企业号介绍

全部
  • 全部
  • 产品
  • 方案
  • 文章
  • 资料
  • 企业

汉通达

开发、生产计算机软硬件，开发电子测控仪器仪表及配套机械设备，以及批发、零售和售后服务。

206 内容数 51w+ 浏览量 212 粉丝

BMS测试系统

汉通达 BMS电池管理系统
型号： UI120C系列 集成电池管理系统自动测试系统

--- 产品参数 ---

  • 单体电压 0.1-5V
  • 电压输出精度 正负1mV
  • 步进精度 <0.5mA
  • 隔离电压 正负750V
  • 安全保护 短路保护，极性反转保护，过热保护，多通道互锁结构

--- 数据手册 ---

UI120C系列.pdf

--- 产品详情 ---

UI120C系列集成BMS测试系统是针对混合动力汽车、纯电动汽车BMS测试的需求而推出的高精度集成自动测试系统解决方案。可以通过专用硬件配合系统软件完整仿真汽车动力电池组的各种工作状态与故障状态，广泛适用于BMS开发与调试、BMS生产与下线检测，以及BMS检修与维护，特别是电池厂对于配套厂商提供的BMS产品的验收等。为了方便用户使用，UI120C系列支持系统级接口API，用户可以根据自己的需求进行二次开发，并开放CAN协议编辑窗口，满足不同CAN协议的解析。

为你推荐

产品 文章 方案 资料

  • UI-7110 六位半数字多用表2022-06-02 09:35

    产品型号：UI-7110 直流电压：100mV~1000V 直流电流：100μA -10A 交流电压：100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流电流：100μA~10A(3Hz-10kHz) 电阻：10Ω -100MΩ

  • 源测量单元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-06-01 15:32

    产品型号：UI-X6330 输出通道数(DACs：4 上电后继电器状态：全通道关闭 工作温度：0 °C to +55 °C 存储温度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U

  • 源测量单元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-05-31 15:23

    产品型号：UI-X6320 输出通道数(DACs：4 上电后继电器状态：全通道关闭 工作温度：0 °C to +55 °C 存储温度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U

  • 100M动态数字功能板卡（Timing，PPMU）2022-05-25 15:12

    产品型号：UI-X6920 型号：X6920 时钟速率：5kHz ~100 MHz 通道数：32 pins (通过级联最高可达512 pins) Pattern内存：64M/每通道 Sequence内存：64M/每通道

  • MEMS芯片测试板卡2022-02-21 15:14

    产品型号：UI-X6220 时针速率：10MHz（最大） 通道数：32pins?card 驱动电流：正负32mA DC（最大） 电压精度：16bits 电压量程：-1V到+10V

  • 100M动态数字功能板卡（Timing，PPMU）2022-02-21 11:29

    产品型号：UI-X6920 时针速率：5KHz~100MHz 通道数：32pins Pattern内存：64M/每通道 Sequence：64M/每通道 并行测试能力：Any pin to any site

  • MEMS芯片测试系统2021-12-13 17:15

    产品型号：UI300系列MEMS传感器测试机 Pin Channe：32~224pin (支持多板卡扩展) Test Rate：10MHz PMU：PMU per channel/16bit DPS：-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang：2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8

  • MEMS芯片测试板卡2021-12-08 14:49

    产品型号：UI-X6220 时钟速率：10MHz（最大） 通道数：32pins/card 电压量程：-1V到正负10V 驱动电流：正负32mA DC（最大） 电压精度：16bits

  • BMS测试系统2021-12-02 10:58

    产品型号：UI120C系列 集成电池管理系统自动测试系统 单体电压：0.1-5V 电压输出精度：正负1mV 步进精度：<0.5mA 隔离电压：正负750V 安全保护：短路保护，极性反转保护，过热保护，多通道互锁结构

  • BMS测试产品2021-12-02 10:47

    产品型号：UI100E 系列 锂电池模拟模块 电池仿真通道：16 单体电压：1.3V-5V 电压输出精度：正负1mV 电压回读精度：正负1mV 电压输出步进：0.15mV

  • 芯片良率为什么跟die size有关系2026-06-18 10:02

    今天聊一下为啥diesize越大，良率相对就容易较低，以前只是感觉是这么回事，但好像没怎么深入探究一下，今天就来聊一下这个话题。一、良率是什么？最直白的定义：但"良率"这个词在不同阶段含义略有不同我们通常说的"良率"，主要指的是Die良率——一张晶圆上，有多少比例的Die是好的。二、为什么晶圆上有坏的Die？一张300mm晶圆，面积约706cm²，上面可能有
    358浏览量

  • AI 审核芯片测试板，能找出真问题吗？2026-06-12 10:04

    最近，我委托合作方设计了一款芯片测试用的PCB电路板。合作方完成原理图后，把PDF文件交给我审查。我想测试一下AI在审查电路图方面的效果，就把PDF文件丢给Codex，它竟然精准找到了两个真问题。其中一个问题相对隐蔽，我看到的时候倒吸一口凉气。省流版本：Codex先解析PDF，判定这是Altium导出的原理图，然后对图纸分区裁剪、逐一识别电路和元件，同时联网
    430浏览量

