晶振可靠性测试的冷热冲击试验

可靠性测试对高品质晶振至关重要，用于评估晶振在不同工作环境和极端条件下的性能，包括温度变化、湿度、振动等。确保晶振在实际使用中的长期稳定性和可靠性，以及在各种复杂环境下依然能够提供准确、稳定的时钟信号。

今天凯擎小妹给大家讲一下“可靠性”测试中的”冷热冲击”试验：

试验目的

评估晶振在极端温度变化环境下的稳定性和可靠性。模拟晶振在实际使用中可能会遇到的温度变化情况，确保它能够在不同的温度极端条件下保持其性能。可参考标准：MIL-STD- 883E- 1011.9B。

试验说明

低温：-55±5°C

高温：125±5°C

循环次数：100次

高低温度保持时间：5 min

高低温切换时间：5sec

实验结束后24土 2 Hrs进行电性能测试。

本试验对晶振的影响

晶体谐振器频率降低2.5ppm左右(5max)，谐振阻抗增大3Ω左右(5max) or ±10%

晶体振荡器频率降低3ppm左右(5max)

KOAN 晶振

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审核编辑：黄飞