
从静态特性来看,RSTN15P26A5的阈值电压VGS(th)典型值为-0.7V(范围-0.5~-1.0V),这一较低的阈值电压使其在低压驱动场景下具有良好的导通灵敏度。在VGS=-4.5V、IDS=-6.5A测试条件下导通电阻典型值26mΩ、最大值30mΩ;在VGS=-2.5V、IDS=-4A条件下典型值36mΩ、最大值41mΩ;在VGS=-1.8V、IDS=-2A条件下典型值50mΩ、最大值64mΩ,从RDS(ON)随栅压变化的曲线可以看出,VGS从-1.8V提升至-4.5V时导通电阻显著下降,设计时需权衡驱动电压与导通损耗。体二极管正向压降典型值-0.7V(ISD=-1A),反向恢复时间trr典型16ns、反向恢复电荷Qrr典型8nC(ISD=-6.5A, dISD/dt=100A/μs),极快的反向恢复特性使其在同步整流与负载开关应用中能有效抑制电压尖峰与EMI。动态特性方面,栅极电阻典型值2.4Ω,输入电容Ciss典型815pF、输出电容Coss典型145pF、反向传输电容Crss典型110pF(VGS=0V, VDS=-10V, 1MHz);开关特性上,开通延迟时间td(ON)典型8ns、上升时间tr典型13ns,关断延迟时间td(OFF)典型34ns、下降时间tf典型15ns(VDD=-10V, RL=10Ω, IDS=-1A, VGEN=-10V, RG=6Ω),总栅极电荷Qg典型8nC、栅源电荷Qgs典型1.6nC、栅漏电荷Qgd典型1.9nC(VDS=-10V, VGS=-4.5V, IDS=-6.5A),极低的栅极电荷与纳秒级开关速度使其在高频开关应用中具备低驱动损耗与快速响应优势。
温度特性是评估功率器件实际应用边界的关键维度。从典型特性曲线可知,RDS(ON)随结温升高呈正温度系数变化,25°C时归一化基准约为0.82(对应约30mΩ),至150°C时归一化值升至约1.42,即高温下导通电阻约为常温的1.73倍,温升系数相对温和。环境温度从25°C升至150°C时,最大功耗从2.5W线性降至0W,70°C时降至1.6W;连续漏极电流从25°C时的-5.6A降至70°C时的-4.2A。栅极阈值电压随结温升高而降低(绝对值减小),从-50°C时的约1.4倍归一值降至150°C时的约0.4倍,设计驱动电路时需考虑低温下阈值电压绝对值增大可能导致的导通延迟,以及高温下阈值电压绝对值减小可能引起的误导通风险。安全工作区(SOA)曲线显示,在RDS(ON)限制区、最大电流限制区及不同脉宽(300μs至DC)的热限制区之间,器件在VDS=-18V、脉宽300μs条件下最大电流约30A,随着脉宽增加,热限制区的电流能力显著下降,DC条件下VDS=-18V时安全电流已降至约0.1A量级,短时脉冲应用与持续导通应用的设计边界差异显著。
RSTN15P26A5 REVA的典型应用场景聚焦于三大领域:一是笔记本电脑电源管理中的负载开关与电源路径控制,利用其P沟道特性可直接由系统正电源轨驱动栅极,简化高边开关电路设计,-18V的耐压等级适配笔记本内部5V~12V总线架构,26mΩ的低导通电阻可将负载开关的压降与功耗控制在极低水平,DFN2×3-6L的超小封装则满足笔记本主板对元件高度的严格限制;二是便携式设备(智能手机、平板电脑、TWS耳机充电仓等)的电池保护与充放电管理,其低阈值电压(-0.7V典型值)支持1.8V~3.3V逻辑电平直接驱动,省去电平转换电路,极低的栅极电荷(8nC)与快速开关特性有助于降低电池管理系统的静态功耗与开关损耗,延长电池续航;三是电池供电系统的DC-DC变换器同步整流,P沟道MOSFET在Buck变换器高边位置的应用可省去自举驱动电路,简化拓扑设计,16ns的体二极管反向恢复时间与8nC的反向恢复电荷使其在轻载至重载全范围内均能保持高效率,特别适用于对EMI与效率同时敏感的便携式医疗设备和工业手持终端。在PCB布局时,建议参考数据手册推荐的焊盘尺寸(1.6mm×1.775mm主体区域,漏极焊盘0.95mm×0.84mm),充分利用多漏极引脚的并联结构以优化电流分布与散热路径。
为你推荐
-
瑞斯特(RST) LU012N10XD10-RST 100V/360A大电流MOSFET技术分析2026-09-19 22:21
产品型号: LU012N10XD10-RST -
瑞斯特(RST) LR175N25S10-RST 250V TOLL封装MOSFET技术分析2026-09-19 22:18
产品型号:LR175N25S10-RST -
瑞斯特(RST) LR052N10SML8-RST DFN5×6封装快恢复N沟道MOSFET技术解析2026-09-19 22:16
产品型号:LR052N10SML8-RST -
瑞斯特(RST) LR046N10SM10-RST 超低栅电荷高频N沟道MOSFET技术解析2026-09-19 22:14
产品型号:LR046N10SM10-RST -
瑞斯特(RST) LR048N10SM8-RST 100V/110A功率MOSFET参数解读2026-09-19 22:13
产品型号:LR048N10SM8-RST -
瑞斯特(RST) LR030N10SM3-RST TO-220封装100V N沟道MOSFET技术解析2026-09-19 22:10
产品型号: LR030N10SM3-RST -
瑞斯特(RST) LR030N10SM0-RST TO-263-7封装100V MOSFET技术要点梳理2026-09-19 22:09
产品型号:LR030N10SM0-RST -
瑞斯特(RST) LR026N09XD10-RST 90V TOLL封装MOSFET技术解析2026-09-19 22:05
产品型号:LR026N09XD10-RST -
瑞斯特(RST) LR028N10SM10-RST 低密勒电容高速N沟道MOSFET技术解析2026-09-19 22:03
产品型号:LR028N10SM10-RST -
瑞斯特(RST) LR020N10SM0-RST TO263-7封装100V功率MOSFET技术分享2026-09-19 21:59
产品型号:LR020N10SM0-RST
-
瑞斯特半导体顺利通过ISO 9001、14001、45001 三大管理体系认证2026-08-05 22:14
-
瑞斯特(RST)体系保障之销售与服务体系2026-06-30 22:02
-
瑞斯特(RST)体系保障之人力资源与文化体系2026-06-22 22:10
-
瑞斯特(RST)体系保障之供应链与制造体系2026-06-15 22:08
-
瑞斯特(RST)体系保障之研发与工程体系2026-06-12 22:16
-
避开红海,深耕蓝海:为什么瑞斯特半导体(RST)将“腰部客户”作为战略核心2026-06-12 22:13
-
瑞斯特RST四大核心经营理念2026-05-19 21:25
-
以精工智造,驱动产业效率,赋能美好生活:瑞斯特半导体的时代使命2026-05-15 08:22
-
于方寸之间,创造无限可能:瑞斯特半导体的破局之道2026-05-15 08:20
-
永不失联:瑞斯特半导体的信仰,亦是国产芯片的时代答卷2026-05-15 08:19