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瑞斯特半导体

RSTTEK瑞斯特半导体是一家专注于功率半导体器件研发、设计与销售的科技企业,致力于为全球客户提供高性能、高可靠性的功率器件解决方案。

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瑞斯特(RST) RSTD15N10GD REVA N沟道增强型MOSFET技术解析

型号: RSTD15N10GD
品牌: (瑞斯特)

--- 数据手册 ---

--- 产品详情 ---

RSTD15N10GD REVA是瑞斯特(RST)推出的一款100V N沟道增强型功率MOSFET,采用TO-252(DPAK)表面贴装封装。该器件基于先进沟槽栅(Trench)工艺技术制造,在100V漏源电压等级下实现了优异的导通电阻特性:在VGS=10V、ID=8A测试条件下,典型导通电阻低至70mΩ;在VGS=4.5V、ID=7A时典型值为85mΩ。这种低栅压驱动能力使其能够直接兼容5V逻辑电平的控制信号,无需额外的电平转换电路。器件的栅源电压额定值为±20V,栅极阈值电压VGS(th)范围为1V至3V(典型值2V),零栅压漏极电流IDSS在VDS=80V时不超过1µA(TJ=85°C时不超过30µA),栅极漏电流IGSS在VGS=±20V时不超过±100nA。在动态特性方面,该器件总栅极电荷Qg在VDS=30V、VGS=4.5V、ID=8A条件下典型值为7.1nC,在VDS=30V、VGS=10V、ID=8A条件下典型值为15nC,其中栅源电荷Qgs为2.8nC,栅漏电荷Qgd为2.8nC,输入电容Ciss典型值为740pF(最大960pF),反向传输电容Crss为24pF(测试条件:VGS=0V, VDS=30V, f=1MHz)。开关特性方面,在VDD=30V、RL=3Ω、ID=1A、VGEN=10V、RG=6Ω的测试条件下,开通延迟时间td(ON)典型值为11ns,上升时间tr为6ns,关断延迟时间td(OFF)为27ns,下降时间tf为5ns。源漏二极管反向恢复时间trr典型值为24ns(ISD=8A, dISD/dt=100A/µs)。与市场上同类型竞品相比,如UTC的15N10(Rds(on)≤100mΩ@VGS=10V, ID=8A,热阻RθJA=45°C/W, RθJC=2°C/W,Qg=15.5nC)、森利威尔SL15N10(Rds(on)<100mΩ@VGS=10V,RθJA=45°C/W,EAS=11.5mJ)以及Infineon的IRLR3410(100V/15A/105mΩ/TO-252,Qg=22.7nC),RSTD15N10GD REVA在导通电阻和栅极电荷方面具有一定竞争力,其70mΩ的典型值优于UTC 15N10的100mΩ和IRLR3410的105mΩ。该器件的连续漏极电流在TC=25°C时达到15A,TC=100°C时仍可保持9A,脉冲漏极电流在TC=25°C时可达60A,最大功耗在TC=25°C条件下为44W,TC=100°C时为17W,TA=25°C时约为2.5W,TA=70°C时为1.6W,结温工作范围为-55°C至+150°C,热阻RθJC为2.8°C/W,RθJA在TA=25°C表面贴装条件下为50°C/W。源漏二极管正向压降VSD在ISD=8A、VGS=0V条件下典型值为0.8V,最大值为1.3V。该器件经过100% UIS(非钳位感性开关)测试和Rg测试,单脉冲雪崩电流IAS为7A(L=0.5mH),单脉冲雪崩能量EAS为12mJ,符合RoHS无铅环保标准。

