--- 产品参数 ---
- 直流电压 100mV~1000V
- 直流电流 100μA -10A
- 交流电压 100mV~750V (3Hz-300kHz)
- 交流电流 100μA~10A(3Hz-10kHz)
- 电阻 10Ω -100MΩ
- 电容 1nF -10mF
- 二极管通断 5V
--- 数据手册 ---
--- 产品详情 ---
UI-7110是一款多功能可程控六位半数字表,可用于计量测试或高精度工业测试,生产线或测试机柜系统集成等。
进口精密仪表国产化,可替代Aglient(Keysight)34401、34410 、34461
含后面板输入测试端子,GPIB、LAN、USB接口,在线测控方便
出厂可出具国防一级计量站校准证书,环境试验满足等军工级别,质量可靠有保障
为你推荐
-
UI-7110 六位半数字多用表2022-06-02 09:35
产品型号:UI-7110 直流电压:100mV~1000V 直流电流:100μA -10A 交流电压:100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流电流:100μA~10A(3Hz-10kHz) 电阻:10Ω -100MΩ -
源测量单元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-06-01 15:32
产品型号:UI-X6330 输出通道数(DACs:4 上电后继电器状态:全通道关闭 工作温度:0 °C to +55 °C 存储温度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U -
源测量单元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-05-31 15:23
产品型号:UI-X6320 输出通道数(DACs:4 上电后继电器状态:全通道关闭 工作温度:0 °C to +55 °C 存储温度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U -
100M动态数字功能板卡(Timing,PPMU)2022-05-25 15:12
产品型号:UI-X6920 型号:X6920 时钟速率:5kHz ~100 MHz 通道数:32 pins (通过级联最高可达512 pins) Pattern内存:64M/每通道 Sequence内存:64M/每通道 -
MEMS芯片测试板卡2022-02-21 15:14
产品型号:UI-X6220 时针速率:10MHz(最大) 通道数:32pins?card 驱动电流:正负32mA DC(最大) 电压精度:16bits 电压量程:-1V到+10V -
100M动态数字功能板卡(Timing,PPMU)2022-02-21 11:29
产品型号:UI-X6920 时针速率:5KHz~100MHz 通道数:32pins Pattern内存:64M/每通道 Sequence:64M/每通道 并行测试能力:Any pin to any site -
MEMS芯片测试系统2021-12-13 17:15
产品型号:UI300系列MEMS传感器测试机 Pin Channe:32~224pin (支持多板卡扩展) Test Rate:10MHz PMU:PMU per channel/16bit DPS:-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang:2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8 -
MEMS芯片测试板卡2021-12-08 14:49
产品型号:UI-X6220 时钟速率:10MHz(最大) 通道数:32pins/card 电压量程:-1V到正负10V 驱动电流:正负32mA DC(最大) 电压精度:16bits -
BMS测试系统2021-12-02 10:58
产品型号:UI120C系列 集成电池管理系统自动测试系统 单体电压:0.1-5V 电压输出精度:正负1mV 步进精度:<0.5mA 隔离电压:正负750V 安全保护:短路保护,极性反转保护,过热保护,多通道互锁结构 -
BMS测试产品2021-12-02 10:47
产品型号:UI100E 系列 锂电池模拟模块 电池仿真通道:16 单体电压:1.3V-5V 电压输出精度:正负1mV 电压回读精度:正负1mV 电压输出步进:0.15mV
-
北京汉通达科技有限公司与苏州赛迈测控技术有限公司签署战略合作协议2025-11-14 10:02
-
测试计划与测试策略的工程化边界2025-11-07 10:05
-
【综述】工作总有规范——测试执行和bug2025-10-24 10:04
-
十四年过去,再谈“测试已死”2025-10-17 10:05
-
破防了,为什么硬件工程师这么难啊!!!!2025-10-10 10:04
-
如何让大模型生成你想要的测试用例?2025-09-26 10:01
-
推荐5个让测试效率翻倍的MCP2025-09-19 10:02
-
“没什么可测”时,测试工程师可以做什么?2025-09-12 10:03
-
芯片硬件测试用例2025-09-05 10:04
-
测试技术的发展2025-08-22 10:02
-
MEMS传感器转台测试设备2021-12-13 15:30