CMM三坐标测量仪的检测技术

三本精密仪器小编介绍蔡司早在1973年推出了世界第一台全自动运行的CMM三坐标测量仪。在这之后，蔡司便迅速推出了第一款扫描测头。随后的几年，我们不断地提高测量技术以及测量方法。随着主动扫描和VAST navigator领航者技术以及FlyScan飞翔扫描技术等广泛的应用，蔡司确立了其坐标测量技术创新领航者的位置。

众所周知，在实际生产中，产品的精度要求越高，对检测设备的精度和灵活性的要求也会越高。三本精密仪器小编介绍高精度的扫描方式可以精准地捕获工件真实的轮廓，这也为对加工过程进行追溯提供可能。

独特的蔡司技术—主动式扫描

与被动扫描探头不同，主动扫描可用于测量未知轮廓。并且在扫描前不需要将轮廓进行数字化，因此，主动扫描也被允许逆向操作。

相较于大多数厂家选择的被动式扫描系统，蔡司则采用主动式扫描测头。例如蔡司的VAST XT gold测头可连续测量测针挠度，主动在材料的法线方向施加一个恒定低电子测力。比如，使测针沿桥架加速的方向移动。这排除了测力的影响，保持小的恒定测力可以使测量结果更加精准。

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