  • AI Coding 时代，测试工程师怎么做测试？2026-06-05 10:02

    一、时代背景：AI写代码快了，测试跟得上吗？AI编程工具的普及，让开发速度发生了质变。一个功能以前可能需要三天，现在半天出来了。迭代节奏加快了，但测试的方式还停留在原地——用例还是手写，回归还是靠人跑，联调还是拉着开发一起等。结果就是：AI让开发提速，测试成了新的瓶颈。靠加人、加班追赶是追不上的。思路必须变。———二、AI能完全替代执行测试吗？先给结论：结构
    520浏览量

  • RF 测试分析2026-05-22 10:03

    RF测试项测试原理是什么？射频（RF）是RadioFrequency的缩写，一般定义信号频率在300kHz到300GHz之间的电磁波信号，为RF信号。RF信号的常见应用场景为：无线通信和雷达等领域。我们先来简单熟悉一下RF通信的过程，RF通信在结构上分为Tx(发送端)和Rx(接收端)两大部分。对于不同的通信场景（wifi，蓝牙，蜂窝数据），调制方式会有不同,
    1353浏览量

  • 芯片测试不是跑得越慢越稳：测试时间优化的5个方法2026-05-15 10:04

    一颗芯片的测试时间，直接决定了每小时能测多少颗。测试时间越长，成本越高。到了量产阶段，每缩短1秒，乘以年产量，就是一笔可观的节省。但优化测试时间不能牺牲测试质量。今天聊聊5个既安全又有效的方法。01方法一：合并测试项很多测试程序把相关参数拆成多个测试项分开测，每次都要重新配置硬件、重新等待稳定。优化思路很简单，把能在同一个条件下测的参数合并到一起。举个例子，
    373浏览量

  • 用一行命令搞定半导体测试数据分析2026-05-08 10:02

    做ATE测试的同学应该都有过这样的经历，实验室机台调试时，跑完一批测试，拿到一堆STDF文件，由于是二进制文件无法直接查看。想看某个测试项的数据分布？想对比不同批次的良率？想出个报告给老板看？对不起，先找个能解析STDF的工具吧。找到的要么收费，要么功能有限，要么界面像上个世纪的产物。所以我自己写了一个stdf-reader，开源免费，一行命令安装，用起来就
    337浏览量

  • 芯片 ESD 测试核心模型全解析｜从基础原理到波形特征2026-04-24 10:03

    在芯片的设计、生产、测试全流程中，ESD（静电放电）是无处不在的“隐形杀手”，瞬间的静电冲击可能直接导致芯片栅氧击穿、金属连线烧毁，最终引发失效。而ESD测试是验证芯片抗静电能力的核心手段，其中芯片级ESD测试的四大核心模型（HBM/MM/CDM/HMM）更是行业研发、量产的重要依据。今天就带大家系统梳理芯片级ESD测试的主流模型，从模拟场景、等效电路到放电
    463浏览量

  • 芯片的“第一道体检”：一文读懂CP测试，半导体人必看！2026-04-17 10:03

    在芯片从晶圆到成品的漫长旅程里，有一道看不见却至关重要的关卡——CP测试。它被称为芯片良率的“守门员”、封装成本的“节流阀”，更是半导体产业链里前端制造与后端封测之间的关键枢纽。今天这篇，用通俗、好懂、能直接拿去用的方式，把CP测试讲透一、先搞懂：CP测试到底是什么？CP=ChipProbing，也叫晶圆测试/中测/WaferSort。一句话定义：在晶圆完成
    1590浏览量

  • 未来测试圈新范式：不懂Skills的测试人，正在被AI悄悄淘汰2026-04-10 10:02

    最近，在测试圈和AI圈，"Skills"这个概念的热度高居不下，成为行业热议的焦点话题。不少测试工程师和AI爱好者都在询问我：Skills到底是什么？它和刚推出的MCP（ModelControlPlatform）有什么关系？作为测试人员有必要学习这项技术吗？如果是零基础该如何快速上手？其实，作为测试从业者，我们学习Skills的核心目的极其朴素且实用：用最低
    1058浏览量

  • 芯片测试设备市场持续高速增长--Handler市场2033年将达29.7亿美元 | CAGR 6.8%2026-04-03 10:01

    据SiliconSemiconductorMagazine2026年3月12日报道，全球半导体芯片测试Handler市场规模预计到2033年将达到29.7亿美元，复合年增长率（CAGR）为6.8%。汽车电子和AI芯片的爆发式需求正成为推动这一市场持续扩张的核心引擎。市场全景：从16亿到30亿的倍增之路根据GrowthMarketReports的最新研究数据，
    1053浏览量

  • MEMS传感器转台测试设备2021-12-13 15:30

    联合仪器MEMS测试系统UI320采用测试机加转台的构架，是对MEMS陀螺仪和加速度计的测试平台。可对MEMS传感器芯片进行测试，支持I2C/SPI的通讯方式，提供免费的开源软件底层API基于C开发，支持VC,VC++，labview等。
    2.7k浏览量