广立微YMS系统助力思特威CMOS图像传感器良率提升

CMOS图像传感器(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Image Sensor 简称CIS)是一种将光信号转换为电信号，并进一步处理为数字图像信号的半导体器件，是摄像头的核心元件，被广泛应用于相机、手机、车载视觉等各领域摄像头中。

近日，广立微(Semitronix)与中国本土CMOS图像传感器的先进供应商思特威(SmartSens，股票代码688213)，在良率数据管理分析业务领域达成合作一周年。过去一年，广立微DE-YMS系统在良率提升及良率数据管理分析领域为思特威提供助力，在其消费电子及汽车电子控等多产品线中，深度赋能其良率管控体系，实现显著加速工艺优化周期，推动良率从量产初期快速爬升至目标水平。

DE-YMS半导体全流程数据分析

DE-YMS 系统：wafer 分区分析

DE-YMS系统的zonal analysis模块为思特威工程师提供了快速在wafer上分区域分析，支持多种灵活的分区管理，其结果也是秒级刷新，尤其是在 4-cut PH process for process window check，need check 4 cut CP variation场景下，为用户提供了强大的分析工具。

DE-G 通用半导体数据分析

DE-G 搭建 Die to Die 分析模板

思特威工程师利用DE-G自主搭建了Die to Die分析模板，通过执行新机校准流程，利用标准晶圆(Golden Wafer)采集新旧测试机测试数据集，基于标准化分析模板验证数据分布的一致性及统计显著性差异，建立客观评估体系以规避人为主观判断偏差。

1、相同Die相同测试项的精细化对比分析

2、多参数多准则的跨机台测试的协同验证

3、通过多机台交叉测试同一晶圆的Bin的结果对比

用户反馈

DE-G 灵活的模板设计为多种场合的数据分析处理提供了便利，用户可以根据实际需求定制模板;YMS dashboard则能轻松实现长期/大批量的数据监测，二者搭配使用显著提升了我们的工作效率。

——From 思特威产品工程师

广立微的系统化解决方案将与思特威的像素创新技术紧密合作，助力其高端产品良率提升、降低边际制造成本;同时，思特威的海量生产数据反哺也将推动广立微的AI分析引擎持续进化。

双向赋能的合作，不仅为双方创造技术突破与商业增长的双赢空间，更将加速国产CIS产业链升级，为全球半导体竞争格局注入新动能。

关于思特威

思特威(上海)电子科技股份有限公司是一家从事CMOS图像传感器芯片产品研发、设计和销售的高新技术企业，总部设立于中国上海，在多个城市及国家设有研发中心。

自成立以来，思特威始终专注于高端成像技术的创新与研发，凭借自身性能优势得到了众多客户的认可和青睐。作为致力于提供多场景应用、全性能覆盖的CMOS图像传感器产品企业，公司产品已覆盖了智能手机、智能车载电子、机器视觉等多场景应用领域的全性能需求。

思特威将秉持“以前沿智能成像技术，让人们更好地看到和认知世界”的愿景，以客户需求为核心动力，持续推动前沿成像技术升级，拓展产品应用领域，与合作伙伴一起助推未来智能影像技术的深化发展。