从器件物理特性角度分析,RSTD15N10GD REVA的沟槽栅结构有效提高了沟道密度,降低了比导通电阻(Rds(on)×Area),这是其实现低导通电阻的关键。其输出特性曲线显示,在VGS=3.5V至10V范围内,器件在低压区(VDS < 2V)呈现明显的线性电阻特性,随着VDS增大进入饱和区;在VGS=2.5V时,器件在VDS约1V处即进入饱和,饱和电流约2A;在VGS=3V时饱和电流约6A;在VGS=3.5V及以上时饱和电流超过12A。导通电阻随漏极电流变化的曲线显示,在VGS=10V条件下,当ID从3A增至15A时,Rds(on)从约70mΩ缓慢上升至约110mΩ,表现出良好的电流线性度;在VGS=4.5V条件下,ID=3A时Rds(on)约85mΩ,ID=7A时约95mΩ,ID=12A时约110mΩ。栅源导通电阻曲线(Rds(on) vs VGS)显示,在ID=8A条件下,当VGS从2.5V增至4V时,Rds(on)从约180mΩ急剧下降至约85mΩ,在VGS=6V时降至约75mΩ,在VGS=8V时趋于平稳约70mΩ,这说明器件在VGS>6V后已进入充分导通状态。温度特性方面,归一化导通电阻在TJ=150°C时约为25°C时的2.0倍(Rds(on)@TJ=25°C典型值为80mΩ),归一化阈值电压在TJ=150°C时约为25°C时的0.7倍,这意味着高温下导通损耗显著增加但开启更容易。栅极电荷曲线呈现典型的米勒平台特性,在Qg约2nC至5nC区间出现明显的平台电压约3.5V,这与栅漏电荷Qgd的充放电过程相对应。电容特性随VDS变化的趋势显示,输入电容Ciss在VDS=0V时约1050pF,随VDS增大至40V时降至约740pF;输出电容Coss和反向传输电容Crss均随VDS增大而单调递减,这符合沟槽MOSFET的电容-电压特性规律。安全操作区(SOA)曲线覆盖了从DC到100µs脉冲宽度的多种工作模式,在单脉冲条件下器件可承受更高的电流和电压组合,DC条件下在VDS=10V时最大电流约15A,在VDS=100V时最大电流约2A。热瞬态阻抗曲线显示,在单脉冲条件下,归一化热阻在1ms时约0.02,在10ms时约0.08,在100ms时约0.3,在1s时接近1.0。

在典型应用场景方面,RSTD15N10GD REVA凭借其100V的耐压等级、低导通电阻、低栅极电荷和快速开关特性,主要适用于DC/DC变换器、电机驱动、负载开关和电池保护等应用。在DC/DC变换器应用中,该器件可作为同步整流管或主开关管使用,100V的耐压等级可覆盖12V至48V输入的降压变换器(Buck)和升压变换器(Boost),在VGS=10V驱动条件下,70mΩ的导通电阻在8A电流下产生约4.5W的导通损耗,配合2.8°C/W的结壳热阻和TO-252封装的大面积散热焊盘,通过合理的散热设计可满足数十瓦至百瓦级功率转换的需求。其7.1nC的低栅极电荷(VGS=4.5V条件下)有助于降低驱动损耗,使得该器件在较高开关频率(如100kHz-300kHz)下仍能保持较高的转换效率。在电机驱动应用中,100V的耐压等级可覆盖24V和48V直流电机系统,15A的连续电流能力可驱动数百瓦功率的电机负载,24ns的反向恢复时间有助于降低半桥拓扑中的体二极管反向恢复损耗。在电池保护电路中,该器件可用于锂电池组的充放电路径控制,100V的耐压等级可覆盖多节串联电池组(如7节串联约29.4V,留有充足裕量),而15A的连续电流能力可满足大电流快充应用的需求。在负载开关应用中,该器件的N沟道结构允许源极接地、漏极接负载的低侧开关拓扑,驱动电路简单直接,2V的典型阈值电压使其可由3.3V或5V逻辑电平直接驱动。此外,在LED驱动、电磁阀控制、继电器驱动以及各类需要快速开关的电源分配网络中,RSTD15N10GD REVA的TO-252封装提供了良好的散热性能和机械强度,适合通过回流焊工艺进行自动化生产,同时其100% UIS测试和12mJ的雪崩能量保证了器件在感性负载关断时的雪崩耐受能力,提升了系统可靠性。

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